一区二区三区三上|欧美在线视频五区|国产午夜无码在线观看视频|亚洲国产裸体网站|无码成年人影视|亚洲AV亚洲AV|成人开心激情五月|欧美性爱内射视频|超碰人人干人人上|一区二区无码三区亚洲人区久久精品

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

鋁質(zhì)焊盤(pán)的鍵合工藝

半導(dǎo)體封裝工程師之家 ? 來(lái)源:半導(dǎo)體封裝工程師之家 ? 作者:半導(dǎo)體封裝工程師 ? 2024-02-02 16:51 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

共讀好書(shū)

姚友誼 吳琪 陽(yáng)微 胡蓉 姚遠(yuǎn)建

(成都西科微波通訊有限公司)

摘要:

從鋁質(zhì)焊盤(pán)鍵合后易發(fā)生欠鍵合和過(guò)鍵合的故障現(xiàn)象著手,就鋁焊盤(pán)上幾種常見(jiàn)鍵合方式進(jìn)行了探討,得出鍵合的優(yōu)先級(jí)為硅鋁絲超聲楔形鍵合、金絲熱聲球形鍵合、金絲熱壓楔形鍵合。對(duì)層狀結(jié)構(gòu)的焊盤(pán)在熱聲和熱壓鍵合的應(yīng)力仿真對(duì)比分析,得出鍵合各因素的重要性排序?yàn)槌暪β?、鍵合壓力、襯底加熱溫度和劈刀溫度。通過(guò)正交試驗(yàn)設(shè)計(jì),找到鋁焊盤(pán)上較為適宜的鍵合方式及參數(shù)范圍,可大幅減小鋁焊盤(pán)鍵合后失鋁現(xiàn)象的發(fā)生。同時(shí),對(duì)于鍍金小焊盤(pán)的鍵合,也可參考本方法來(lái)解決焊盤(pán)起層的問(wèn)題。

0 引言

引線鍵合是半導(dǎo)體集成電路封裝中被廣泛應(yīng)用的一種互聯(lián)工藝,引線鍵合的質(zhì)量直接影響電子電路的穩(wěn)定性和可靠性。內(nèi)引線材料主要有金絲、硅鋁絲、銅絲,一般軍品主要采用機(jī)械強(qiáng)度高、結(jié)合性好及物理性能穩(wěn)定的金絲,大功率器件和民品由于成本等原因主要采用摻雜硅的鋁絲 [1-2] 。目前,國(guó)內(nèi)集成電路芯片焊盤(pán)金屬化層基本上是鋁金屬層 [3] 。不同用戶在鋁焊盤(pán)上的引線互聯(lián)應(yīng)用有三種主要的方式:硅鋁絲楔焊、金絲球焊、金絲楔焊。本文從鋁焊盤(pán)上內(nèi)引線鍵合工藝方式出發(fā),結(jié)合焊盤(pán)的結(jié)構(gòu),對(duì)上述鍵合方式分別進(jìn)行了探討。

1 機(jī)理分析

1.1 鍵合類別

在多芯片組件裝配過(guò)程中,內(nèi)引線鍵合工藝按照工作原理可分為熱壓鍵合、超聲鍵合及熱超聲鍵合,三種鍵合方式的區(qū)別主要在于鍵合能量方式不同,熱振動(dòng)、機(jī)械振動(dòng),或是兩者結(jié)合 [4] 。

1.2 鋁焊盤(pán)結(jié)構(gòu)

通常鋁焊盤(pán)的結(jié)構(gòu)依據(jù)芯片生產(chǎn)廠家的制備工藝方式不同略有不同,一種為Al/TiN/Ti/Si內(nèi)部填充W柱的立體結(jié)構(gòu),另一種為Al/MoSi 2 /BPSG(Borophosphorosilicate Glass,硼硅酸鹽玻璃)/SiO 2 /Si的層狀結(jié)構(gòu),后者焊盤(pán)結(jié)構(gòu)在鍵合時(shí)較為容易產(chǎn)生失鋁的故障 [5-6] 。兩種不同結(jié)構(gòu)的焊盤(pán)楔形鍵合后示意圖如圖1所示,焊盤(pán)結(jié)構(gòu)如圖2所示,焊盤(pán)材料及厚度見(jiàn)表1。

