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電源管理芯片自動化測試:測試流程與測試項目

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2024-05-06 14:20 ? 次閱讀
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電源管理芯片作為電子產(chǎn)品的重要組成部分,其性能測試必不可少。通過各項指標測試,評估電源管理芯片是否符合設計規(guī)范,及其穩(wěn)定性和可靠性。

可通過檢測以下指標參數(shù)來評估電源芯片的性能:

輸入/出電壓范圍、輸出紋波、電壓調(diào)整率、負載調(diào)整率、反饋端電壓;

欠壓關斷及欠壓恢復滯后、輸入偏置電流、輸出電流、輸出電流限制;

啟動過沖及啟動延時、負載躍變電壓、負載躍變恢復、效率(每路);

效率曲線、工作開關頻率測試、SW占空比測試、輸入輸出信號相位差測試

用ATECLOUD測試平臺實現(xiàn)電源管理芯片性能的自動化測試,需要以下測試設備:

直流電源

電子負載

示波器

萬用表

ATEBOX(用于程控儀器與流程調(diào)動)

測試機柜(按需定制)

測試線纜:電源線、通訊線、測試線等

1. 在測試之前,需要將被測電源芯片、測試儀器、ATEBOX與測試PC正確連接。

2. 登錄ATECLOUD測試平臺,進入“方案運行”,選擇已經(jīng)創(chuàng)建好的測試方案,點擊“運行”開始測試。系統(tǒng)通過ATEBOX程控儀器,并且會按照已經(jīng)創(chuàng)建好的方案流程開始測試。

3. 測試過程中,系統(tǒng)會采集測試儀器所測的數(shù)據(jù),并將數(shù)據(jù)、波形圖實時展示在系統(tǒng)的測試面板中。測試結(jié)束后,系統(tǒng)會以Pass、Fail指標反饋測試結(jié)果,自動判別產(chǎn)品是否合格。

4. 測試結(jié)束后,在記錄報告中查看測試詳情,選擇需要導出的數(shù)據(jù)和報告模板,導出測試報告。

5. 分析電源芯片的測試數(shù)據(jù),可在數(shù)據(jù)洞察界面,用多類型圖表展示數(shù)據(jù),幫助分析、評估其性能。

ATECLOUD測試平臺測試電源管理芯片性能,可以滿足基本項目測試,快速分析產(chǎn)品性能,幫助電源芯片的優(yōu)化提升。該系統(tǒng)支持測試數(shù)據(jù)以word、excel格式導出,可自定義報告模板。其內(nèi)含的數(shù)據(jù)洞察功能可以以多種類型的圖表直觀展示測試數(shù)據(jù),便于觀察數(shù)據(jù)變化,為電源芯片的性能分析提供數(shù)據(jù)支持。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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