耐壓測(cè)試不僅可以檢驗(yàn)電源模塊、電器設(shè)備等承受過(guò)壓的能力，而且還可以檢測(cè)設(shè)備的絕緣性能。在電氣設(shè)備的使用過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)電壓突然上升的情況，并且長(zhǎng)期使用設(shè)備會(huì)老化，絕緣能力會(huì)減弱，容易造成危險(xiǎn)。因此耐壓測(cè)試是電源模塊測(cè)試的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。

電源模塊耐壓測(cè)試的原理是什么？

給被測(cè)設(shè)備絕緣體施加一個(gè)高于正常工作的電壓，持續(xù)一段規(guī)定的時(shí)間，如果其絕緣性能足夠好，那么加在上面的電壓只會(huì)產(chǎn)生很小的漏電流。如果在規(guī)定時(shí)間內(nèi)，其漏電流保持在規(guī)定范圍內(nèi)，那么這個(gè)被測(cè)設(shè)備就可以在正常的運(yùn)行條件下安全運(yùn)行。

電源模塊耐壓測(cè)試的方法

測(cè)試設(shè)備：交流電源、電子負(fù)載、功率表、高壓測(cè)試儀

測(cè)試條件：依SPEC.要求：耐壓值(4242Vdc / 3000Vac)、操作時(shí)間(1 minute)和 CUT OFF CURRENT(3.5mA) 值

具體測(cè)試方法如下：

1.依SPEC.設(shè)定好耐壓 WITHSTANDING VOLTAGE，操作時(shí)間 TIME，CUT OFF CURRENT值

2.將待測(cè)品與耐壓測(cè)試儀依要求連接，進(jìn)行耐壓測(cè)試，觀察是否有產(chǎn)生電弧 ARCING，及漏電流CUT OFF CURRENT 是否過(guò)大

3.耐壓測(cè)試后，確認(rèn)待測(cè)品輸入功率與輸出電壓是否正常

注意事項(xiàng)：

1.測(cè)試前應(yīng)先設(shè)定好耐壓測(cè)試儀的測(cè)試條件，待測(cè)品的輸入與輸出分別應(yīng)與測(cè)試儀接觸良好

2.耐壓的規(guī)格值設(shè)定參考安規(guī)要求

ATECLOUD-POWER電源測(cè)試系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)

ATECLOUD-POWER電源模塊測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試絕緣耐壓的優(yōu)勢(shì)

納米軟件電源模塊測(cè)試系統(tǒng)是一款0代碼開(kāi)發(fā)、指令封裝的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單，容易上手，并且權(quán)限管理功能可以針對(duì)不同管理層進(jìn)行數(shù)據(jù)隔離，使測(cè)試數(shù)據(jù)更有保障。

1. 無(wú)編程模式，操作簡(jiǎn)單，可以快速搭建好測(cè)試流程。項(xiàng)目搭建好后，在該系統(tǒng)中新增方案，在運(yùn)行界面便可一鍵運(yùn)行，進(jìn)行測(cè)試。

2. 數(shù)據(jù)洞察功能支持測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行多樣化圖表展示，數(shù)據(jù)直觀可見(jiàn)，進(jìn)行多維度智能分析。

3. 用戶可以自定義數(shù)據(jù)報(bào)告，選擇word或著excel格式導(dǎo)出數(shù)據(jù)報(bào)告，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行查看。

4. 該系統(tǒng)兼容性強(qiáng)，內(nèi)含2000+儀器型號(hào)，用戶可自由選擇對(duì)應(yīng)的儀器型號(hào);58+測(cè)試項(xiàng)目，并且項(xiàng)目可擴(kuò)展。

5. 批量測(cè)試功能可幫助用戶提高測(cè)試速度和效率，大大縮短測(cè)試時(shí)間和周期。

6. 電源模塊測(cè)試系統(tǒng)可遠(yuǎn)程控制，移動(dòng)端可以隨時(shí)查看測(cè)試情況，監(jiān)控測(cè)試進(jìn)程。