4bb2fd00-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

4bc60e68-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

4bd9fe64-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

1.3 鍵合方式

1.3.1 硅鋁絲楔焊

硅鋁絲鍵合屬于超聲鍵合類別,即被鍵合件與鍵合引線均不需要加熱,采用超聲和壓力共用作用下完成的一種內(nèi)引線鍵合。由于微波組件內(nèi)使用不同種類的芯片,其焊盤(pán)材質(zhì)的特點(diǎn)也不盡相同,當(dāng)芯片的焊盤(pán)材質(zhì)為鋁時(shí),必然會(huì)存在兩種狀態(tài)(鋁-鋁系統(tǒng)和鋁-金系統(tǒng))。有研究證明:在鍵合金屬系統(tǒng)中,鋁-鋁系統(tǒng)特別可靠,無(wú)金屬件化合物和界面

腐蝕的問(wèn)題。在鋁焊盤(pán)芯片的鍵合互連中采用硅鋁絲是具有一定優(yōu)勢(shì)的,尤其是針對(duì)大功率高散熱、特殊使用環(huán)境和高可靠要求的情況。

芯片廠商在制作鋁金屬化層時(shí),采用的工藝不同,鋁金屬層與其底層的黏附性能就會(huì)有差別,這就出現(xiàn)了有些工藝制作電路的鋁金屬化層在硅鋁絲超聲楔焊時(shí)容易出現(xiàn)失鋁的現(xiàn)象,如圖3所示。

4bf10456-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

1.3.2 金絲球焊

金絲球焊鍵合的優(yōu)點(diǎn)是鍵合速度快,從球的任意角度可以進(jìn)行鍵合,即第二鍵合點(diǎn)位置可以在第一鍵合點(diǎn)的任意方向。同時(shí),金絲球焊對(duì)焊盤(pán)的沖擊作用較小。對(duì)熱超聲金絲球焊的研究表明 [7-8] :開(kāi)始鍵合階段,彈性鍵合金球在瓷嘴的垂直位移作用下與焊盤(pán)開(kāi)始接觸,瓷嘴尖端的金球在壓力下成一個(gè)圓環(huán)分布式應(yīng)力,圓環(huán)中心部分應(yīng)力最大,外圍應(yīng)力最小。隨著鍵合過(guò)程逐步進(jìn)展,瓷嘴垂直向下位移的增加,中心最大壓應(yīng)力區(qū)域慢慢向外擴(kuò)展,圓環(huán)外圍壓應(yīng)力也在逐漸變大,同時(shí)金球與焊盤(pán)的接觸面積也漸漸增大。在鍵合的最后階段,金球底部壓應(yīng)力受振動(dòng)的影響幾乎為零,壓應(yīng)力大小隨圓環(huán)半徑的增加而減小。但是,如果鍵合參數(shù)設(shè)置不合理,金絲球焊鍵合過(guò)程也出現(xiàn)失鋁的現(xiàn)象,如圖4所示。

4bfd38fc-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

1.3.3 金絲楔焊

金絲楔焊主要分為熱聲鍵合和熱壓鍵合兩種類別,目前熱聲鍵合應(yīng)用較為廣泛 [9] 。微波組件內(nèi)的部分芯片使用金絲熱聲鍵合時(shí),其產(chǎn)品數(shù)據(jù)手冊(cè)上對(duì)鍵合條件比較特殊,具體要求表現(xiàn)為:1)劈刀尖端溫度高達(dá)180 ℃;2)襯底溫度160 ℃。通常情況下,鍵合設(shè)備劈刀刀尖的溫度很難達(dá)到,以WESTBOND MODEL 7476E型設(shè)備為例,劈刀尖端溫度最高溫度為131 ℃。由于微波組件裝配過(guò)程的溫度梯度設(shè)計(jì),鍵合工序中產(chǎn)品襯底溫度一般為150 ℃。上述條件均難以達(dá)到芯片數(shù)據(jù)手冊(cè)中的鍵合條件的要求。

