在摩爾定律的指導(dǎo)下,集成電路的制造工藝一直在往前演進(jìn)。得意與這幾年智能手機(jī)的流行,大家對(duì)節(jié)點(diǎn)了解甚多。例如40nm、28nm、20nm、16nm等等,但是你知道的這些節(jié)點(diǎn)的真正含義嗎?你知道他們是怎么演進(jìn)的嗎?我們來(lái)看一下這個(gè)報(bào)道。
首先解析一下技術(shù)節(jié)點(diǎn)的意思是什么。
常聽(tīng)說(shuō)的,諸如,臺(tái)積電16nm工藝的Nvidia GPU、英特爾14nm工藝的i5,等等,這個(gè)長(zhǎng)度的含義,具體的定義需要詳細(xì)的給出晶體管的結(jié)構(gòu)圖才行,簡(jiǎn)單地說(shuō),在早期的時(shí)候,可以姑且認(rèn)為是相當(dāng)于晶體管的尺寸。
為什么這個(gè)尺寸重要呢?因?yàn)榫w管的作用,簡(jiǎn)單地說(shuō),是把電子從一端(S),通過(guò)一段溝道,送到另一端(D),這個(gè)過(guò)程完成了之后,信息的傳遞就完成了。因?yàn)殡娮拥乃俣仁怯邢薜?,在現(xiàn)代晶體管中,一般都是以飽和速度運(yùn)行的,所以需要的時(shí)間基本就由這個(gè)溝道的長(zhǎng)度來(lái)決定。越短,就越快。這個(gè)溝道的長(zhǎng)度,和前面說(shuō)的晶體管的尺寸,大體上可以認(rèn)為是一致的。但是二者有區(qū)別,溝道長(zhǎng)度是一個(gè)晶體管物理的概念,而用于技術(shù)節(jié)點(diǎn)的那個(gè)尺寸,是制造工藝的概念,二者相關(guān),但是不相等。
在微米時(shí)代,一般這個(gè)技術(shù)節(jié)點(diǎn)的數(shù)字越小,晶體管的尺寸也越小,溝道長(zhǎng)度也就越小。但是在22nm節(jié)點(diǎn)之后,晶體管的實(shí)際尺寸,或者說(shuō)溝道的實(shí)際長(zhǎng)度,是長(zhǎng)于這個(gè)數(shù)字的。比方說(shuō),英特爾的14nm的晶體管,溝道長(zhǎng)度其實(shí)是20nm左右。
根據(jù)現(xiàn)在的了解,晶體管的縮小過(guò)程中涉及到三個(gè)問(wèn)題,分別是:
第一,為什么要把晶體管的尺寸縮???以及是按照怎樣的比例縮小的?這個(gè)問(wèn)題就是在問(wèn),縮小有什么好處?
第二,為什么技術(shù)節(jié)點(diǎn)的數(shù)字不能等同于晶體管的實(shí)際尺寸?或者說(shuō),在晶體管的實(shí)際尺寸并沒(méi)有按比例縮小的情況下,為什么要宣稱(chēng)是新一代的技術(shù)節(jié)點(diǎn)?這個(gè)問(wèn)題就是在問(wèn),縮小有什么技術(shù)困難?
第三,具體如何縮???也就是,技術(shù)節(jié)點(diǎn)的發(fā)展歷程是怎樣的?在每一代都有怎樣的技術(shù)進(jìn)步?這也是題主所提的真正的問(wèn)題。在這里我特指晶體管的設(shè)計(jì)和材料,前面已經(jīng)說(shuō)明過(guò)了。
下面盡我所能來(lái)回答,歡迎指正。
為什么要縮小晶體管尺寸?
