ATE(Auto Test Equipment) 在測試工廠完成. 大致是給芯片的輸入管道施加所需的激勵信號，同時監(jiān)測芯片的輸出管腳，看其輸出信號是否是預期的值。有特定的測試平臺。

SLT(System Level Test) 也是在測試工廠完成，與ATE一起稱之為Final Test. SLT位于ATE后面，執(zhí)行系統(tǒng)軟件程序，測試芯片各個模塊的功能是否正常。

EVB(Evaluation Board) 開發(fā)板：軟件/驅(qū)動開發(fā)人員使用EVB開發(fā)板驗證芯片的正確性，進行軟件應用開發(fā)。

ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡介

ATE/ATS :自動測試設備/自動測試系統(tǒng)，也稱測試機是測試工程師在IC測試中必須使用的工具，本文主要從技術層面對ATE/ATS的組成及軟硬件及其接口要求進行了簡明扼要的論述，以便測試工程師了解、掌握。

通常將在計算機控制下，能自動進行各種信號測量、數(shù)據(jù)處理、傳輸，并以適當方式顯示或輸出測試結(jié)果的系統(tǒng)稱為自動測試系統(tǒng)，簡稱ATS（Automated Test System），這種技術我們稱之為自動測試技術。

在自動測試系統(tǒng)中，整個工作都是在預先編制好的測試程序統(tǒng)一指揮下完成的，系統(tǒng)中的各種儀器和設備是智能化的，都可進行程序控制。

自動測試系統(tǒng)（ATS）是一個不斷發(fā)展的概念，隨著各種高新技術在檢測領域的運用，它不斷被賦予各種新的內(nèi)容和組織形式。自動測試技術創(chuàng)始于20世紀50年代，從20世紀50年代至21世紀的今天，大致分為以下三代。

第一代自動測試系統(tǒng)是根據(jù)測量任務專門設計的 ，主要用計算機技術來進行邏輯定時控制，主要動能是進行數(shù)據(jù)自動采集和自動分析，完成大量重復數(shù)據(jù)的測試工作，承擔繁重的數(shù)據(jù)運算和分析任務。 系統(tǒng)中的儀器采用專用接口 ，因此系統(tǒng)較為復雜，通用性差，不利于自動測試系統(tǒng)的推廣應用。

第 二代自動測試系統(tǒng)是盡可能利用現(xiàn)成的儀器設備，再利用計算機來共同組建成所需要的自動測試系統(tǒng) 。為了系統(tǒng)組建方便， 第二代自動測試系統(tǒng)中的儀器采用了標準化的通用接口，這樣就可以把任何一個廠家生產(chǎn)的任何型號的可程控儀器連接起來形成一個自動測試系統(tǒng) 。第二代自動測試系統(tǒng)示意圖如圖9-1所示。系統(tǒng)的典型方框圖9-2所示。

圖中表明，當前的自動檢測系統(tǒng)，通常包括以下幾個部分。

• （1）控制器
• （2）激勵信號源
• （3）測量儀器
• （4）開關系統(tǒng)
• （5）適配器
• （6）人機接口
• （7）檢測程序
• 第三代自動測試系統(tǒng) 大體說來，它也是由微型計算機、通用硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)三部分組成。但是，第三代自動測試系統(tǒng)主要體現(xiàn) 以軟件控制、以功能組合方式實現(xiàn)的合成儀器自動測試技術 ，以高速A/D、D/A和DSP芯片為基礎組成通用測試儀器硬件系統(tǒng)（即通用硬件部分，結(jié)構(gòu)如圖9-3所示）， 而測試/測量任務的實現(xiàn)以及系統(tǒng)升級完全依靠軟件來實現(xiàn)（即軟件系統(tǒng)部分，如圖9-4所示） 。

通用測試系統(tǒng)架構(gòu)

通用化自動測試系統(tǒng)（ATS）主要由圖1所示的三個部分組成：

• 主控計算機、 其中“主控計算機”中的軟件主要包括操作系統(tǒng)、編譯器、測試執(zhí)行程序（TP）。
• 總線儀器測控組合、 “總線儀器測控組合”中主要包括模塊化測試測量儀器、各類控制開關、通訊總線等。
• 信號調(diào)理與轉(zhuǎn)接裝置。 “信號調(diào)理與轉(zhuǎn)接裝置”主要包括各類測量與激勵控制信號的轉(zhuǎn)接與適配。

