飛針測試是目前電氣測試一些主要問題的最佳解決辦法。它用探針來取代針床，使用多個(gè)由馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的、能夠快速移動(dòng)的電氣探針同器件的引腳進(jìn)行接觸并進(jìn)行電氣測量。

PCB板在生產(chǎn)過程中，難免因外在因素而造成短路、斷路及漏電等電性上的瑕疵，再加上PCB線路板不斷朝高密度、細(xì)間距及多層次的演進(jìn)，若未能及時(shí)將不良板篩檢出來，而任其流入制程中，勢必會(huì)造成更多的成本浪費(fèi)，因此除了制程控制的改善外，提高測試的技術(shù)也是可以為PCB板制造者提供降低報(bào)廢率及提升產(chǎn)品良率的解決方案。

電性測試的方法有：專用型(Dedicated)、泛用型(UniversalGrid)、飛針型(FlyingProbe)、非接觸電子束(E-Beam)、導(dǎo)電布(膠)、電容式(Capacity)及刷測(ATG-SCANMAN)，其中常使用的設(shè)備有三種，分別是專用測試機(jī)(PCB自動(dòng)通用測試機(jī))、高品質(zhì)泛用測試機(jī)及飛針測試機(jī)。

飛針測試和測試架有什么區(qū)別？各自的優(yōu)勢是什么？

飛針測試：飛針測試是利用4到8個(gè)探針對線路板進(jìn)行高壓絕緣和低阻值導(dǎo)通測試，測試線路的開路和短路，不需要專門做測試治具。飛針測試是直接將PCB板裝到飛針測試機(jī)上，然后運(yùn)行測試程序即可測試。飛針測試的優(yōu)點(diǎn)在于其測試方法和操作流程極為方便，節(jié)約了測試成本，減去了制作測試架的時(shí)間，提高了出貨的效率，適合PCB小批量的生產(chǎn)。

而測試架，是針對量產(chǎn)的PCB板進(jìn)行通斷測試而做的專門的測試夾具，制作成本較高，但測試效率較好，返單不收費(fèi)。

在測試技術(shù)的適用目的方面，飛針測試是目前適合使用于小量產(chǎn)及樣品的電性測試設(shè)備，但是若要運(yùn)用于中大量產(chǎn)時(shí)，則由于測速慢以及設(shè)備價(jià)格昂貴，將會(huì)使得測試成本大幅提高，而泛用型及專用型無論是用于何種層級的PCB板子，只要產(chǎn)量達(dá)到一定的數(shù)量，測試成本均可達(dá)到規(guī)模經(jīng)濟(jì)的標(biāo)淮，而且約只占售價(jià)的2~4%，這也是為何泛用型及專用型為目前量產(chǎn)型的測試機(jī)種的主要原因。

飛針測試的工作原理

飛針式測試儀是對傳統(tǒng)針床在線自動(dòng)高壓專用PCB板測試機(jī)的一種改進(jìn)，它用探針來代替針床。

工作時(shí)在測單元(UUT)通過皮帶或者其它UUT傳送系統(tǒng)輸送到測試機(jī)內(nèi)，然后固定測試機(jī)的探針接觸測試焊盤(TESTpad)和通路孔(via)，從而測試在測單元(UUT)的單個(gè)元件。測試探針通過多路傳輸系統(tǒng)連接到驅(qū)動(dòng)器和傳感器來測試UUT上的元件。當(dāng)一個(gè)元件正在測試的時(shí)候，UUT上的其它元件通過探針器在電氣上屏蔽以防止讀數(shù)干擾。

飛針測試機(jī)可檢查短路、開路和元件值。在飛針測試上也使用了一個(gè)相機(jī)來幫助查找丟失元件。用相機(jī)來檢查方向明確的元件形狀，如極性電容。

隨著探針定位精度和可重復(fù)性達(dá)到5-15微米的范圍，飛針測試機(jī)可精密地探測UUT。飛針測試解決了在PCB線路板裝配中見到的大量現(xiàn)有問題：如可能長達(dá)4-6周的測試開發(fā)周期；不能經(jīng)濟(jì)地測試小批量生產(chǎn)；以及不能快速地測試原型樣機(jī)裝配。

飛針測試是一個(gè)檢查PCB板電性功能的方法(開短路測試)。飛測試機(jī)是一個(gè)在制造環(huán)境測試PCB線路板的系統(tǒng)。不是使用在傳統(tǒng)的在線測試機(jī)上所有的傳統(tǒng)針床(bed-of-nails)界面，飛針測試使用四到八個(gè)獨(dú)立控制的探針，移動(dòng)到測試中的元件。在測單元(UUT,unitundertest)通過皮帶或者其它UUT傳送系統(tǒng)輸送到測試機(jī)內(nèi)。然后固定，測試機(jī)的探針接觸測試焊盤(testpad)和通路孔(via)從而測試在測單元(UUT)的單個(gè)元件。測試探針通過多路傳輸(multiplexing)系統(tǒng)連接到驅(qū)動(dòng)器(信號發(fā)生器、電源供應(yīng)等)和傳感器(數(shù)字萬用表、頻率計(jì)數(shù)器等)來測試UUT上的元件。當(dāng)一個(gè)元件正在測試的時(shí)候，UUT上的其它元件通過探針器在電氣上屏蔽以防止讀數(shù)干擾。

