過(guò)壓保護(hù)的原理

過(guò)壓保護(hù)是電壓超過(guò)預(yù)定值時(shí)降低電壓的一種方式，原理是通過(guò)電路中的電壓檢測(cè)電路來(lái)檢測(cè)電路中的電壓是否超過(guò)了設(shè)定的閾值，如果超過(guò)了閾值，就會(huì)觸發(fā)過(guò)壓保護(hù)器件，使電源斷開(kāi)或使受控設(shè)備電壓降低，保護(hù)電路。過(guò)壓保護(hù)的閾值通常根據(jù)電路設(shè)計(jì)的需求來(lái)設(shè)定，一般閾值設(shè)定在電路的最大額定電壓之上。

開(kāi)關(guān)電源過(guò)壓保護(hù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

過(guò)壓保護(hù)測(cè)試是為了檢測(cè)開(kāi)關(guān)電源輸出電壓過(guò)高時(shí)是否正常保護(hù)，保護(hù)點(diǎn)是否在規(guī)格要求內(nèi)，以及是否會(huì)對(duì)開(kāi)關(guān)電源造成損傷。通常規(guī)定：

Vout<12V，過(guò)壓保護(hù)點(diǎn)為1.8倍輸出電壓

Vout≥12V，過(guò)壓保護(hù)點(diǎn)為1.5倍輸出電壓

開(kāi)關(guān)電源過(guò)壓保護(hù)測(cè)試方法

測(cè)試開(kāi)關(guān)電源過(guò)壓保護(hù)前，需要準(zhǔn)備好測(cè)試設(shè)備：交流電源、電子負(fù)載、示波器以及直流電源。按照規(guī)定設(shè)置好輸入電壓和負(fù)載值，開(kāi)始測(cè)試。

1.測(cè)試方法一：拿掉待測(cè)品回授FEEDBACK，找出過(guò)壓保護(hù)點(diǎn)

2.測(cè)試方法二：外加一個(gè)可變電壓于操作待測(cè)品的輸出，緩慢增大電壓值，找出過(guò)壓保護(hù)點(diǎn)

3.示波器CH1接到OVP偵測(cè)點(diǎn)，測(cè)量其電壓之變化

4.CH2接到其它一組輸出電壓，作為示波器的TRIGGER SOURCE

5.TRIGGER SLOPE設(shè)定為“-”，TRIGGER MODE設(shè)定為“NORMAL”

過(guò)壓保護(hù)測(cè)試

如何用ATECLOUD測(cè)試開(kāi)關(guān)電源過(guò)壓保護(hù)？

過(guò)壓保護(hù)測(cè)試是開(kāi)關(guān)電源安全保護(hù)測(cè)試項(xiàng)目之一，確保電路電壓過(guò)高時(shí)可以及時(shí)保護(hù)電路和設(shè)備不受損壞。開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)采用先進(jìn)技術(shù)，提升和改善了測(cè)試方法，幫助用戶解決測(cè)試問(wèn)題，滿足測(cè)試需求。用開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試過(guò)壓保護(hù)的步驟如下：

1.準(zhǔn)備所需的測(cè)試設(shè)備，如測(cè)試夾具、LAN通訊總線等，連接測(cè)試設(shè)備、待測(cè)品、以及ATEBOX(中轉(zhuǎn)計(jì)算)

2.登錄ATECLOUD

3.選擇對(duì)應(yīng)儀器型號(hào)，根據(jù)開(kāi)關(guān)電源過(guò)壓保護(hù)測(cè)試需求，創(chuàng)建相應(yīng)的測(cè)試方案，配置測(cè)試參數(shù)，完成后開(kāi)始運(yùn)行。

4.測(cè)試完成后，ATECLOUD會(huì)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析，可以生成相應(yīng)的數(shù)據(jù)報(bào)告和圖表，以便更好地評(píng)估開(kāi)關(guān)電源的過(guò)壓保護(hù)。數(shù)據(jù)報(bào)告也可以導(dǎo)出，支持word和excel格式。

ATECLOUD優(yōu)勢(shì)

ATECLOUD不僅可以實(shí)現(xiàn)快速測(cè)試、簡(jiǎn)化測(cè)試程序、保證測(cè)試準(zhǔn)確性，還可以幫助用戶進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄、數(shù)據(jù)分析，查看歷史測(cè)試數(shù)據(jù)情況，方便對(duì)比分析問(wèn)題，為設(shè)計(jì)和生產(chǎn)提供支撐。