與此同時(shí),部分芯片使用手冊(cè)中建議在使用金絲楔形鍵合時(shí)需采用盡可能小的超聲波能量,但并未對(duì)其進(jìn)行大致范圍的量化。這就容易造成在實(shí)際鍵合過(guò)程中,鋁焊盤(pán)上易發(fā)生欠鍵合或過(guò)鍵合的故障 [10] 。有研究表明,當(dāng)超聲功率設(shè)置較小和溫度較低時(shí),鋁焊盤(pán)上金絲楔形鍵合強(qiáng)度很小,此時(shí)的鍵合屬于欠鍵合。當(dāng)超聲功率設(shè)置較大和溫度較高時(shí),鍵合強(qiáng)度下降甚至導(dǎo)致鋁焊盤(pán)剝離,此時(shí)的鍵合屬于過(guò)鍵合,典型的鋁焊盤(pán)金絲楔形鍵合故障如圖5所示。

4c0b1d0a-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

1.4 鍵合因素的影響分析

匯總上述三種鍵合工藝的主要特點(diǎn),見(jiàn)表2。

4c234240-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

由表2可知,熱聲鍵合的因素涉及較為全面,可作為研究對(duì)象開(kāi)展上述各因素重要性的研究。

1.4.1 熱聲楔形鍵合分析

本著簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)和減少計(jì)算量的角度出發(fā),選擇對(duì)鋁焊盤(pán)上的金絲熱聲楔形鍵合開(kāi)展仿真分析,選擇II類焊盤(pán)結(jié)構(gòu)進(jìn)行建模。焊點(diǎn)變形量依據(jù)GJB548B方法2017.1 內(nèi)部目檢(混合電路)3.1.5.2楔形鍵合的外觀要求:鍵合寬度小于引線直徑的1.2倍或大于3.0倍,或者其長(zhǎng)度小于引線直徑的0.5倍,或者沒(méi)有工具壓痕,均不得接受。材料參數(shù)見(jiàn)表3。

4c372f62-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

以常用的熱聲鍵合參數(shù)進(jìn)行仿真分析,工具及材料等參數(shù)見(jiàn)表4。

4c439c20-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

熱聲鍵合后焊盤(pán)XY方向應(yīng)力如圖6所示,劈刀機(jī)械振動(dòng)方向?yàn)閄方向。

4c516fc6-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

熱聲鍵合過(guò)程中,焊盤(pán)表面承受的應(yīng)力并不均勻,呈現(xiàn)四周大于中間的現(xiàn)象,尤其沿劈刀機(jī)械振動(dòng)方向;焊盤(pán)受金絲變形的壓力作用產(chǎn)生較大的應(yīng)力,沿著Z軸方向逐漸減?。划?dāng)焊盤(pán)受到較大應(yīng)力作用時(shí),裂紋極易從內(nèi)部鵬硅酸鹽邊緣或外部鋁層的高應(yīng)力集中區(qū)域產(chǎn)生、擴(kuò)展;當(dāng)焊盤(pán)受到極大應(yīng)力作用后,裂紋直接在高應(yīng)力集中區(qū)產(chǎn)生,導(dǎo)致整個(gè)焊點(diǎn)失鋁的現(xiàn)象發(fā)生。典型故障現(xiàn)象如圖7所示。

4c63ddbe-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

1.4.2 熱壓楔形鍵合分析

取消超聲功率的作用,其余參數(shù)固定不變但逐漸增加壓力參數(shù)直至其原有設(shè)定值的2.5倍,焊點(diǎn)變形量達(dá)圖6,仿真結(jié)果如圖8所示。

