一方面，醫(yī)療技術(shù)行業(yè)本身受到嚴(yán)格的監(jiān)管要求。另一方面，很多醫(yī)療產(chǎn)品會(huì)直接影響人們的生活和健康。因此，醫(yī)療技術(shù)行業(yè)離不開可靠的質(zhì)量保證體系的支持。所有步驟都必須經(jīng)過驗(yàn)證，并確保無縫產(chǎn)品可追溯性。蔡司醫(yī)療行業(yè)質(zhì)量解決方案幫助該行業(yè)以更高的效率克服醫(yī)療行業(yè)面臨的挑戰(zhàn)。

醫(yī)用橡塑制品的質(zhì)量控制

在從骨科到醫(yī)用橡塑的所有醫(yī)療領(lǐng)域，蔡司醫(yī)療行業(yè)解決方案的質(zhì)量保證理念是基于整個(gè)價(jià)值鏈上硬件和軟件之間的無縫交互。當(dāng)涉及到吸入器、注射筆和注射器等醫(yī)用塑料時(shí)，質(zhì)量保證要求特別高，因?yàn)樗鼈冇糜趯⑺幬锘衔镙斔偷襟w內(nèi)。由于這些醫(yī)用橡膠和塑料產(chǎn)品包含多種材料、機(jī)械功能部件，甚至可能包含電子元件，因此它們通常表現(xiàn)出質(zhì)量保證的復(fù)雜性。

提高效率：每個(gè)部件和功能的測(cè)量速度可提高30%。

由于醫(yī)用橡膠和塑料制品的生產(chǎn)量非常大，檢測(cè)過程中的一個(gè)關(guān)鍵挑戰(zhàn)是通過更快的測(cè)量來提高效率。蔡司O-INSPECT復(fù)合測(cè)量機(jī)通過編程掃描特征和單點(diǎn)特征以及蔡司CALYPSO軟件來控制醫(yī)用橡膠和塑料制品的測(cè)量任務(wù)。得益于ZEISS CALYPSO VAST新檢測(cè)技術(shù)，接觸式測(cè)量時(shí)間和光學(xué)測(cè)量時(shí)間減少了30%。

由于這種新的探測(cè)技術(shù)可以在測(cè)量程序編輯器中被組件以及各組件的各個(gè)測(cè)量元素激活，因此在檢測(cè)數(shù)百個(gè)組件和每個(gè)組件上要測(cè)量的多個(gè)特征時(shí)，這30%的節(jié)省時(shí)間會(huì)被疊加

ZEISS CALYPSO托盤優(yōu)化軟件是另一種節(jié)省時(shí)間的方法，它將測(cè)量分為接觸式測(cè)量和光學(xué)測(cè)量。這最大限度地減少了更換觸針系統(tǒng)所花費(fèi)的時(shí)間，將托盤測(cè)量的速度提高了20%—30%。

蔡司O-INSPECT的優(yōu)勢(shì)

?寬視場(chǎng)和高圖像清晰度

?快速、準(zhǔn)確的三維接觸測(cè)量

?敏感表面的光學(xué)測(cè)量

?使用蔡司CALYPSO進(jìn)行高度自動(dòng)化加工

?測(cè)量的每個(gè)特性都符合ISO 10360標(biāo)準(zhǔn)

從原材料到成品部件

關(guān)節(jié)、脊柱或牙科植入物以及接骨板和螺釘有許多不同的產(chǎn)品形狀，但這些部件的制造工藝大多相似。價(jià)值鏈上重要的質(zhì)量控制步驟是必要的，如原材料和未加工部件的分析評(píng)估、來料檢驗(yàn)、過程控制、幾何和形位公差測(cè)量以及表面分析。ZEISS產(chǎn)品組合為整個(gè)生產(chǎn)過程中的每個(gè)質(zhì)量檢查點(diǎn)提供高效的硬件和軟件解決方案。

醫(yī)用橡塑制品的CT分析內(nèi)部和外部的視覺掃描

工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)解決方案ZEISS METROTOM 1無需施加任何力即可一次掃描多個(gè)組件，確保顯著節(jié)省時(shí)間并簡(jiǎn)化夾具。與自動(dòng)計(jì)算掃描參數(shù)的跨平臺(tái)軟件ZEISS INSPECT X-Ray配合使用，即使是沒有經(jīng)驗(yàn)的用戶，也能實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單的自動(dòng)化一次性掃描和分析評(píng)估。該解決方案涵蓋了從首件檢測(cè)開始的整個(gè)生產(chǎn)過程。掃描結(jié)果：提供詳細(xì)的零件數(shù)據(jù)，甚至允許對(duì)內(nèi)部幾何形狀進(jìn)行綜合分析，包括幾何尺寸和公差(GD&T)、材料缺陷和壁厚。

作為一種無損技術(shù)，CT可以看到成品部件內(nèi)部并檢查整個(gè)組件。使用可視化軟件ZEISS INSPECT X-Ray，它與所有標(biāo)準(zhǔn)體積數(shù)據(jù)兼容，制造商可以快速檢測(cè)和分析隱藏的缺陷。以吸入器為例，可以檢測(cè)齒輪聯(lián)鎖和機(jī)械功能是否正常。

蔡司Metrotom 1的優(yōu)勢(shì)

?易于操作——從數(shù)據(jù)收集到分析和評(píng)估

?完整的部件分析(幾何形狀、空隙或內(nèi)部結(jié)構(gòu))

?蔡司INSPECT X射線斷層圖像的無損生成

?快速的投資回報(bào)率

?占地面積小

審核編輯 黃宇