1、充/放電時(shí)間法

每個(gè)網(wǎng)絡(luò)的充/放電時(shí)間（也稱網(wǎng)絡(luò)值，net value）是一定的。如果有網(wǎng)絡(luò)值相等，它們之間有可能短路，僅需在網(wǎng)絡(luò)值相等的網(wǎng)絡(luò)測量短路即可。它的測試步驟是，首件板：全開路測試→全短路測試→網(wǎng)絡(luò)值學(xué)習(xí)；第二塊以后板：全開路測試→網(wǎng)絡(luò)值測試，在懷疑有短路的地方再用電阻法測試。這種測試方法的優(yōu)點(diǎn)是測試結(jié)果準(zhǔn)確，可靠性高；缺點(diǎn)是首件板測試時(shí)間長，返測次數(shù)多，測試效率不高。最有代表性的是MANIA公司的SPEEDY機(jī)。

2、電感測量法

電感測量法的原理是以一個(gè)或幾個(gè)大的網(wǎng)絡(luò)（一般為地網(wǎng)）作為天線，在其上施加信號，其他的網(wǎng)絡(luò)會(huì)感應(yīng)到一定的電感。測試機(jī)對每個(gè)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行電感測量，比較各網(wǎng)絡(luò)電感值，若網(wǎng)絡(luò)電感值相同，有可能短路，再進(jìn)行短路測試。這種測試方法只適用于有地電層的板的測試，若對雙面板（無地網(wǎng)）測試可靠性不高；在有多個(gè)大規(guī)模網(wǎng)絡(luò)時(shí)，由于有一個(gè)以上的探針用于施加信號，而提供測試的探針減少，測試效率低，優(yōu)點(diǎn)是測試可靠性較高，返測次數(shù)低。最有代表性的是ATG公司的A2、A3型機(jī)，為彌補(bǔ)探針數(shù)量，該機(jī)配有8針和16針，提高測試效率。

3、電容測量法

這種方法類似于充/放電時(shí)間法。根據(jù)導(dǎo)電圖形與電容的定律關(guān)系，若設(shè)置一參考平面，導(dǎo)電圖形到它的距離為L，導(dǎo)電圖形面積為A，則C=εA/L。如果出現(xiàn)開路，導(dǎo)電圖形面積減少，相應(yīng)的電容減少，則說明有開路；如果有兩部分導(dǎo)電圖形連在一起，電容響應(yīng)增加，說明有短路。在開路測試中，同一網(wǎng)絡(luò)的各端點(diǎn)電容值應(yīng)當(dāng)相等，如不相等則有開路存在，并記錄下每個(gè)網(wǎng)絡(luò)的電容值，作為短路測試的比較。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是測試效率高，不足之處是完全依賴電容，而電容受影響因數(shù)較多，測試可靠性低于電阻法，特別是關(guān)聯(lián)的電容和二級電容造成的測量誤差，端點(diǎn)較少的網(wǎng)絡(luò)（如單點(diǎn)網(wǎng)絡(luò)）的測試可靠性較低。目前采用這種測試方法的有HIOKI和NIDEC READ公司的飛針測試機(jī)。

4、相位差方法

此方法是將一個(gè)弦波的信號加入地層或電層，由線路層來取得相位落后的角度，從而取得電容值或電感值。測試步驟是首件板先測開路，然后測其他網(wǎng)絡(luò)的相位差值，最后測短路；第二塊以上板先測開路，再測網(wǎng)絡(luò)相位差值，對有可能的短路再用電阻法測試驗(yàn)證。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是測試效率較高，可靠性高；不足之處是只適合測4層以上的板，如測雙面板只能用電阻法。目前采用這種測試方法的公司有MicroCraft。

5、自適應(yīng)測試法

自適應(yīng)測試法是每個(gè)測試應(yīng)用過程都是一次測試完成后，根據(jù)扳子具體情況和測試規(guī)范，設(shè)備自己選擇適當(dāng)?shù)臏y試過程，如一個(gè)網(wǎng)絡(luò)的網(wǎng)絡(luò)值（充電時(shí)間或電容等）小于設(shè)備測試誤差，設(shè)備會(huì)自動(dòng)采用電阻測試和電場測試。這種測試方法速度最快，測試效果最好。不過，到目前還沒有接觸過采用此種測試方法的測試機(jī)。

飛針式測試儀是對傳統(tǒng)針床在線測試儀的一種改進(jìn)，它可以用探針來代替針床，在X-Y機(jī)構(gòu)上裝有可分別高速移動(dòng)的4個(gè)頭共8根測試探針，最小測試間隙為0.2mm。工作時(shí)在測單元（UUT， unit under test）通過皮帶或者其它UUT傳送系統(tǒng)輸送到測試機(jī)內(nèi)，然后固定測試機(jī)的探針接觸測試焊盤（test pad）和通路孔（via），從而測試在測單元（UUT）的單個(gè)元件。測試探針通過多路傳輸（multiplexing）系統(tǒng)連接到驅(qū)動(dòng)器（信號發(fā)生器、電源供應(yīng)等）和傳感器（數(shù)字萬用表、頻率計(jì)數(shù)器等）來測試UUT上的元件。當(dāng)一個(gè)元件正在測試的時(shí)候，UUT上的其它元件通過探針器在電氣上屏蔽以防止讀數(shù)干擾。

飛針測試機(jī)可檢查短路、開路和元件值。在飛針測試上也使用了一個(gè)相機(jī)來幫助查找丟失元件。用相機(jī)來檢查方向明確的元件形狀，如極性電容。隨著探針定位精度和可重復(fù)性達(dá)到5-15微米的范圍，飛針測試機(jī)可精密地探測UUT。