薄膜電容是一種常見的電容器，主要用于電力電子、音頻和高頻電路中，由金屬化薄膜或金屬箔電極以及絕緣薄膜介質(zhì)構(gòu)成。

根據(jù)介質(zhì)材料的不同，薄膜電容可以分為聚乙酯電容、聚丙烯電容、聚苯乙烯電容等不同類型的薄膜電容。

薄膜電容耐溫高、損耗低、穩(wěn)定性好和自愈能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)，因此在許多電子設(shè)備中得到廣泛應(yīng)用。

電子設(shè)備在長(zhǎng)時(shí)間使用后多多少少會(huì)出一些問題比如電量不耐用，有滋滋噪聲，一卡一頓等情況，薄膜電容也會(huì)出現(xiàn)類似問題。

薄膜電容在長(zhǎng)期使用過程中，容量逐漸減少，薄膜電容容量逐漸減少對(duì)電子設(shè)備的正常運(yùn)行造成影響。

例如容量減小可能導(dǎo)致濾波作用變差、電路頻率特性變化以及功率損耗增加等問題。因此，需要了解薄膜電容容量變少的原因才能根據(jù)這個(gè)問題采取措施。

智旭電子薄膜電容

據(jù)檢查和數(shù)據(jù)顯示，薄膜電容容量變少的可能原因：

1、老化效應(yīng)

薄膜電容在長(zhǎng)期工作過程中，介質(zhì)材料可能會(huì)發(fā)生物理或化學(xué)變化，導(dǎo)致薄膜電容值下降。這種老化效應(yīng)主要表現(xiàn)為介質(zhì)材料的分解、氧化或吸濕等。

2、工作環(huán)境的影響

薄膜電容對(duì)環(huán)境溫度、濕度以及外界給的壓力等較為靈敏。在高溫環(huán)境中，介質(zhì)材料可能會(huì)發(fā)生熱分解或變形，導(dǎo)致薄膜電容容量減小。

而在高濕環(huán)境中，介質(zhì)材料吸濕可能導(dǎo)致電容漏電流增加，進(jìn)而影響薄膜電容容量。

3、電壓過高的影響

薄膜電容在高電壓或高頻率工作條件下，會(huì)加速介質(zhì)材料的劣化，導(dǎo)致薄膜電容容量下降。例如，過高的電壓可能導(dǎo)致介質(zhì)材料擊穿，形成微小的擊穿點(diǎn)，使薄膜電容容量逐漸減小。

4、生產(chǎn)工藝問題

薄膜電容的生產(chǎn)工藝也會(huì)影響其容量的穩(wěn)定性。例如，薄膜厚度不均勻、電極與介質(zhì)的附著不良等都可能導(dǎo)致薄膜電容容量的不穩(wěn)定。

薄膜電容容量變少是一個(gè)常見的不可避免的問題，要找到薄膜電容容量變少的因素并采取相應(yīng)措施，保證電子設(shè)備的正常運(yùn)行。

審核編輯 黃宇