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12月22日|泰克云上大講堂—薄膜材料電阻率與霍爾遷移率測(cè)試詳解

泰克科技 ? 來(lái)源:未知 ? 2023-12-19 11:40 ? 次閱讀
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膜作為一種重要的材料形態(tài),在各個(gè)領(lǐng)域中都有著廣泛的應(yīng)用。在電子器件方面,薄膜被廣泛應(yīng)用于集成電路、顯示器件、太陽(yáng)能電池等領(lǐng)域。薄膜提供了更高的集成度和靈活性,使得電子器件在體積和性能上都有了顯著的提升。

薄膜未來(lái)發(fā)展也具有廣闊的前景。首先,納米薄膜在材料研究和應(yīng)用中扮演著重要角色。納米級(jí)薄膜能夠充分利用尺寸效應(yīng)和界面效應(yīng),具有優(yōu)異的物理和化學(xué)性能,因此在光電器件、傳感器、儲(chǔ)能器件等方面有著廣泛的應(yīng)用前景。其次,功能化薄膜的發(fā)展是薄膜研究的一個(gè)重要方向。

泰克公司在材料測(cè)試方面有很強(qiáng)的技術(shù)能力,本次直播將著重介紹材料電阻的兩線四線測(cè)試,材料電阻率計(jì)算,范德堡測(cè)試法測(cè)試薄膜電阻率,磁性薄膜材料的霍爾效應(yīng),進(jìn)而幫助您進(jìn)行薄膜材料的電性能測(cè)試。

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本期直播預(yù)告

本期云上大講堂,將由泰克應(yīng)用工程師 劉建章為大家?guī)?lái):

薄膜材料的應(yīng)用

薄膜材料電阻率測(cè)試挑戰(zhàn)及方案

范德堡測(cè)試法講解

霍爾效應(yīng)測(cè)試講解

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2023年12月22號(hào)(周五)1445

1400

薄膜材料電阻率與霍爾遷移率測(cè)試

1530

互動(dòng)答疑

1545

搶答有獎(jiǎng)

講師介紹

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劉建章

泰克應(yīng)用工程師

泰克科技(中國(guó))有限公司的應(yīng)用工程師,主要負(fù)責(zé)西北區(qū)域的技術(shù)支持工作。多年以來(lái)一直在從事系統(tǒng)集成及測(cè)試測(cè)量相關(guān)工作,積累了豐富的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)流程及測(cè)試經(jīng)驗(yàn)。目前主攻方向包括半導(dǎo)體分立器件測(cè)試、晶圓可靠性測(cè)試、晶圓自動(dòng)化測(cè)試等。

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郵箱:china.mktg@tektronix.com

網(wǎng)址:tek.com.cn

電話:400-820-5835(周一至周五900)

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我們提供專業(yè)的測(cè)量洞見(jiàn)信息,旨在幫助您提高績(jī)效以及將各種可能性轉(zhuǎn)化為現(xiàn)實(shí)。
泰克設(shè)計(jì)和制造能夠幫助您測(cè)試和測(cè)量各種解決方案,從而突破復(fù)雜性的層層壁壘,加快您的全局創(chuàng)新步伐。我們攜手共進(jìn),一定能夠幫助各級(jí)工程師更方便、更快速、更準(zhǔn)確地創(chuàng)造和實(shí)現(xiàn)技術(shù)進(jìn)步。

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