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4月18日-20日《硬件電路可靠性設(shè)計、測試及案例分析》公開課即將開始

賽盛技術(shù) ? 2024-03-16 08:16 ? 次閱讀

課程名稱:《硬件電路可靠性設(shè)計、測試與案例分析》

講師:王老師

時間地點:北京4月18日-20日

主辦單位:賽盛技術(shù)

課程特色

1、案例多,案例均來自于電路設(shè)計缺陷導(dǎo)致的實際產(chǎn)品可靠性問題2、課程內(nèi)容圍繞電路可靠性設(shè)計所涉及的主要環(huán)節(jié),針對電路研發(fā)過程中可能遇到可靠性問題,針對電路設(shè)計、元器件應(yīng)用中潛在的缺陷,基于大量工程設(shè)計實例和故障案例,進行深入解析3、每個技術(shù)要點,均通過工程實踐中的實際案例分析導(dǎo)入,并從案例中提取出一般性的方法、思路,引導(dǎo)學(xué)員,將這些方法落地,在工程實踐中加以應(yīng)用

面向人群

硬件設(shè)計工程師,硬件測試工程師,PCB設(shè)計工程師,EMC工程師,PI工程師,SI工程師,項目經(jīng)理,技術(shù)支持工程師,研發(fā)主管,研發(fā)總監(jiān),研發(fā)經(jīng)理,測試經(jīng)理,系統(tǒng)測試工程師,具有1年以上工作經(jīng)驗的硬件設(shè)計師、項目管理人員。

課程內(nèi)容


第一章 與硬件電路可靠性相關(guān)的幾個關(guān)鍵問題的分析

在硬件電路的可靠性設(shè)計中,以下8個關(guān)鍵點至關(guān)重要。對每個關(guān)鍵點,Randy均基于具體的工程實例,加以詳細(xì)分析。

1.關(guān)鍵點1:質(zhì)量與可靠性的區(qū)別

2.關(guān)鍵點2:產(chǎn)品壽命與產(chǎn)品個體故障之間的關(guān)系

3.關(guān)鍵點3:硬件產(chǎn)品研發(fā)中不可忽略的法則

4.關(guān)鍵點4:硬件電路設(shè)計中提高可靠性的兩個主要方法

5.關(guān)鍵點5:板內(nèi)電路測試、系統(tǒng)測試、可靠性測試,三者間的關(guān)系

6.關(guān)鍵點6:關(guān)注溫度變化引起的電路特性改變,掌握其變化規(guī)律

7.關(guān)鍵點7:判斷是否可能出現(xiàn)潛在故障,最關(guān)鍵的判決依據(jù)

8.關(guān)鍵點8:穩(wěn)態(tài)和瞬態(tài)沖擊對電路應(yīng)力的影響及其差別,以及如何從datasheet中提取這類要求

9.總結(jié):針對可靠性,電路設(shè)計需要特別關(guān)注的關(guān)鍵點是什么?


第二章 電路元器件選型和應(yīng)用中的可靠性

1.鉭電容、鋁電解電容、陶瓷電容,選型與應(yīng)用中的可靠性問題,各類電容在哪些場合應(yīng)避免使用,及案例分析2.電感、磁珠,應(yīng)用中的可靠性問題,及案例分析3.共模電感(共模扼流圈)選型時的考慮因素與實例4.二極管、肖特基二極管、三極管、MOSFET,選型與應(yīng)用中的可靠性問題,及案例分析5.晶體、晶振,應(yīng)用中的可靠性問題,及案例分析6.保險管應(yīng)用中的可靠性問題,保險管選型與計算實例7.光耦等隔離元器件應(yīng)用中的可靠性問題,及從可靠性出發(fā)的參數(shù)計算方法8.緩沖器(buffer)在可靠性設(shè)計中的應(yīng)用與實例9.I2C電路常見的可靠性問題與對策,及工程實例10.電路上拉、下拉電阻的阻值計算與可靠性問題,及工程實例11.復(fù)位電路常見的可靠性問題與案例分析12.元器件參數(shù)值的偏差引起的可靠性問題,及計算實例13.同一物料編碼下多個元器件的驗證,及故障案例分析

