一区二区三区三上|欧美在线视频五区|国产午夜无码在线观看视频|亚洲国产裸体网站|无码成年人影视|亚洲AV亚洲AV|成人开心激情五月|欧美性爱内射视频|超碰人人干人人上|一区二区无码三区亚洲人区久久精品

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

SMT燈芯效應(yīng)引起的器件失效

jf_17722107 ? 來源:jf_17722107 ? 作者:jf_17722107 ? 2024-04-17 09:25 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

燈芯效應(yīng)又稱爬錫效應(yīng),在PCB焊接機理中,焊錫的固有特性是“焊錫總是從低溫流向高溫”,也就是說焊錫的本性是哪個地方溫度高去哪里。焊接時如果器件引腳的溫度高,液態(tài)焊錫會沿著引腳向上爬。

wKgaomYfJMCAUp98AAFCgvWfrSo974.png


圖1. 燈芯效應(yīng)及影響

燈芯效應(yīng)出現(xiàn)的基本條件
1. 引腳可以被焊錫潤濕并具備良好的焊錫性,如鍍金引腳端子
2. 引腳溫度高于焊盤溫度;
3. 熱量充足,焊錫在爬升過程中不會輕易固化;
4. 引腳焊錫性比PCB焊盤焊錫性要好。

燈芯效應(yīng)失效模式
原則上,PCB焊盤錫量充足時,燈芯效應(yīng)并不會引起不良。燈芯效應(yīng)引起失效主要有以下模式:
1.QFP引腳錫量過大,焊點雖然正常,但焊錫爬升導(dǎo)致鷗翼腳上部彎折區(qū)失去彈性,降低了引腳吸收機械應(yīng)力、熱應(yīng)力的能力;

wKgZomYfJOSAcPuWAAZgVVWefkc020.png


圖2. QFP封裝

2. 連接器燈芯效應(yīng),焊錫穿過器件塑料本體進入接插裝配區(qū),影響裝配接插性能,判定為不允收;
3. 燈芯效應(yīng)引起焊點短路或焊點開路;
4. 燈芯效應(yīng),焊錫進入器件內(nèi)部引起器件功能失效。

如何預(yù)防燈芯效應(yīng)?
1. 器件端子處理采用分段方案,預(yù)防焊錫爬升過度;
2. 器件選用端子、本體一體成型注塑方案,確保塑料本體與端子的緊密接觸;
3. 回流溫度曲線控制:避免PCB溫度與器件本體落差過大,如PCB使用載具輔助過Reflow,爐子下溫區(qū)溫度較對應(yīng)上溫區(qū)溫度設(shè)定值高,以有效補償板子和載具的大熱容影響;
4. 當(dāng)PCB焊盤焊錫性較差而器件端子焊錫性較好時,Reflow恒溫區(qū)需具備一定時間長度,讓焊錫助焊劑有充分時間清除PCB焊盤氧化層,避免焊錫熔化時助焊劑未能將PCB焊盤表面氧化層清除掉而出現(xiàn)燈芯效應(yīng)。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • smt
    smt
    +關(guān)注

    關(guān)注

    43

    文章

    3047

    瀏覽量

    72052
  • 引腳
    +關(guān)注

    關(guān)注

    16

    文章

    1735

    瀏覽量

    52904
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點推薦

    ?PCB設(shè)計當(dāng)我說到“燈芯效應(yīng)”,臺下的你們竟如此寂靜 ……

    大家歡迎的東哥,于是立馬和東哥進行了連線。還得是見多識廣的東哥,只那么瞧了幾眼,就確定了原因,那就是我們標題的燈芯效應(yīng)的影響。 經(jīng)過與東哥七七二十一秒鐘的交流(時間那么短?沒辦法,東哥在外面一般都灰常
    發(fā)表于 05-26 14:10

    器件失效分析有哪些方法?

    失效分析的定義與目標失效分析是對失效電子元器件進行診斷的過程。其核心目標是確定失效模式和失效機理
    的頭像 發(fā)表于 05-08 14:30 ?346次閱讀
    元<b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>失效</b>分析有哪些方法?

    器件失效之推拉力測試

    器件失效之推拉力測試在當(dāng)代電子設(shè)備的生產(chǎn)與使用過程中,組件的故障不僅可能降低產(chǎn)品的性能,還可能導(dǎo)致產(chǎn)品徹底失效,給用戶帶來麻煩和經(jīng)濟損失,同時對制造商的聲譽和成本也會造成負面影響。為什么要做推拉
    的頭像 發(fā)表于 04-29 17:26 ?290次閱讀
    元<b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>失效</b>之推拉力測試

    實測案例:如何用推拉力測試機進行SMT器件焊接強度測試?

