為什么選擇數(shù)字源表來(lái)進(jìn)行鈣鈦礦太陽(yáng)能電池的I-V測(cè)試?

許多半導(dǎo)體和電子裝置測(cè)試都要盡可能快的輸出電壓和測(cè)量電流。整體測(cè)試時(shí)間是由充電時(shí)間、測(cè)量時(shí)間、放電時(shí)間，以及設(shè)定和處理測(cè)試時(shí)間所組成的函數(shù)。傳統(tǒng)的電源只能輸出電壓或電流，而無(wú)法作為負(fù)載吸收能量，而數(shù)字源表(SMU)是一種可以提供完整的四象限運(yùn)行的精密儀表，當(dāng)工作在第2和第4象限時(shí),可以作為阱(負(fù)載)吸收能量，工作在第1和第3象限時(shí)，可以作為源輸出能量，而且在源或阱模式下能同時(shí)測(cè)量電壓、電流和電阻。

數(shù)字源表(SMU)綜合了電流源、電壓源、電流表、電壓表及電子負(fù)載的功能，并能夠輕松地在這些不同功能之間進(jìn)行切換。這使它能夠獨(dú)立測(cè)量器件在所有四個(gè)測(cè)量象限中的I-V特性，不需要使用任何其他設(shè)備。這將極大改善測(cè)試時(shí)間、簡(jiǎn)化整體測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì),并提升可用性。

除了能夠非常精確地輸出和測(cè)量電壓或電流輸出大小，數(shù)字源表(SMU)還具有一致性測(cè)量特性，可以限定電壓或電流輸出大小，預(yù)防器件損壞。

單通道IV測(cè)試方案

單通道I-V測(cè)試系統(tǒng)以普賽斯數(shù)字源表為核心，搭載3A級(jí)太陽(yáng)能模擬光源、夾具、溫度控制器以及專(zhuān)用I-V測(cè)試軟件等組成。可進(jìn)行短路電流(Isc)、開(kāi)路電壓(Voc)、填充因子(FF)等參數(shù)的測(cè)試。

多通道輪詢(xún)I-V測(cè)試方案

方案采用多通道LED光源、通道切換器以及S系列臺(tái)式源表組成。S源表通過(guò)通道切換器輪詢(xún)測(cè)試多顆鈣鈦礦電池。多通道LED光源提供模擬光源，配套多通道太陽(yáng)能電池I-V測(cè)試軟件提升測(cè)試效率。

MPPT并行老化測(cè)試方案

采用普賽斯插卡式源表(CS1010C+CS系列子卡)組建多通道老化測(cè)試方案，具有通道密度高、同步觸發(fā)功能強(qiáng)，多設(shè)備組合效率高等特點(diǎn)。每個(gè)通道老化一塊電池，最大可支持40個(gè)通道老化方案。系統(tǒng)主要分為I-V測(cè)試、MPPT追蹤、V-t 測(cè)試和I-t測(cè)試四個(gè)主測(cè)試項(xiàng)目。

量子效率測(cè)試方案

方案以普賽斯數(shù)字源表為核心，搭配光源系統(tǒng)、光柵掃描單色儀以及樣品測(cè)試暗箱，可進(jìn)行光譜響應(yīng)度、外量子效率、內(nèi)量子效率、發(fā)射率/透射率、短路電流密度等參數(shù)的測(cè)試。

旁路二極管熱性能測(cè)試

熱性能測(cè)試旨在確定二極管的溫度特性以及其在連續(xù)工作條件下的最大結(jié)溫，將組件加熱到指定溫度，并施加Isc或者1.25倍的Isc脈沖電流，脈沖寬度不大于1ms，實(shí)時(shí)檢測(cè)旁路二極管的正向電壓。參照IEC 61215-2規(guī)范，采用普賽斯PL系列窄脈沖LIV測(cè)試系統(tǒng)或HCPL100高電流脈沖電源作為脈沖電流源，輸出脈沖電流時(shí)可同步測(cè)量器件電壓，具有源測(cè)精度高達(dá)0.1%、輸出脈沖邊沿陡(最小100ns)、測(cè)試效率高等優(yōu)點(diǎn)。

PID測(cè)試方案

方案采用E系列高電壓源測(cè)單元作為高壓源，給太陽(yáng)能電池組件的電極和金屬邊框施加1000V或1500V高壓，測(cè)兩端之間是否存在漏電流。設(shè)備采用恒壓測(cè)流模式，最大電壓高達(dá)3500V，最小電流低至1nA。

電池組件測(cè)試方案

鈣鈦礦電池組件通常是通過(guò)多塊電池串并聯(lián)形成，擁有更大電流和功率。普賽斯HCP大功率脈沖源表最大電流100A，最高功率支持5000W，能夠滿足大功率的電池組件I-V測(cè)試需求。

HCP系列大電流臺(tái)式脈沖源表