第三章 芯片應(yīng)用中的可靠性

1.芯片容易受到的兩種損傷(ESD和EOS)及機理分析、工程實例解析2.芯片信號接口受到的過沖及分析,工程案例解析3.芯片的驅(qū)動能力及相關(guān)的可靠性問題,驅(qū)動能力計算方法與實例4.是否需要采用擴頻時鐘,及其可靠性分析與案例解析5.DDRx SDRAM應(yīng)用中的可靠性問題與案例6.Flash存儲器應(yīng)用中的可靠性問題與案例7.芯片型號導(dǎo)致的問題與案例分析、規(guī)避策略8.讀懂芯片手冊---學(xué)會尋找datasheet提出的對設(shè)計的要求9.芯片升級換代可能產(chǎn)生的可靠性問題,案例分析10.高溫、低溫等極限環(huán)境對芯片的壓力分析、案例解析11.信號抖動對芯片接收端工作的可靠性影響、調(diào)試方法與案例分析

第四章 元器件、芯片的降額設(shè)計與實例分析

1.當(dāng)前企業(yè)里降額設(shè)計的工作模式2.降額設(shè)計的兩個誤區(qū)與分析3.降額的原理與分析4.降額標(biāo)準(zhǔn)與企事業(yè)單位制定本單位降額標(biāo)準(zhǔn)的方式5.工程設(shè)計中,關(guān)于降額的幾個問題與分析6.元器件參數(shù)降額---電阻降額計算與分析實例7.元器件參數(shù)降額---電容降額計算與分析實例8.元器件參數(shù)降額---MOSFET降額計算與分析實例9.元器件參數(shù)降額---芯片降額計算與分析實例10.元器件參數(shù)降額---有些時候額定值不夠,需要升額

第五章 時鐘、濾波、監(jiān)測等電路設(shè)計中的可靠性

1.時鐘電路設(shè)計的可靠性

  • 時鐘電路9個潛在的可靠性問題與案例分析
  • 時鐘電路的PCB設(shè)計要點與案例分析

2.時序設(shè)計的可靠性問題與案例分析3.濾波電路設(shè)計的可靠性

  • 濾波電路7個潛在的可靠性問題與案例分析
  • 濾波電路設(shè)計中,最難解決的兩個問題及其對可靠性的影響、解決對策
  • 濾波電路PCB設(shè)計與潛在的可靠性問題、案例分析

4.監(jiān)測電路設(shè)計的可靠性

  • 硬件電路設(shè)計中常用的監(jiān)測方法、5個關(guān)鍵監(jiān)測環(huán)節(jié)、工程設(shè)計實例分析
  • 監(jiān)測電路的可靠性問題與案例分析


第六章 電路設(shè)計中與“熱”相關(guān)的可靠性

1.熱是如何影響電子產(chǎn)品的可靠性的?分析、計算與案例解析2.在電子設(shè)計中,如何控制“熱”的影響---10個要點與案例分析3.電路可靠性設(shè)計中關(guān)于“熱”的誤區(qū)---7個誤區(qū)與案例分析4.元器件連續(xù)工作和斷續(xù)工作,對壽命的影響

第七章 電路保護、防護等設(shè)計中的可靠性

1.防反插設(shè)計中潛在的可靠性問題---結(jié)合實例分析2.上電沖擊存在的可靠性問題與案例分析3.I/O口的可靠性隱患---5種I/O口沖擊方式,案例解析與規(guī)避策略4.主備冗余提高可靠性---幾種主備冗余的設(shè)計方法與實例5.多電路板通過連接器互連的設(shè)計中,潛在的可靠性問題與解決方法6.如何在過流保護電路的設(shè)計上提高可靠性,問題、策略與案例7.如何在防護電路的設(shè)計上提高可靠性,常見問題、規(guī)避方法與案例解析8.防護電路中TVS管應(yīng)用的可靠性要點與應(yīng)用實例9.鉗位二極管應(yīng)用中的可靠性問題,案例分析10.低功耗設(shè)計中的可靠性隱患

第八章電源電路設(shè)計中的可靠性

1.選擇電源模塊還是選擇電源芯片自己搭建電源電路---這兩種方案各自的優(yōu)勢及潛在的問題、案例分析2.采用集中式一級電源還是分布式兩級電源,各自的優(yōu)缺點3.電源電路最容易導(dǎo)致可靠性問題的幾個環(huán)節(jié)---分析與案例4.LDO電源容易產(chǎn)生的幾個可靠性問題,及案例分析5.開關(guān)電源設(shè)計的六個可靠性問題---原理分析、實例波形、解決方法與工程策略6.提高電源電路可靠性的16個設(shè)計要點與案例分析