    在電子制造領(lǐng)域,表面貼裝技術(shù)(SMT)已成為主流工藝,其焊接質(zhì)量直接影響電子產(chǎn)品的可靠性和壽命。隨著元器件尺寸不斷縮小、封裝形式日益復(fù)雜(如01005、CSP、BGA等),焊接強度的檢測變得尤為關(guān)鍵
    的頭像 發(fā)表于 04-27 10:27 ?498次閱讀
    實測案例:如何用推拉力測試機進行<b class='flag-5'>SMT</b>元<b class='flag-5'>器件</b>焊接強度測試?

    電子元器件失效分析與典型案例(全彩版)

    本資料共分兩篇,第一篇為基礎(chǔ)篇,主要介紹了電子元器件失效分析基本概念、程序、技術(shù)及儀器設(shè)備;第二篇為案例篇,主要介紹了九類元器件失效特點、失效
    發(fā)表于 04-10 17:43

    封裝失效分析的流程、方法及設(shè)備

    本文首先介紹了器件失效的定義、分類和失效機理的統(tǒng)計,然后詳細介紹了封裝失效分析的流程、方法及設(shè)備。
    的頭像 發(fā)表于 03-13 14:45 ?881次閱讀
    封裝<b class='flag-5'>失效</b>分析的流程、方法及設(shè)備

    SMT器件的編碼與識別

    隨著電子技術(shù)的快速發(fā)展,SMT因其高密度、高性能、低成本等優(yōu)勢在電子制造領(lǐng)域占據(jù)了主導(dǎo)地位。在SMT生產(chǎn)過程中,元器件的正確編碼與識別對于保證生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要。 1. SMT
    的頭像 發(fā)表于 01-10 18:01 ?1735次閱讀

    SMT器件選擇與應(yīng)用

    SMT(Surface Mount Technology)即表面貼裝技術(shù),是一種將電子元器件直接貼裝在印刷電路板(PCB)表面的技術(shù)。SMT器件的選擇與應(yīng)用涉及多個方面,以下是對此的
    的頭像 發(fā)表于 01-10 17:08 ?863次閱讀

    芯片失效機理之閂鎖效應(yīng)

    ?閂鎖效應(yīng)(Latch-up)是?CMOS工藝中一種寄生效應(yīng),通常發(fā)生在CMOS電路中,當(dāng)輸入電流過大時,內(nèi)部電流急劇增加,可能導(dǎo)致電路失效甚至燒毀芯片,造成芯片不可逆的損傷。
    的頭像 發(fā)表于 12-27 10:11 ?3135次閱讀
    芯片<b class='flag-5'>失效</b>機理之閂鎖<b class='flag-5'>效應(yīng)</b>

    SMT貼片貼裝工藝流程 SMT貼片焊接技術(shù)解析

    SMT(Surface Mount Technology)貼片是一種電子元器件的表面貼裝技術(shù),也是現(xiàn)代電子制造中最常用的一種工藝。以下是對SMT貼片貼裝工藝流程以及SMT貼片焊接技術(shù)的
    的頭像 發(fā)表于 11-23 09:52 ?1556次閱讀

    塑封器件絕緣失效分析

    塑封器件絕緣失效機理探究與改進策略塑封器件因其緊湊、輕便、經(jīng)濟及卓越的電學(xué)特性,在電子元件封裝行業(yè)中占據(jù)著重要地位。但隨著其在更嚴苛環(huán)境下的應(yīng)用需求增加,傳統(tǒng)工業(yè)級塑封材料和技術(shù)的局限性逐漸顯現(xiàn)。金
    的頭像 發(fā)表于 11-14 00:07 ?643次閱讀
    塑封<b class='flag-5'>器件</b>絕緣<b class='flag-5'>失效</b>分析

    微電子器件可靠性失效分析程序

    微電子器件可靠性失效分析程序
    的頭像 發(fā)表于 11-01 11:08 ?1824次閱讀
    微電子<b class='flag-5'>器件</b>可靠性<b class='flag-5'>失效</b>分析程序

    廣電計量|功率場效應(yīng)管過壓失效機理及典型特征分析

    失效分析最常觀察到的現(xiàn)象是EOS過電失效,分為過壓失效及過流失效的兩種失效模式。對于以功率器件
    的頭像 發(fā)表于 09-18 10:55 ?1518次閱讀
    廣電計量|功率場<b class='flag-5'>效應(yīng)</b>管過壓<b class='flag-5'>失效</b>機理及典型特征分析

    電量計外圍元器件失效影響分析

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《電量計外圍元器件失效影響分析.pdf》資料免費下載
    發(fā)表于 09-05 11:20 ?1次下載
    電量計外圍元<b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>失效</b>影響分析

    效應(yīng)管是電壓控制器件

    是的。場效應(yīng)管(Field-Effect Transistor,簡稱FET)是一種電壓控制型半導(dǎo)體器件。它利用電場效應(yīng)來控制電流的流動,具有輸入阻抗高、功耗低、噪聲小等優(yōu)點,在電子電路中得到
    的頭像 發(fā)表于 08-01 09:16 ?1678次閱讀