第一個(gè)問(wèn)題,因?yàn)榫w管尺寸越小,速度就越快。這個(gè)快是可以直接翻譯為基于晶體管的集成電路芯片的性能上去的。下面以微處理器CPU為例,首先上圖,來(lái)源是《40 Years of Microprocessor Trend Data》
這張圖的信息量很大,這里相關(guān)的是綠色的點(diǎn),代表CPU的時(shí)鐘頻率,越高當(dāng)然越快??梢钥闯鲋钡?004年左右,CPU的時(shí)鐘頻率基本是指數(shù)上升的,背后的主要原因就是晶體管的尺寸縮小。
另外一個(gè)重要的原因是,尺寸縮小之后,集成度(單位面積的晶體管數(shù)量)提升,這有多個(gè)好處,一來(lái)可以增加芯片的功能,二來(lái)更重要的是,根據(jù)摩爾定律,集成度提升的直接結(jié)果是成本的下降。這也是為什么半導(dǎo)體行業(yè)50年來(lái)如一日地追求摩爾定律的原因,因?yàn)槿绻_(dá)不到這個(gè)標(biāo)準(zhǔn),你家的產(chǎn)品成本就會(huì)高于能達(dá)到這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)手,你家就倒閉了。
還有一個(gè)原因是晶體管縮小可以降低單個(gè)晶體管的功耗,因?yàn)榭s小的規(guī)則要求,同時(shí)會(huì)降低整體芯片的供電電壓,進(jìn)而降低功耗。
但是有一個(gè)重要的例外,就是從物理原理上說(shuō),單位面積的功耗并不降低。因此這成為了晶體管縮小的一個(gè)很?chē)?yán)重的問(wèn)題,因?yàn)槔碚撋系挠?jì)算是理想情況,實(shí)際上,不僅不降低,反而是隨著集成度的提高而提高的。在2000左右的時(shí)候,人們已經(jīng)預(yù)測(cè),根據(jù)摩爾定律的發(fā)展,如果沒(méi)有什么技術(shù)進(jìn)步的話,晶體管縮小到2010左右時(shí),其功耗密度可以達(dá)到火箭發(fā)動(dòng)機(jī)的水平,這樣的芯片當(dāng)然是不可能正常工作的。即使達(dá)不到這個(gè)水平,溫度太高也會(huì)影響晶體管的性能。
事實(shí)上,業(yè)界現(xiàn)在也沒(méi)有找到真正徹底解決晶體管功耗問(wèn)題的方案,實(shí)際的做法是一方面降低電壓(功耗與電壓的平方成正比),一方面不再追求時(shí)鐘頻率。因此在上圖中,2005年以后,CPU頻率不再增長(zhǎng),性能的提升主要依靠多核架構(gòu)。這個(gè)被稱(chēng)作“功耗墻”,至今仍然存在,所以你買(mǎi)不到5GHZ的處理器,4G的都幾乎沒(méi)有。
以上是三個(gè)縮小晶體管的主要誘因??梢钥闯觯际侵亓考?jí)的提升性能、功能、降低成本的方法,所以業(yè)界才會(huì)一直堅(jiān)持到現(xiàn)在。
那么是怎樣縮小的呢?物理原理是恒定電場(chǎng),因?yàn)榫w管的物理學(xué)通俗的說(shuō),是電場(chǎng)決定的,所以只要電場(chǎng)不變,晶體管的模型就不需要改變,這種方式被證明效果最佳,被稱(chēng)為Dennard Scaling,提出者是IBM。
電場(chǎng)等于電壓除以尺寸。既然要縮小尺寸,就要等比降低電壓。
如何縮小尺寸?簡(jiǎn)單粗暴:將面積縮小到原來(lái)的一半就好了。面積等于尺寸的平方,因此尺寸就縮小大約0.7。如果看一下晶體管技術(shù)節(jié)點(diǎn)的數(shù)字:
130nm、90nm、 65nm、 45nm、 32nm、 22nm、 14nm、 10nm、 7nm (5nm)
會(huì)發(fā)現(xiàn)是一個(gè)大約為0.7為比的等比數(shù)列,就是這個(gè)原因。當(dāng)然,前面說(shuō)過(guò),在現(xiàn)在,這只是一個(gè)命名的習(xí)慣,跟實(shí)際尺寸已經(jīng)有差距了。
為什么節(jié)點(diǎn)的數(shù)字不能等同于晶體管的實(shí)際尺寸?
第二個(gè)問(wèn)題,為什么現(xiàn)在的技術(shù)節(jié)點(diǎn)不再直接反應(yīng)晶體管的尺寸呢?