4c776b4a-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

對(duì)比圖6和圖8可知:1)熱壓鍵合后焊盤(pán)受到的應(yīng)力分布與熱超聲鍵合類似,四周應(yīng)力大于中心部位;2)熱壓鍵合后焊盤(pán)受到的應(yīng)力分布僅是熱聲鍵合的10.7%。

基于上述仿真參數(shù)設(shè)置并進(jìn)一步仿真計(jì)算,得出鍵合三個(gè)主要因素(壓力 F 、熱臺(tái)溫度 T s 和劈刀溫度 T w )。在固定兩因素后,剩余因素帶來(lái)的焊點(diǎn)變形量對(duì)應(yīng)關(guān)系,如圖9所示。

4c93a224-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

壓力 F 的增加導(dǎo)致金絲變形量巨大且呈線性關(guān)系,曲線斜率較大;熱臺(tái)溫度 T s 的增加會(huì)適當(dāng)增加金絲變形量,但其在170 ℃前變化不明顯,170~200 ℃變化較大,但整體依然不明顯;劈刀溫度 T w 的增加會(huì)適當(dāng)增加金絲變形量,但不明顯。

1.4.3 小結(jié)

綜上所述,鍵合各因素的增加均會(huì)帶來(lái)金絲變形量的增加,其影響大小分別為 P > F

> T s > T w 。

2 試驗(yàn)與結(jié)果

2.1 硅鋁絲超聲鍵合

由于鋁金屬層存在不同的厚度(不同的廠家生產(chǎn)),超聲功率和壓力等引線鍵合機(jī)的參數(shù)就必須做出相應(yīng)的調(diào)整,以生產(chǎn)出有相同鍵合強(qiáng)度和焊點(diǎn)尺寸的鍵合引線。以線徑25 μm的硅鋁絲為例,通過(guò)對(duì)焊接參數(shù)的調(diào)整(超聲功率為1.2~1.5 W、壓力為23~45 cN),鍵合后如圖10所示。

4cf153ec-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

2.2 金絲球形熱聲鍵合

以線徑25 μm的金絲為例,通過(guò)對(duì)其主要的鍵合參數(shù)進(jìn)行調(diào)整,超聲功率控制在1.3~1.6 W、焊接時(shí)間控制在80~150 ms、焊接壓力在20~40 cN,鍵合后如圖11所示。

4d0257dc-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

2.3 金絲楔形熱壓鍵合

去除超聲功率的作用,在襯底加熱溫度設(shè)置為150 ℃、壓力增加約95%的基礎(chǔ)上,鋁焊盤(pán)鍵合金絲無(wú)異常,鍵合示意圖如圖12所示。

4d11a4ee-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

2.4 應(yīng)用擴(kuò)展

同理,對(duì)于鍍金小焊盤(pán)(焊盤(pán)直徑≤25 μm)的鍵合,也可采用上述鍵合的方式來(lái)有效解決焊盤(pán)起層這一問(wèn)題,鍵合后如圖13所示。

4d2435dc-b275-11ee-9b10-92fbcf53809c.png

3 結(jié)論

本文從鋁質(zhì)焊盤(pán)鍵合后易發(fā)生欠鍵合和過(guò)鍵合的故障現(xiàn)象著手,就鋁焊盤(pán)上幾種常見(jiàn)鍵合方式進(jìn)行了探討,得出鍵合的優(yōu)先級(jí)為硅鋁絲超聲楔形鍵合、金絲熱聲球形鍵合、金絲熱壓楔形鍵合。對(duì)層狀結(jié)構(gòu)的焊盤(pán)在熱聲和熱壓鍵合的應(yīng)力仿真對(duì)比分析,得出鍵合各因素的重要性排序?yàn)槌暪β?、鍵合壓力、襯底加熱溫度和劈刀溫度。通過(guò)正交試驗(yàn)設(shè)計(jì),找到鋁焊盤(pán)上較為適宜的鍵合方式及參數(shù)范圍,可大幅減小鋁焊盤(pán)鍵合后失鋁現(xiàn)象的發(fā)生。同時(shí),對(duì)于鍍金小焊盤(pán)的鍵合,也可參考本方法來(lái)解決焊盤(pán)起層的問(wèn)題。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 芯片
    +關(guān)注

