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沉積溫度和濺射功率對ITO薄膜性能的影響研究

美能光伏 ? 2024-03-05 08:33 ? 次閱讀
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ITO薄膜在提高異質(zhì)結(jié)太陽能電池效率方面發(fā)揮著至關(guān)重要的作用,同時優(yōu)化ITO薄膜的電學(xué)性能和光學(xué)性能使太陽能電池的效率達到最大。沉積溫度濺射功率也是ITO薄膜制備過程中的重要參數(shù),兩者對ITO薄膜的電阻率和透過率有極大影響。美能掃描四探針方阻測試儀能夠幫助用戶優(yōu)化太陽能電池的電學(xué)特性,美能分光光度計支持紫外至近紅外區(qū)域測定,開啟光學(xué)檢測新未來!本篇文章將給大家講解沉積溫度和濺射功率對ITO薄膜的電學(xué)和光學(xué)性能的影響。

沉積溫度

1.電學(xué)性能

沉積溫度通過改變生長過程中的微觀結(jié)構(gòu)來影響ITO薄膜的性能。隨著沉積溫度的升高,載流子濃度先增大后減小,因為沉積溫度升高時Sn4+更有利于取代In3+,從而增加載流子。當溫度為190℃時,載流子濃度降低,這是由于Sn在高溫下能與O2充分反應(yīng),生成復(fù)合化學(xué)計量比比較完整的氧化物,導(dǎo)致載流子濃度降低。然而,遷移率隨著沉積溫度的升高而增加,并在270℃時達到最大值。原因是沉積溫度的升高提高了結(jié)晶度,這有助于提高遷移率。

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沉積溫度影響ITO薄膜的電學(xué)特性

2.光學(xué)性能

ITO薄膜的透過率隨著沉積溫度的升高而增加,在270℃時達到最大值90.9%。一方面,Sn4+在高沉積溫度下更有利于取代In3+,從而生成較少的低價棕色氧化物,從而提高可見光透過率。另一方面,它可以提高高沉積溫度下的結(jié)晶度。

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沉積溫度影響ITO薄膜的光學(xué)特性

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濺射功率

濺射功率對ITO薄膜的導(dǎo)電性能也有非常重要的作用,進而通過影響濺射粒子的能量來影響ITO薄膜的致密性以及與硅片之間的附著力。

1.電學(xué)性能

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濺射功率影響ITO薄膜的電學(xué)特性

從上圖可以看出,載流子濃度隨著濺射功率的增加而增加。由于較高的濺射功率會產(chǎn)生大量的濺射顆粒,在相同氧含量下,氧氣不足以充分氧化濺射顆粒,從而使載流子濃度增加。隨著濺射功率的增大,遷移率先增大后減小。隨著濺射功率的增加,氬離子可以獲得更高的能量,有利于提高ITO薄膜與襯底之間的附著力,從而改善薄膜的晶體結(jié)構(gòu),載流子遷移率進一步提高。然而,當濺射功率繼續(xù)增加時,薄膜會受到損傷,載流子遷移率會降低,因此ITO薄膜的電阻率隨著濺射功率的增加先下降后上升。另外,濺射功率不應(yīng)超過閾值。一方面,如果濺射功率過高,高能粒子會對薄膜造成損傷,進一步影響薄膜的導(dǎo)電性能。另一方面,陶瓷靶材脆性大,用大功率轟擊很容易導(dǎo)致斷裂。

2.光學(xué)性能

隨著濺射功率的增加,ITO薄膜的透過率先增大后略有減小。濺射粒子在低濺射功率下受到限制,濺射粒子可以被氧氣完全氧化,生成高電阻、透明的氧化物;因此,透過率可以達到90%以上。然而,隨著濺射功率的增加,濺射顆粒數(shù)量增加,在氧含量不變的情況下,只有部分顆粒被氧化,導(dǎo)致ITO薄膜的透過率下降。另外,隨著濺射功率的增加,載流子濃度達到最大值,導(dǎo)致透過率下降。

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濺射功率影響ITO薄膜的光學(xué)特性

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美能掃描四探針方阻測試儀FPP230A

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美能掃描四探針方阻測試儀可以對最大230×230mm的樣品進行快速、自動的掃描,獲得樣品不同位置的方阻/電阻率分布信息,可廣泛應(yīng)用于光伏、半導(dǎo)體、合金、陶瓷等諸多領(lǐng)域。

  • 超高測量范圍,測量1mΩ~100MΩ

  • 高精密測量,動態(tài)重復(fù)性可達0.2%

  • 全自動多點掃描,多種預(yù)設(shè)方案亦可自定義調(diào)節(jié)

快速材料表征,可自動執(zhí)行校正因子計算

美能分光光度計UVN2800

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美能分光光度計支持測定從紫外區(qū)到近紅外區(qū)的廣范圍波長區(qū)域的太陽光透過率,為太陽電池的效率分析提供了有力支持。設(shè)備采用獨特的雙光束光學(xué)設(shè)計,可以完美地校正不同樣品基質(zhì)的吸光度變化,從而可穩(wěn)定地進行樣品的測定,具有測試范圍廣、精度高以及穩(wěn)定性好的優(yōu)點

  • 采用雙光源雙檢測器設(shè)計,波長范圍190-2800nm

  • 雙光柵光學(xué)結(jié)構(gòu)、有效降低雜散光

積分球直徑可達100mm,長期使用不發(fā)黃變性、光學(xué)性能穩(wěn)定

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