原因也很簡(jiǎn)單,因?yàn)闊o(wú)法做到這個(gè)程度的縮小了。有三個(gè)原因是主要的:
首先,原子尺度的計(jì)量單位是安,為0.1nm。
10nm的溝道長(zhǎng)度,也就只有不到100個(gè)硅原子而已。晶體管本來(lái)的物理模型這樣的:用量子力學(xué)的能帶論計(jì)算電子的分布,但是用經(jīng)典的電流理論計(jì)算電子的輸運(yùn)。電子在分布確定之后,仍然被當(dāng)作一個(gè)粒子來(lái)對(duì)待,而不是考慮它的量子效應(yīng)。因?yàn)槌叽绱?,所以不需要。但是越小,就越不行了,就需要考慮各種復(fù)雜的物理效應(yīng),晶體管的電流模型也不再適用。
其次,即使用經(jīng)典的模型,性能上也出了問(wèn)題,這個(gè)叫做短溝道效應(yīng),其效果是損害晶體管的性能。
短溝道效應(yīng)其實(shí)很好理解,通俗地講,晶體管是一個(gè)三個(gè)端口的開(kāi)關(guān)。前面已經(jīng)說(shuō)過(guò),其工作原理是把電子從一端(源端)弄到另一端(漏端),這是通過(guò)溝道進(jìn)行的,另外還有一個(gè)端口(柵端)的作用是,決定這條溝道是打開(kāi)的,還是關(guān)閉的。這些操作都是通過(guò)在端口上加上特定的電壓來(lái)完成的。
晶體管性能依賴(lài)的一點(diǎn)是,必須要打得開(kāi),也要關(guān)得緊。短溝道器件,打得開(kāi)沒(méi)問(wèn)題,但是關(guān)不緊,原因就是尺寸太小,內(nèi)部有很多電場(chǎng)上的互相干擾,以前都是可以忽略不計(jì)的,現(xiàn)在則會(huì)導(dǎo)致柵端的電場(chǎng)不能夠發(fā)揮全部的作用,因此關(guān)不緊。關(guān)不緊的后果就是有漏電流,簡(jiǎn)單地說(shuō)就是不需要、浪費(fèi)的電流。
這部分電流可不能小看,因?yàn)榇藭r(shí)晶體管是在休息,沒(méi)有做任何事情,卻在白白地耗電。目前,集成電路中的這部分漏電流導(dǎo)致的能耗,已經(jīng)占到了總能耗的接近半數(shù),所以也是目前晶體管設(shè)計(jì)和電路設(shè)計(jì)的一個(gè)最主要的目標(biāo)。
最后,制造工藝也越來(lái)越難做到那么小的尺寸了。
決定制造工藝的最小尺寸的東西,叫做光刻機(jī)。它的功能是,把預(yù)先印制好的電路設(shè)計(jì),像洗照片一樣洗到晶片表面上去,在我看來(lái)就是一種bug級(jí)的存在,因?yàn)橥掏侣史浅5馗?。否則那么復(fù)雜的集成電路,如何才能制造出來(lái)呢?比如英特爾的奔騰4處理器,據(jù)說(shuō)需要30多還是40多張不同的設(shè)計(jì)模板,先后不斷地曝光,才能完成整個(gè)處理器的設(shè)計(jì)的印制。
但是光刻機(jī),顧名思義,是用光的,當(dāng)然不是可見(jiàn)光,但總之是光。
而稍有常識(shí)就會(huì)知道,所有用光的東西,都有一個(gè)本質(zhì)的問(wèn)題,就是衍射。光刻機(jī)不例外。
因?yàn)檫@個(gè)問(wèn)題的制約,任何一臺(tái)光刻機(jī)所能刻制的最小尺寸,基本上與它所用的光源的波長(zhǎng)成正比。波長(zhǎng)越小,尺寸也就越小,這個(gè)道理是很簡(jiǎn)單的。
目前的主流生產(chǎn)工藝采用荷蘭艾斯摩爾生產(chǎn)的步進(jìn)式光刻機(jī),所使用的光源是193nm的氟化氬(ArF)分子振蕩器(這個(gè)名稱(chēng)記不清了)產(chǎn)生的,被用于最精細(xì)的尺寸的光刻步驟。