    關(guān)注

    460

    文章

    52520

    瀏覽量

    440969
  • 焊盤(pán)
    +關(guān)注

    關(guān)注

    6

    文章

    591

    瀏覽量

    38898
  • 鍵合
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    82

    瀏覽量

    8105
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    鋁絲的具體步驟

    鋁絲常借助超聲楔焊技術(shù),通過(guò)超聲能量實(shí)現(xiàn)鋁絲與盤(pán)的直接。由于
    的頭像 發(fā)表于 07-16 16:58 ?235次閱讀

    銀線二點(diǎn)剝離失效原因:鍍銀層結(jié)合力差VS銀線工藝待優(yōu)化!

    銀線二點(diǎn)剝離LED死燈的案子時(shí)常發(fā)生,大家通常爭(zhēng)論是鍍銀層結(jié)合力差的問(wèn)題,還是工藝問(wèn)
    的頭像 發(fā)表于 06-25 15:43 ?175次閱讀
    銀線二<b class='flag-5'>焊</b><b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>點(diǎn)剝離失效原因:鍍銀層結(jié)合力差VS銀線<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b><b class='flag-5'>工藝</b>待優(yōu)化!

    什么是引線鍵合?芯片引線鍵合保護(hù)膠用什么比較好?

    引線鍵合的定義--什么是引線鍵合?引線鍵合(WireBonding)是微電子封裝中的關(guān)鍵工藝,通過(guò)金屬細(xì)絲(如金線、鋁線或銅線)將芯片
    的頭像 發(fā)表于 06-06 10:11 ?270次閱讀
    什么是引線<b class='flag-5'>鍵合</b>?芯片引線<b class='flag-5'>鍵合</b>保護(hù)膠用什么比較好?

    混合工藝介紹

    所謂混合(hybrid bonding),指的是將兩片以上不相同的Wafer或Die通過(guò)金屬互連的混合工藝,來(lái)實(shí)現(xiàn)三維集成,在Hyb
    的頭像 發(fā)表于 06-03 11:35 ?697次閱讀
    混合<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b><b class='flag-5'>工藝</b>介紹

    基于推拉力測(cè)試機(jī)的化學(xué)鍍鎳鈀金電路板金絲可靠性驗(yàn)證

    在微組裝工藝中,化學(xué)鍍鎳鈀金(ENEPIG)工藝因其優(yōu)異的抗“金脆”和“黑盤(pán)”性能,成為高可靠性電子封裝的關(guān)鍵技術(shù)。然而,其
    的頭像 發(fā)表于 04-29 10:40 ?307次閱讀
    基于推拉力測(cè)試機(jī)的化學(xué)鍍鎳鈀金電路板金絲<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>可靠性驗(yàn)證

    引線鍵合里常見(jiàn)的金問(wèn)題

    效應(yīng)是集成電路封裝中常見(jiàn)的失效問(wèn)題,嚴(yán)重影響器件的可靠性。本文系統(tǒng)解析其成因、表現(xiàn)與演化機(jī)制,并結(jié)合實(shí)驗(yàn)與仿真提出多種應(yīng)對(duì)措施,為提升可靠性提供參考。
    的頭像 發(fā)表于 04-10 14:30 ?798次閱讀
    引線<b class='flag-5'>鍵合</b>里常見(jiàn)的金<b class='flag-5'>鋁</b><b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>問(wèn)題

    什么是引線鍵合(WireBonding)

    (WireBonding)線是一種使用細(xì)金屬線,利用熱、壓力、超聲波能量為使金屬引線與基板盤(pán)
    的頭像 發(fā)表于 01-06 12:24 ?1053次閱讀
    什么是引線<b class='flag-5'>鍵合</b>(WireBonding)

