方案背景

近場測試非常適合產(chǎn)品開發(fā)階段輻射發(fā)射的EMI預(yù)兼容測試。在EMC測試中，進(jìn)行輻射發(fā)射測試時(shí)，通常天線離被測物EUT很遠(yuǎn)，進(jìn)行的都是遠(yuǎn)場測量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場輻射發(fā)射測試，可以準(zhǔn)確定量的告訴我們被測件是否符合相應(yīng)的EMC/EMI標(biāo)準(zhǔn)。

而當(dāng)設(shè)備不符合標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，工程師無法靠遠(yuǎn)場測試發(fā)現(xiàn)嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于設(shè)備殼體的縫隙，還是來自連接的電纜USB，LAN之類的通信接口，或PCB上某個(gè)元器件及線路。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。

在研發(fā)或者批量生產(chǎn)的時(shí)候，可以對照合格的產(chǎn)品的值，來測試其它的產(chǎn)品。通過EMI預(yù)兼容測試可以快速查找輻射源，大大減少產(chǎn)品的研發(fā)周期，減少往返實(shí)驗(yàn)室的時(shí)間和全錢，減少不必要的錯(cuò)誤測試。極大節(jié)省時(shí)間和經(jīng)濟(jì)成本。

近場測試是一種相對量測試，這意味著它需要把被測器件的測試結(jié)果與基準(zhǔn)器件的測試結(jié)果進(jìn)行比較，以預(yù)測被測器件通過一致性測試的可能性。需要注意的是，比較近場測試結(jié)果與EMI標(biāo)準(zhǔn)測試極限是沒有意義的，因?yàn)闇y試讀數(shù)受許多因素的影響，包括探頭位置和被測器件的形狀等。

方案需求分析

一般輻射發(fā)射的測試標(biāo)準(zhǔn)中，頻率范圍在9 kHz~18 GHz，

1) A頻段：9~150 kHz;

2) B頻段：0.15~30 MHz:

3) C頻段：30~300 MHz;

4) D頻段：300~1 GHz;

5) E頻段：1 GHz以上

但是最常用的測試頻段在30 MHz~1 GHz，比如說在一些信息技術(shù)產(chǎn)品的輻射發(fā)射測試中。少數(shù)測試標(biāo)準(zhǔn)要求在1 GHz以上。因此要求頻譜儀以及近場探頭的頻率范圍滿足30 MHz~1 GHz。

● 考慮到設(shè)備的輻射發(fā)射情況，需要探測到更微弱的信號，要求頻譜儀的接收機(jī)靈敏度低。

● 需要多種大小的探頭，使用戶在測試過程中在空間分辨率和敏感度之間取得更好的平衡。

德思特方案

使用德思特手持式頻譜分析儀以及近場探頭組成方案套裝，其中德思特手持式頻譜儀的頻率覆蓋范圍為0.01~3 GHz，探頭的頻率覆蓋范圍為9 kHz~9 GHz：

1）方案優(yōu)勢

? 覆蓋絕大部分EMI中RE測試標(biāo)準(zhǔn)的頻段，比如CISPR22/EN55022/CISPR11/EN55011

? 靈敏度優(yōu)秀，DNAL：-168 dBm/Hz

? 探頭賦予優(yōu)秀的空間分辨率和敏感度

? 界面的設(shè)備可以及時(shí)觀測到輻射的信號

? 可擴(kuò)展頻段，可再選2~8 GHz頻譜儀，兩個(gè)頻譜儀構(gòu)成0.01~8 GHz的測試范圍。

（2）功能優(yōu)勢

? 單位轉(zhuǎn)換

● 功率單位：

◆ dBm（默認(rèn)單位）–參考1毫瓦的分貝

◆ dBuW–參考1微瓦的分貝

● 電壓單位：

◆ dBmV–參考1毫伏的分貝

◆ dBuV–參考1微伏的分貝

● 電流單位：

◆ dBmA–參考1毫安的分貝

◆ dBuA–參考1微安的分貝

記錄保存模式

在測試過程中，可以使用德思特手持式頻譜分析儀的保存數(shù)據(jù)的功能，點(diǎn)擊左上角紅色圖標(biāo)可以截圖我們的測試數(shù)據(jù)。或者使用"RECORD"錄制模式。記錄的最大長度為30分鐘。三十分鐘后會自動進(jìn)行下一次記錄。

同時(shí)，可以在上位機(jī)界面導(dǎo)出CSV文件進(jìn)行分析，或者是使用SCPI命令導(dǎo)出頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行二次開發(fā)。

總結(jié)

德思特EMI預(yù)兼容測試方案，使用德思特手持式頻譜分析儀與近場探頭相結(jié)合，不同的頻段符合不同的測試標(biāo)準(zhǔn)。與大小不同的近場探頭結(jié)合。為工程師提供了經(jīng)濟(jì)、高效、便攜、準(zhǔn)確的EMI預(yù)兼容測試解決方案。

審核編輯 黃宇