被檢光學(xué)表面相對(duì)于參考光學(xué)表面的偏差稱面形偏差。
面形偏差是在圓形檢驗(yàn)范圍內(nèi),通過(guò)垂直位置所觀察到的干涉條紋(通稱光圈)的數(shù)目、形狀、變化和顏色來(lái)確定的。
編輯:黃飛
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原文標(biāo)題:【光電集成】光學(xué)零件的面形偏差 檢驗(yàn)方法(光圈識(shí)別)
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