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OLED電學(xué)參數(shù)測(cè)試詳解

泰克科技 ? 來源:泰克科技 ? 2024-07-30 15:51 ? 次閱讀

引言

有機(jī)發(fā)光二極管(Organic Light Emitting Diode,OLED),屬于一種電流型的有機(jī)發(fā)光器件,是通過載流子的注入和復(fù)合而致發(fā)光的現(xiàn)象。OLED以其自發(fā)光特性,提供了更高的對(duì)比度、更廣的視角以及更快的響應(yīng)時(shí)間,相較于傳統(tǒng)的液晶顯示技術(shù)(LCD),OLED展現(xiàn)出更加生動(dòng)鮮明的色彩和更深的黑色。此外,OLED的柔性特性為可穿戴設(shè)備、折疊屏幕等創(chuàng)新應(yīng)用提供了可能,極大地推動(dòng)了顯示技術(shù)的革新與發(fā)展。

隨著OLED技術(shù)的不斷進(jìn)步,對(duì)其電學(xué)性能的測(cè)試與優(yōu)化變得尤為關(guān)鍵。高效準(zhǔn)確的電學(xué)性能測(cè)試不僅可以評(píng)估OLED器件的性能,還能為改進(jìn)設(shè)計(jì)、提高產(chǎn)品質(zhì)量提供重要依據(jù)。

在之前云上大講堂直播課程中,泰克高級(jí)應(yīng)用工程師趙克潤(rùn)帶大家全面了解了OLED技術(shù)及其測(cè)試方法,包含OLED顯示原理介紹、OLED TEG器件電學(xué)性能測(cè)試以及OLED電路中MOSFET、電阻電容測(cè)試優(yōu)化方法。

本期內(nèi)容中,我們邀請(qǐng)趙工詳細(xì)解答本次直播中各位同學(xué)的提問,并附上本期云上大講堂直播回放。

問答精選

Q1

電容值可以使用LCR測(cè)試儀測(cè)試嗎?

可以直接用4200A CVU模塊進(jìn)行測(cè)試。

Q2

4200支持四線法么?

支持。

312fe9e2-4e48-11ef-b8af-92fbcf53809c.jpg

Q3

脈沖源如何設(shè)置測(cè)試?

可以用4200A自帶的KPulse進(jìn)行設(shè)置。

Q4

小電容測(cè)試原理及基本框架

典型的半導(dǎo)體電容在pF或nF范圍內(nèi)。許多商業(yè)上可用的LCR表或電容計(jì)補(bǔ)償后可以使用適當(dāng)?shù)臏y(cè)量技術(shù) 來測(cè)量這些值,然而,一些應(yīng)用需要在飛秒法(fF)或1e-15范圍內(nèi)進(jìn)行非常靈敏的電容測(cè)量。這些應(yīng) 用包括測(cè)量金屬到金屬的電容,晶片上的互連電容,MEMS器件,如:開關(guān),納米器件端子之間的電容。如果沒有使用適當(dāng)?shù)膬x器和測(cè)量技術(shù),這些非常小的 電容很難進(jìn)行測(cè)量。

使用4200A-SCS參數(shù)分析儀配備的4215-CVU(CVU),用戶能夠測(cè)量大范圍的電容,<1pF非常低的電容值 也能測(cè)到。CVU采用獨(dú)特的電路設(shè)計(jì),并由Clarius+軟件控制,支持校準(zhǔn)和診斷工具,以確保最準(zhǔn)確的結(jié) 果。使用這種CVU和適當(dāng)?shù)臏y(cè)量技術(shù)可以使用戶實(shí)現(xiàn)多個(gè)噪聲水平的非常低的電容(1e-18f)測(cè)量。

Q5

為了減少Cable&接觸電阻誤差,小電阻測(cè)試應(yīng)該采用哪種方式?

四線法,四線法測(cè)試可以有效消除導(dǎo)線電阻和接觸電阻的影響,從而減少誤差。

Q6

電容補(bǔ)償方式有幾種?

電容補(bǔ)償有三種方式,open補(bǔ)償,short補(bǔ)償,load補(bǔ)償。

Q7

4201 SMU能否有效處理因?yàn)樨?fù)載電容太大而導(dǎo)致的電壓源的振蕩

可以,4201 SMU可以把4200 SMU 的最大負(fù)載電容從10nF 增大到10uF, 從而可以有效處理因?yàn)樨?fù)載電容太大而導(dǎo)致的電壓源振蕩。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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原文標(biāo)題:直播回放 | OLED電學(xué)參數(shù)測(cè)試詳解

文章出處:【微信號(hào):泰克科技,微信公眾號(hào):泰克科技】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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    芯片電學(xué)測(cè)試是什么?都有哪些測(cè)試參數(shù)?

    電學(xué)測(cè)試是芯片測(cè)試的一個(gè)重要環(huán)節(jié),用來描述和評(píng)估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學(xué)測(cè)試包括直流參數(shù)
    的頭像 發(fā)表于 10-26 15:34 ?2218次閱讀

    芯片電學(xué)測(cè)試如何進(jìn)行?包含哪些測(cè)試內(nèi)容?

    應(yīng)用中正常工作。 芯片電學(xué)測(cè)試的內(nèi)容非常廣泛,涉及到多個(gè)方面的測(cè)試,以下是一些常見的測(cè)試內(nèi)容: 1. 電性能測(cè)試:包括電壓、電流、功耗等
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