第九章 PCB設(shè)計、抗干擾設(shè)計中的可靠性

1.表層走線還是內(nèi)層走線,各自的優(yōu)缺點,什么場合應(yīng)優(yōu)選表層走線,什么場合應(yīng)優(yōu)選內(nèi)層走線,實例分析2.如何規(guī)避表層走線對EMI的貢獻---方法與實例3.對PCB表層,在什么場合需要鋪地銅箔?什么場合不應(yīng)該鋪地銅箔?該操作可能存在的潛在的可靠性問題4.什么情況下應(yīng)該做阻抗控制的電路板---實例分析5.電源和地的噪聲對比6.PCB設(shè)計中降低電源噪聲和干擾的策略7.對PCB設(shè)計中信號環(huán)路的理解---環(huán)路對干擾和EMI的影響,環(huán)路形成的方式,哪種環(huán)路允許在PCB上存在且是有益的,各種情況的案例分析8.PCB上,時鐘走線的處理方式與潛在的可靠性問題,及案例分析9.在PCB設(shè)計中,如何隔離地銅箔上的干擾10.在PCB設(shè)計中,容易忽略的、工廠工藝限制導(dǎo)致的可靠性問題與案例分析11.PCB設(shè)計中,與可靠性有關(guān)的幾個要點與設(shè)計實例12.電路設(shè)計中,針對PCB生產(chǎn)和焊接、組裝,可靠性設(shè)計的要點與實例分析13.如何控制并檢查每次改板時PCB的具體改動,方法與實例14.接地和抗干擾、可靠性的關(guān)系、誤區(qū),7個綜合案例分析與課堂討論15.如何配置FPGA管腳,以提高抗干擾性能與可靠性---設(shè)計實例與設(shè)計經(jīng)驗

第十章 FMEA與硬件電路的可靠性

1.解析FMEA2.FMEA與可靠性的關(guān)系3.FMEA可以幫助企業(yè)解決什么問題4.FMEA在業(yè)內(nèi)開展的現(xiàn)狀5.FMEA相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)與分析6.FMEA計劃制定的10個步驟及各步驟的要點與實例分析7.FMEA測試計劃書---實例解析、要點分析、測試方法8.在產(chǎn)品研發(fā)周期中,F(xiàn)MEA開始的時間點

第十一章 軟硬件協(xié)同工作與可靠性

在很多場合,電子產(chǎn)品可靠性的提升,若能借助于軟件,則能省時省力,且效果更好。因此硬件研發(fā)工程師需對軟件有一定的了解,并掌握如何與軟件部門協(xié)調(diào),借助軟件的實現(xiàn),提高電子產(chǎn)品可靠性的方法。本章節(jié),Randy基于多年產(chǎn)品研發(fā)的工作經(jīng)驗,總結(jié)出若干與軟件協(xié)同工作、提高可靠性的方法,并基于實際工程案例,詳細(xì)解析。1.軟件與硬件電路設(shè)計可靠性的關(guān)系2.軟硬件協(xié)同,提高可靠性的9個實例與詳細(xì)分析、策略與工程經(jīng)驗


優(yōu)質(zhì)售后服務(wù),提升培訓(xùn)效果

參訓(xùn)學(xué)員或者企業(yè)在課程結(jié)束后,可以享受相關(guān)賽盛技術(shù)的電磁兼容技術(shù)方面優(yōu)質(zhì)售后服務(wù),作為授課之補充,保證效果,達到學(xué)習(xí)目的。主要內(nèi)容如下:

1.【技術(shù)問題解答】培訓(xùn)后一年內(nèi),如有課程相關(guān)技術(shù)問題,可通過電話、郵件聯(lián)系賽盛技術(shù),我們將第一時間協(xié)助回復(fù)。

2.【定期案例分享】分享不斷,學(xué)習(xí)不斷;

3.【技術(shù)交流群】加入正式技術(shù)交流群,與行業(yè)大咖零距離溝通;

4.【EMC元件選型技術(shù)支持】如學(xué)員在EMC元件選擇或應(yīng)用上有不清楚的地方可隨時與賽盛技術(shù)溝通;

5.【往期經(jīng)典案例分析】行業(yè)典型EMC案例分享、器件選型等資料。

6.【研討會】不限人數(shù)參加賽盛技術(shù)線上或者線下研討會,企業(yè)內(nèi)部工程師可相互分享,共同成長。

7.【EMC測試服務(wù)】在賽盛技術(shù)進行EMC測試服務(wù),可享受會員折扣服務(wù)!


