據2月24日報道，佛羅里達大學研究團隊推測出一款名為“VoltSchemer”的新型攻擊技術，可通過侵入無線充電器，在充電過程中引發(fā)手機過溫直至火災風險。

盡管此類攻擊技術實現(xiàn)較困難且需物理接觸無線充電器，但對廣大普通用戶無需過度擔憂。此次實驗主要旨在揭示此潛在威脅。

VoltSchemer打著新型攻擊技術的旗號，主要針對目前熱門的無線充電器，通過改變設備電源的輸出電壓，進而引起電磁干擾，使智能手機無法正常發(fā)聲或執(zhí)行其他相關功能。

QI標準已對充電安全性有所保障，已設定當電量充裕時即停止充電。然而，VoltSchemer趁虛而入，利用這一漏洞，使防護措施形同虛設。

在實驗室內進行的測試顯示，VoltSchemer攻擊能使三星Galaxy S8手機溫度上升至81攝氏度；同時，還會影響到充電器外表其它金屬物質，如放置于其上的夾子亦可升溫至280攝氏度，輕松熔化閃存盤，甚至引發(fā)過熱及數(shù)據丟失等問題。