    引線鍵合的基礎(chǔ)知識(shí)

    引線鍵合 引線鍵合,又稱壓,是半導(dǎo)體封裝工藝中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),對(duì)封裝的可靠性和最終產(chǎn)品的測(cè)試良率具有決定性影響。 以下是對(duì)引線鍵合的分述: 引
    的頭像 發(fā)表于 01-02 10:18 ?1378次閱讀
    引線<b class='flag-5'>鍵合</b>的基礎(chǔ)知識(shí)

    晶圓膠的與解方式

    晶圓是十分重要的一步工藝,本文對(duì)其詳細(xì)介紹。???????????????????????????? ? 什么是晶圓膠? 晶圓
    的頭像 發(fā)表于 11-14 17:04 ?2088次閱讀
    晶圓<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>膠的<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>與解<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>方式

    鋁帶點(diǎn)根部損傷研究

    潘明東 朱悅 楊陽(yáng) 徐一飛 陳益新 (長(zhǎng)電科技宿遷股份公司) 摘要: 鋁帶合作為粗鋁線的延伸和發(fā)展,焊點(diǎn)根部損傷影響了該
    的頭像 發(fā)表于 11-01 11:08 ?2439次閱讀
    鋁帶<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>點(diǎn)根部損傷研究

    半導(dǎo)體制造的線檢測(cè)解決方案

    引線鍵合廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備、半導(dǎo)體行業(yè)和微電子領(lǐng)域。它實(shí)現(xiàn)了集成電路(IC)中芯片與其他電子元件(如晶體管和電阻)之間的互連。引線合通過(guò)在芯片的盤(pán)與封裝基板或其他芯片上的對(duì)應(yīng)
    的頭像 發(fā)表于 10-16 09:23 ?1572次閱讀
    半導(dǎo)體制造的<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>線檢測(cè)解決方案

    電子封裝 | Die Bonding 芯片的主要方法和工藝

    DieBound芯片,是在封裝基板上安裝芯片的工藝方法。本文詳細(xì)介紹一下幾種主要的芯片的方法和
    的頭像 發(fā)表于 09-20 08:04 ?1938次閱讀
    電子封裝 | Die Bonding 芯片<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>的主要方法和<b class='flag-5'>工藝</b>

    pcb盤(pán)直徑怎么設(shè)置

    和考慮因素: 一、考慮因素 元器件引腳直徑和間距 : 盤(pán)直徑應(yīng)稍大于元器件的引腳直徑,以便于焊接時(shí)引腳能夠穩(wěn)固地插入盤(pán)并形成良好的電氣連接。
    的頭像 發(fā)表于 09-02 15:15 ?1868次閱讀

    pcb盤(pán)區(qū)域凸起可以

    凸起的一個(gè)主要原因是材料問(wèn)題。如果PCB基板的材料質(zhì)量不佳,或者在生產(chǎn)過(guò)程中受到損傷,可能會(huì)導(dǎo)致盤(pán)區(qū)域的凸起。此外,盤(pán)材料的熱膨脹系數(shù)與基板材料的熱膨脹系數(shù)不匹配,也可能導(dǎo)致
    的頭像 發(fā)表于 09-02 15:10 ?1379次閱讀

    金絲工藝溫度研究:揭秘質(zhì)量的奧秘!

    在微電子封裝領(lǐng)域,金絲(Wire Bonding)工藝作為一種關(guān)鍵的電氣互連技術(shù),扮演著至關(guān)重要的角色。該工藝通過(guò)細(xì)金屬線(主要是金絲)將芯片上的焊點(diǎn)與封裝基板或另一芯片上的對(duì)應(yīng)焊
    的頭像 發(fā)表于 08-16 10:50 ?3600次閱讀
    金絲<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b><b class='flag-5'>工藝</b>溫度研究:揭秘<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>質(zhì)量的奧秘!