相比之下,目前的最小量產(chǎn)的晶體管尺寸是20nm (14nm node),已經(jīng)有了10倍以上的差距。
有人問(wèn)為何沒(méi)有衍射效應(yīng)呢?答案是業(yè)界十多年來(lái)在光刻技術(shù)上投入了巨資,先后開(kāi)發(fā)了各種魔改級(jí)別的暴力技術(shù),諸如浸入式光刻(把光程放在某種液體里,因?yàn)楣獾恼凵渎矢?,而最小尺寸反比于折射率)、相位掩模(通過(guò)180度反向的方式來(lái)讓產(chǎn)生的衍射互相抵消,提高精確度),等等,可歌可泣,就這樣一直撐到了現(xiàn)在,支持了60nm以來(lái)的所有技術(shù)節(jié)點(diǎn)的進(jìn)步。
那又有人問(wèn),為何不用更小波長(zhǎng)的光源呢?答案是,工藝上暫時(shí)做不到。
是的,高端光刻機(jī)的光源,是世界級(jí)的工業(yè)難題。
以上就是目前主流的深紫外曝光技術(shù)(DUV)。業(yè)界普遍認(rèn)為,7nm技術(shù)節(jié)點(diǎn)是它的極限了,甚至7nm都不一定能夠做到量產(chǎn)。下一代技術(shù)仍然在開(kāi)發(fā)之中,被稱(chēng)為極紫外(EUV),其光源降到了13nm。但是別高興地太早,因?yàn)樵谶@個(gè)波長(zhǎng),已經(jīng)沒(méi)有合適地介質(zhì)可以用來(lái)折射光,構(gòu)成必須的光路了,因此這個(gè)技術(shù)里面的光學(xué)設(shè)計(jì),全部是反射,而在如此高的精度下,設(shè)計(jì)如此復(fù)雜的反射光路,本身就是難以想象的技術(shù)難題。
這還不算(已經(jīng)能克服了),最難的還是光源,雖然可以產(chǎn)生所需的光線,但是強(qiáng)度遠(yuǎn)低于工業(yè)生產(chǎn)的需求,造成EUV光刻機(jī)的晶圓產(chǎn)量達(dá)不到要求,換言之拿來(lái)用就會(huì)賠本。一臺(tái)這種機(jī)器,就是上億美元。所以EUV還屬于未來(lái)。
有以上三個(gè)原因,其實(shí)很早開(kāi)始就導(dǎo)致晶體管的尺寸縮小進(jìn)入了深水區(qū),越來(lái)越難,到了22nm之后,已經(jīng)無(wú)法做大按比例縮小了,因此就沒(méi)有再追求一定要縮小,反而是采用了更加優(yōu)化的晶體管設(shè)計(jì),配合上CPU架構(gòu)上的多核多線程等一系列技術(shù),繼續(xù)為消費(fèi)者提供相當(dāng)于更新?lián)Q代了的產(chǎn)品性能。
因?yàn)檫@個(gè)原因,技術(shù)節(jié)點(diǎn)的數(shù)字仍然在縮小,但是已然不再等同于晶體管的尺寸,而是代表一系列構(gòu)成這個(gè)技術(shù)節(jié)點(diǎn)的指標(biāo)的技術(shù)和工藝的總和。
晶體管縮小過(guò)程中面對(duì)的問(wèn)題
第三個(gè)問(wèn)題,技術(shù)節(jié)點(diǎn)的縮小過(guò)程中,晶體管的設(shè)計(jì)是怎樣發(fā)展的。
首先搞清楚,晶體管設(shè)計(jì)的思路是什么。主要的無(wú)非兩點(diǎn):第一提升開(kāi)關(guān)響應(yīng)度,第二降低漏電流。
為了講清楚這個(gè)問(wèn)題,最好的方法是看圖。晶體管物理的圖,基本上搞清楚一張就足夠了,就是漏電流-柵電壓的關(guān)系圖,比如下面這種:
橫軸代表柵電壓,縱軸代表漏電流,并且縱軸一般是對(duì)數(shù)坐標(biāo)。
前面說(shuō)過(guò),柵電壓控制晶體管的開(kāi)關(guān)??梢钥闯?,最好的晶體管,是那種能夠在很小的柵電壓變化內(nèi),一下子就從完全關(guān)閉(漏電流為0),變成完全打開(kāi)(漏電流達(dá)到飽和值),也就是虛線。這個(gè)性質(zhì)有多方面的好處,接下來(lái)再說(shuō)。
顯然這種晶體管不存在于這個(gè)星球上。原因是,在經(jīng)典的晶體管物理理論下,衡量這個(gè)開(kāi)關(guān)響應(yīng)能力的標(biāo)準(zhǔn),叫做Subthreshold Swing(SS,不是黨衛(wèi)軍...),有一個(gè)極限值,約為60,背后的原因就不細(xì)說(shuō)了。
英特爾的數(shù)據(jù)上,最新的14nm晶體管,這個(gè)數(shù)值大概是70左右(越低越好)。
并且,降低這個(gè)值,和降低漏電流、提升工作電流(提高速度)、降低功耗等要求,是等同的,因?yàn)檫@個(gè)值越低,在同樣的電壓下,漏電流就越低。而為了達(dá)到同樣的工作電流,需要的電壓就越低,這樣等同于降低了功耗。所以說(shuō)這個(gè)值是晶體管設(shè)計(jì)里面最重要的指標(biāo),不過(guò)分。
圍繞這個(gè)指標(biāo),以及背后的晶體管性能設(shè)計(jì)的幾個(gè)目標(biāo),大家都做了哪些事情呢?
先看工業(yè)界,畢竟實(shí)踐是檢驗(yàn)真理的唯一標(biāo)準(zhǔn)。下面是我的記憶,和節(jié)點(diǎn)的對(duì)應(yīng)不一定完全準(zhǔn)確,但具體的描述應(yīng)該沒(méi)錯(cuò):
65nm 引入Ge strained的溝道。
strain我不知道如何翻譯成中文詞匯,但是其原理是通過(guò)在適當(dāng)?shù)牡胤綋诫s一點(diǎn)點(diǎn)的鍺到硅里面去,鍺和硅的晶格常數(shù)不同,因此會(huì)導(dǎo)致硅的晶格形狀改變,而根據(jù)能帶論,這個(gè)改變可以在溝道的方向上提高電子的遷移率,而遷移率高,就會(huì)提高晶體管的工作電流。而在實(shí)際中,人們發(fā)現(xiàn),這種方法對(duì)于空穴型溝道的晶體管(pmos),比對(duì)電子型溝道的晶體管(nmos),更加有效。
里程碑的突破,45nm引入高K值的絕緣層
45nm 引入了高k值絕緣層/金屬柵極的配置。
這個(gè)也是一個(gè)里程碑的成果,我在念書(shū)的時(shí)候曾經(jīng)有一位幫他搬過(guò)磚的教授,當(dāng)年是在英特爾開(kāi)發(fā)了這項(xiàng)技術(shù)的團(tuán)隊(duì)的主要成員之一,因此對(duì)這一點(diǎn)提的特別多,耳濡目染就記住了。
這是兩項(xiàng)技術(shù),但其實(shí)都是為了解決同一個(gè)問(wèn)題:在很小的尺寸下,如何保證柵極有效的工作。
前面沒(méi)有細(xì)說(shuō)晶體管的結(jié)構(gòu),下面補(bǔ)一張圖:
這是一個(gè)最基本的晶體管的結(jié)構(gòu)示意圖,現(xiàn)在的晶體管早就不長(zhǎng)這樣了,但是任何半導(dǎo)體物理都是從這兒開(kāi)始講起的,所以這是“標(biāo)配版”的晶體管,又被稱(chēng)為體硅(bulk)晶體管。
gate就是柵。
