杭州季豐電子ESD測試業(yè)務(wù)一直深受客戶的信任和好評，實驗室近期又對Thermo Celestron TLP（Standard TLP）測試系統(tǒng)進行了升級。Celestron TLP測試系統(tǒng)是業(yè)界極為全面的TLP測試系統(tǒng)，它利用圖形來輔助系統(tǒng)設(shè)置和與DUT的連接。

在檢測運行期間，系統(tǒng)可顯示記錄的TLP脈沖電壓和電流波形、編制的脈沖 I-V 曲線、泄漏電流測量結(jié)果以及DC I-V 曲線追蹤數(shù)據(jù)?？蛇x擇測試電壓（應(yīng)力脈沖）的范圍、脈沖極性、漏電及曲線追蹤參數(shù)，也可在采集數(shù)據(jù)后選擇和修改TLP脈沖測量窗口的位置和持續(xù)時間。

此次升級增加了10ns和1ns的脈沖上升沿濾波器模塊，加上原來的2ns，基本滿足Standard TLP測試要求，使得杭州季豐ESD業(yè)務(wù)能力更全、更快、更好地服務(wù)于杭州本地及周邊客戶。

什么是TLP?

TLP是Transmission Line Pulse，傳輸線脈沖發(fā)生器，是一種集成電路靜電放電防護技術(shù)的研究測試手段。與傳統(tǒng)的HBM、MM、CDM、IEC模型不同，傳輸線脈沖發(fā)生器發(fā)出的是靜電模擬方波，而傳統(tǒng)模式發(fā)出的則是RC-LC模式的脈沖波形，與之相對應(yīng)的，傳統(tǒng)的HBM等波形更直接地模擬了現(xiàn)實中的某種靜電形式，而TLP通過調(diào)節(jié)上升沿和脈沖寬度，間接地模擬了這些靜電脈沖形式的損傷能力和不同上升沿CLAMP觸發(fā)能力。

由于使用了方波，TLP可以通過每次施加一個脈沖，獲得一個I-V點的方式，一直施加不同幅值的電流直到測量泄露電流（Leakage）判定失效為止，即可獲得完整的器件在ESD過程中的I-V曲線，而這種曲線，則可以用于集成電路ESD防護設(shè)計的仿真，達(dá)到集成電路ESD防護結(jié)構(gòu)設(shè)計目的。

TLP一般用于驗證器件Device 特性，通常不考慮Whole Chip之ESD特性，廣泛用于IP設(shè)計公司，例如Foundry廠，其無法預(yù)知到其IP用于何處，只能針對Testing Chip做TLP仿真驗證；其測試需要手動搭建，只能針對性驗證特定架構(gòu)，無法做Whole chip測試。

Celestron TLP的簡易模型：

如何解讀Celestron TLP測試結(jié)果曲線：

以常見的NMOS測得的TLP曲線為列，其TLP曲線可以理解為如下圖所示，通過TLP的曲線得到的信息可以方便的為ESD保護管的設(shè)計和選型提供參考。

Celestron TLP其他具體優(yōu)勢如下：

·硅片和封裝級TLP測試

·符合ANSI STM5.5.1-2016的TLP測試標(biāo)準(zhǔn)

·高電流 TLP 脈沖發(fā)生器

·集成式+/-200V電源/儀表單元

·可與半自動探針臺連接

·先進、直觀的軟件用于控制和生成報告

·占用空間較小的工作臺

審核編輯：湯梓紅