講師資歷——王老師Randy Wang

行業(yè)內(nèi)高級電路設(shè)計專家

資深硬件咨詢顧問

《高速電路設(shè)計實踐》一書的作者。

高級電路設(shè)計專家,先后在華為、思科等數(shù)家國內(nèi)外頂級公司的硬件研發(fā)部門任職,現(xiàn)任某高科技設(shè)備制造商的硬件研發(fā)負(fù)責(zé)人,并擔(dān)任某醫(yī)療電子、某5G設(shè)備研發(fā)公司的技術(shù)顧問。


在電路設(shè)計及相關(guān)項目管理領(lǐng)域有20年的工作經(jīng)驗。對元器件選擇及常見故障分析、電源、時鐘、電路板噪聲抑制、抗干擾設(shè)計、電路可靠性設(shè)計、電路測試、高性能PCB的信號及電源完整性的設(shè)計,有極豐富的經(jīng)驗。其成功設(shè)計的電路板層數(shù)包括40層、28層、26層、22層、16層、10 層、8層、4層、2層等。其成功設(shè)計的最高密度的電路板,網(wǎng)絡(luò)數(shù)達兩萬,管腳數(shù)超過八萬。


自2010年開設(shè)電路設(shè)計培訓(xùn)課程以來,王老師接觸過數(shù)百家不同類型的企業(yè)、研究所,幫助這些單位解決過大量工程設(shè)計中的問題。


以上獨特的經(jīng)歷,使王老師的課程非常貼近工程實踐,完全做到了課程中的每個案例都來自于工作中的問題,每個技術(shù)要點都正中電路設(shè)計和故障調(diào)試的靶心。


因此王老師的課程以實戰(zhàn)性、實用性、能真正解決工程實際問題、能真正幫助工程師提升設(shè)計水平而廣受好評。


至今,王老師已舉辦過電路設(shè)計公開課及內(nèi)訓(xùn)課程三百多場,培訓(xùn)學(xué)員五千多人。

主辦單位簡介

深圳市賽盛技術(shù)有限公司位于深圳高新技術(shù)園,2005年成立,為電子企業(yè)提供全流程全方位的電磁兼容(EMC)方案提供商;
服務(wù)范圍:EMC設(shè)計、EMC整改、EMC流程建設(shè)、EMC仿真、EMC測試及EMC培訓(xùn)、硬件培訓(xùn)等技術(shù)服務(wù)。 賽盛技術(shù)自2006年開始自主舉辦EMC培訓(xùn),2010年后開始加入信號完整性培訓(xùn)、可靠性培訓(xùn)、硬件電路培訓(xùn)等服務(wù),截至目前為9000+企業(yè)提供過培訓(xùn)服務(wù),超過30000+研發(fā)工程師參加過培訓(xùn),同時受到企業(yè)與工程師一致認(rèn)可!培訓(xùn)初心:幫助企業(yè)提升研發(fā)團隊能力幫助企業(yè)解決產(chǎn)品技術(shù)問題幫助企業(yè)縮短產(chǎn)品上市周期培訓(xùn)特色:系統(tǒng)性強:系統(tǒng)性講述產(chǎn)品設(shè)計思路,全面學(xué)習(xí)各環(huán)節(jié)重點與解決問題的技巧。針對性強:硬件電路、EMC,SI信號、可靠性等均有針對性課程,點到點培訓(xùn)。實戰(zhàn)性強:通過大量的實踐案例講解,著重如何實施與解決問題,貼近實際工程設(shè)計。靈活性強:賽盛技術(shù)每年在全國多城市循環(huán)開課,企業(yè)可自由選擇就近地點參與。定制培訓(xùn):可根據(jù)企業(yè)實際需求定制課程,實現(xiàn)企業(yè)產(chǎn)品與培訓(xùn)相結(jié)合。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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    上海 10<b class='flag-5'>月</b>25<b class='flag-5'>日</b>-26<b class='flag-5'>日</b>《<b class='flag-5'>硬件</b><b class='flag-5'>電路</b>設(shè)計、調(diào)試與工程案例<b class='flag-5'>分析</b>》<b class='flag-5'>公開課</b><b class='flag-5'>即將</b><b class='flag-5'>開始</b>!

