探頭對(duì)測(cè)量可能引起的10種影響

①探頭的帶寬對(duì)測(cè)量系統(tǒng)帶寬的影響：濾波效應(yīng)

②探頭自身的電路對(duì)被測(cè)電路特性的影響：負(fù)載效應(yīng)/諧振效應(yīng)

③探頭高、低頻電容的補(bǔ)償效應(yīng)

④探頭的地線長(zhǎng)短、地線的位置、形狀，探頭擺放位置等引起的輻射耦合：天線效應(yīng)

⑤探頭的接地環(huán)境引起的傳導(dǎo)耦合

⑥浮地測(cè)量的是與非

⑦探頭和探頭之間地環(huán)路的干擾問(wèn)題

⑧有源探頭本身的噪聲影響：信噪比問(wèn)題

⑨探頭的衰減比引起的噪聲同步放大：量化誤差問(wèn)題

⑩探頭的衰減比隨工作年限而變化：電阻值的漂移問(wèn)題

探頭的帶寬對(duì)測(cè)量系統(tǒng)帶寬的影響：濾波效應(yīng)

探頭自身的電路對(duì)被測(cè)電路特性的影響：負(fù)載效應(yīng)

無(wú)源探頭在相對(duì)高頻時(shí)測(cè)量的限制

探頭在使用前要進(jìn)行補(bǔ)償

探頭的諧振效應(yīng)

地線的問(wèn)題

浮地測(cè)量的問(wèn)題

信噪比問(wèn)題

探頭的衰減電路引起的量化誤差問(wèn)題

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審核編輯 黃宇