其中有一個(gè)oxide,絕緣層,前面沒(méi)有提到,但是卻是晶體管所有的構(gòu)件中,最關(guān)鍵的一個(gè)。它的作用是隔絕柵極和溝道。因?yàn)闁艠O開(kāi)關(guān)溝道,是通過(guò)電場(chǎng)進(jìn)行的,電場(chǎng)的產(chǎn)生又是通過(guò)在柵極上加一定的電壓來(lái)實(shí)現(xiàn)的,但是歐姆定律告訴我們,有電壓就有電流。如果有電流從柵極流進(jìn)了溝道,那么還談什么開(kāi)關(guān)?早就漏了。
所以需要絕緣層。為什么叫oxide(or "dielectric")而不叫insulator呢?因?yàn)樽钤绲慕^緣層就是和硅非常自然地共處的二氧化硅,其相對(duì)介電常數(shù)(衡量絕緣性的,越高,對(duì)晶體管性能來(lái)說(shuō),越好)約是3.9。一個(gè)好的絕緣層是晶體管的生命線,這個(gè)“好”的定義在這里不多說(shuō)了,但是要說(shuō)明,硅天然就具有這么一個(gè)性能超級(jí)好的絕緣層,對(duì)于半導(dǎo)體工業(yè)來(lái)說(shuō),是一件有歷史意義的幸運(yùn)的事情。有人曾經(jīng)感慨,說(shuō)上帝都在幫助人類(lèi)發(fā)明集成電路,首先給了那么多的沙子(硅晶圓的原料),又給了一個(gè)完美的自然絕緣層。所以至今,硅極其難被取代,一個(gè)重要原因就是,作為制造晶體管的材料,其綜合性能太完美了。
二氧化硅雖好,在尺寸縮小到一定限度時(shí),也出現(xiàn)了問(wèn)題。別忘了縮小的過(guò)程中,電場(chǎng)強(qiáng)度是保持不變的,在這樣的情況下,從能帶的角度看,因?yàn)殡娮拥牟▌?dòng)性,如果絕緣層很窄很窄的話,那么有一定的幾率電子會(huì)發(fā)生隧穿效應(yīng)而越過(guò)絕緣層的能帶勢(shì)壘,產(chǎn)生漏電流??梢韵胂鬄榇┻^(guò)一堵比自己高的墻。這個(gè)電流的大小和絕緣層的厚度,以及絕緣層的“勢(shì)壘高度”,成負(fù)相關(guān)。因此厚度越小,勢(shì)壘越低,這個(gè)漏電流越大,對(duì)晶體管越不利。
但是在另一方面,晶體管的開(kāi)關(guān)性能、工作電流等等,都需要擁有一個(gè)很大的絕緣層電容。實(shí)際上,如果這個(gè)電容無(wú)限大的話,那么就會(huì)達(dá)到理想化的60的那個(gè)SS指標(biāo)。這里說(shuō)的電容都是指單位面積的電容。這個(gè)電容等于介電常數(shù)除以絕緣層的厚度。顯然,厚度越小,介電常數(shù)越大,對(duì)晶體管越有利。
那么可以看出,這里已經(jīng)出現(xiàn)了一對(duì)設(shè)計(jì)目標(biāo)上的矛盾,那就是絕緣層的厚度要不要繼續(xù)縮小。實(shí)際上在這個(gè)節(jié)點(diǎn)之前,二氧化硅已經(jīng)縮小到了不到兩個(gè)納米的厚度,也就是十幾個(gè)原子層的厚度,漏電流的問(wèn)題已經(jīng)取代了性能的問(wèn)題,成為頭號(hào)大敵。
于是聰明絕頂?shù)娜祟?lèi)開(kāi)始想辦法。人類(lèi)很貪心的,既不愿意放棄大電容的性能增強(qiáng),又不愿意冒漏電的風(fēng)險(xiǎn)。于是人類(lèi)說(shuō),如果有一種材料,介電常數(shù)很高,同時(shí)能帶勢(shì)壘也很高,那么是不是就可以在厚度不縮小的情況下(保護(hù)漏電流),繼續(xù)提升電容(提高開(kāi)關(guān)性能)呢?