    成都 920-21《板級EMC設(shè)計》公開課火熱報名中!

    課程名稱:《板級EMC設(shè)計》講師:吳老師時間地點:成都920-21主辦單位:賽盛技術(shù)課程背景隨著電子信息的快速發(fā)展,產(chǎn)品EMC要求越來越高。經(jīng)市場調(diào)研,70%的企業(yè)并沒有專職的EMC研發(fā)
    的頭像 發(fā)表于 08-30 12:29 ?426次閱讀
    成都 9<b class='flag-5'>月</b><b class='flag-5'>20</b>-21<b class='flag-5'>日</b>《板級EMC設(shè)計》<b class='flag-5'>公開課</b>火熱報名中!

    杭州 726-27《案例分析與EMC設(shè)計》公開課即將開始

    課程名稱:《案例分析與EMC設(shè)計》講師:鄭老師時間地點:杭州726-27主辦單位:賽盛技術(shù)課程背景為什么產(chǎn)品問題總是后期出現(xiàn),在現(xiàn)有基礎(chǔ)上到底有哪些方法和措施整改我的產(chǎn)品?為什么我的產(chǎn)品在設(shè)計時
    的頭像 發(fā)表于 06-29 08:17 ?348次閱讀
    杭州 7<b class='flag-5'>月</b>26-27<b class='flag-5'>日</b>《案例<b class='flag-5'>分析</b>與EMC設(shè)計》<b class='flag-5'>公開課</b><b class='flag-5'>即將</b><b class='flag-5'>開始</b>

    杭州 726-27《案例分析與EMC設(shè)計》公開課即將開始!

    課程名稱:《案例分析與EMC設(shè)計》講師:鄭老師時間地點:杭州726-27主辦單位:賽盛技術(shù)課程背景為什么產(chǎn)品問題總是后期出現(xiàn),在現(xiàn)有基礎(chǔ)上到底有哪些方法和措施整改我的產(chǎn)品?為什么我的產(chǎn)品在設(shè)計時
    的頭像 發(fā)表于 06-18 08:17 ?422次閱讀
    杭州 7<b class='flag-5'>月</b>26-27<b class='flag-5'>日</b>《案例<b class='flag-5'>分析</b>與EMC設(shè)計》<b class='flag-5'>公開課</b><b class='flag-5'>即將</b><b class='flag-5'>開始</b>!

    上海 711-13硬件電路可靠性設(shè)計、測試及案例分析公開課即將開始

    課程名稱:《硬件電路可靠性設(shè)計、測試及工程案例分析》講師:王老師時間地點:上海711
    的頭像 發(fā)表于 06-15 08:17 ?587次閱讀
    上海 7<b class='flag-5'>月</b>11<b class='flag-5'>日</b>-13<b class='flag-5'>日</b>《<b class='flag-5'>硬件</b><b class='flag-5'>電路</b><b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計、<b class='flag-5'>測試</b>及案例<b class='flag-5'>分析</b>》<b class='flag-5'>公開課</b><b class='flag-5'>即將</b><b class='flag-5'>開始</b>

    深圳 620-22硬件電路可靠性設(shè)計、測試及案例分析公開課即將開始!

    課程名稱:《硬件電路可靠性設(shè)計、測試及工程案例分析》講師:王老師時間地點:深圳6
    的頭像 發(fā)表于 05-28 08:17 ?519次閱讀
    深圳 6<b class='flag-5'>月</b><b class='flag-5'>20</b><b class='flag-5'>日</b>-22<b class='flag-5'>日</b>《<b class='flag-5'>硬件</b><b class='flag-5'>電路</b><b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計、<b class='flag-5'>測試</b>及案例<b class='flag-5'>分析</b>》<b class='flag-5'>公開課</b><b class='flag-5'>即將</b><b class='flag-5'>開始</b>!