主控計算機及系統(tǒng)軟件提供TP的開發(fā)與運行環(huán)境，并通過控制總線控制測試測量儀器完成TP的執(zhí)行、取回測試數(shù)據(jù)，生成測試報表。

值得一提的是，作為通用化的測試系統(tǒng)應該具有一個開放式的結(jié)構(gòu)，系統(tǒng)軟、硬件各組成部分均進行模塊化分割，各模塊之間應該是通過標準接口（或協(xié)議）相互聯(lián)系。

為了保證系統(tǒng)的靈活性，同時充分發(fā)揮設計人員的創(chuàng)造力，只需從接口上對開放式系統(tǒng)進行定義，而不需要定義各模塊的內(nèi)部具體實現(xiàn)，同時還要考慮到系統(tǒng)功能的可擴充性和技術的可升級性。

因此，作為通用測試系統(tǒng)兩大重要組成部分的硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)均需要具備靈活、開放的體系結(jié)構(gòu)與接口設計。

通用測試系統(tǒng)硬件架構(gòu)

通用測試系統(tǒng)硬件設計的關鍵在于UUT接口的標準化設計，UUT接口標準化的目的在于提供一種能夠在多個UUT之間方便轉(zhuǎn)換的硬件連接結(jié)構(gòu)。

這種結(jié)構(gòu)通過對機械連接機構(gòu)、接插件和連接器的標準化規(guī)定提供了可工作于寬頻帶信號范圍內(nèi)的接口連接方式。

為采用VME總線、VXI總線、PCI總線、PXI總線儀器的通用測試系統(tǒng)提供了標準化（IEEE P1505轉(zhuǎn)接裝置接口(RFI)系統(tǒng)標準）的有力支撐。

圖2是通用化硬件組成及接口原理示意框圖。其中：開關矩陣(SWM)接口和ATS轉(zhuǎn)接裝置(RFX)接口是ATS的重要組成部分，因為ATS儀器和UUT是通過SWM來連接的，大多數(shù)的激勵和測量信號是通過RFX作用到UUT上的。

標準RFX接口限制了不同類型信號在接收器的不同位置上出現(xiàn)，SWM可實現(xiàn)多種儀器與由標準RFX接口所確定的多功能終端的連接。SWM接口與RFX的標準化提高了互操作性，并降低了重組費用，可以確保測試UUT所需要ATS儀器能被切換到轉(zhuǎn)接裝置所需要的任何管腳。

通用測試系統(tǒng)軟件架構(gòu)

自動測試系統(tǒng)的軟件是TPS的重要組成部分，直接影響通用測試系統(tǒng)的性能和效率。自動測試軟件結(jié)構(gòu)也有相應的標準。如圖3所示，開放式ATS體系結(jié)構(gòu)中包含了多種標準的開放式軟件接口關系。

IEEE 1226中的測試基礎框架（TFF）定義了開發(fā)和執(zhí)行測試程序和測試流程的一系列接口，軟件功能模塊通過這些接口實現(xiàn)信息交換，這些帶有標準接口的功能模塊組成了測試基礎框架。

但是標準并沒有定義這些模塊的實現(xiàn)，留給開發(fā)者很大的自由度，使之可以用C/C++或ATLAS等語言實現(xiàn)TFF。

在科學技術高度發(fā)展的今天，測試工作處于各種現(xiàn)代裝備系統(tǒng)設計和制造的首位，是保證現(xiàn)代裝備系統(tǒng)實際性能指標的重要手段。

代表著測試技術與儀器行業(yè)最高水平的通用ATE(自動測試設備) /ATS(自動測試系統(tǒng)) 技術 ，以商業(yè)成品設備和技術(Commercial Off The Shelf)為依托，采用開放的工業(yè)標準、低廉的設備價格、有效的技術支持和最新技術的商業(yè)產(chǎn)品和技術，在電子設備的生產(chǎn)與制造行業(yè)成為降低生產(chǎn)成本、提高生產(chǎn)效率的重要手段。