于是大家就開(kāi)始找,用幾乎暴力的方法,找了許多種奇奇怪怪的材料,終于最后經(jīng)過(guò)驗(yàn)證,確定使用一種名為HfO2的材料。這個(gè)元素我以前聽(tīng)都沒(méi)有聽(tīng)過(guò),中文念什么我都說(shuō)不上來(lái)。就是這么牛。這個(gè)就叫做high-k,這里的k是相對(duì)介電常數(shù)(相對(duì)于二氧化硅的而言)。
當(dāng)然,這個(gè)工藝的復(fù)雜程度,遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)這里描述的這么簡(jiǎn)單。具備high-k性質(zhì)的材料很多,但是最終被采用的材料,一定要具備許多優(yōu)秀的電學(xué)性質(zhì),因?yàn)槎趸枵娴氖且豁?xiàng)非常完美的晶體管絕緣層材料,而且制造工藝流程和集成電路的其它制造步驟可以方便地整合,所以找到這樣一項(xiàng)各方面都符合半導(dǎo)體工藝制造的要求的高性能絕緣層材料,是一件了不起的工程成就。
至于金屬柵,是與high-k配套的一項(xiàng)技術(shù)。在晶體管的最早期,柵極是用鋁制作,后來(lái)經(jīng)過(guò)發(fā)展,改用重?fù)诫s多晶硅制作,因?yàn)楣に嚭?jiǎn)單,性能好。到了high-k這里,大家發(fā)現(xiàn),high-k材料有兩個(gè)副作用,一是會(huì)莫名其妙地降低工作電流,二是會(huì)改變晶體管的閾值電壓。閾值電壓就是把晶體管的溝道打開(kāi)所需要的最小電壓值,這個(gè)值是非常重要的晶體管參數(shù)。
這個(gè)原理不細(xì)說(shuō)了,主要原因是,high-k材料會(huì)降低溝內(nèi)的道載流子遷移率,并且影響在界面上的費(fèi)米能級(jí)的位置。載流子遷移率越低,工作電流就越低,而所謂的費(fèi)米能級(jí),是從能帶論的圖像上來(lái)解釋半導(dǎo)體電子分布的一種分析方法,簡(jiǎn)單地說(shuō),它的位置會(huì)影響晶體管的閾值電壓。這兩個(gè)問(wèn)題的產(chǎn)生,都和high-k材料內(nèi)部的偶極子分布有關(guān)。偶極子是一端正電荷一端負(fù)電荷的一對(duì)電荷系統(tǒng),可以隨著外加電場(chǎng)的方向而改變自己的分布,high-k材料的介電常數(shù)之所以高的原因,就跟內(nèi)部的偶極子有很大關(guān)系。所以這是一把雙刃劍。
于是人類(lèi)又想,就想到了用金屬做柵極,因?yàn)榻饘儆幸粋€(gè)效應(yīng)叫做鏡像電荷,可以中和掉high-k材料的絕緣層里的偶極子對(duì)溝道和費(fèi)米能級(jí)的影響。這樣一來(lái)就兩全其美啦。至于這種或這幾種金屬究竟是什么,很抱歉,除了掌握技術(shù)的那幾家企業(yè)之外,外界沒(méi)有人知道,是商業(yè)機(jī)密。
于是摩爾定律再次勝利。
32nm 第二代的high-k絕緣層/金屬柵工藝。
因?yàn)?5nm英特爾取得了巨大的成功(在很多晶體管、微處理器的發(fā)展圖上,45nm這一代的晶體管,會(huì)在功耗、性能等方面突然出現(xiàn)一個(gè)較大的進(jìn)步折線),32nm時(shí)候繼續(xù)在基礎(chǔ)上改換更好的材料,繼續(xù)了縮小尺寸的老路。當(dāng)然,前代的Ge strain工藝也是繼續(xù)使用的。
22nm FinFET(英特爾成為T(mén)ri-gate),三柵極晶體管。
這一代的晶體管,在架構(gòu)上進(jìn)行了一次變革。變革的最早設(shè)計(jì)可以追溯到伯克利的胡正明教授2000左右提出的三柵極和環(huán)柵晶體管物理模型,后來(lái)被英特爾變?yōu)榱爽F(xiàn)實(shí)。
FinFET 一般模型長(zhǎng)這樣。它的實(shí)質(zhì)上是增加了一個(gè)柵極。
為什么要這么做呢?直觀地說(shuō),如果看回前面的那張“標(biāo)配版”的晶體管結(jié)構(gòu)圖的話,在尺寸很短的晶體管里面,因?yàn)槎虦系佬?yīng),漏電流是比較嚴(yán)重的。而大部分的漏電流,是通過(guò)溝道下方的那片區(qū)域流通的。溝道在圖上并沒(méi)有標(biāo)出來(lái),是位于氧化絕緣層以下、硅晶圓表面的非常非常?。ㄒ粌蓚€(gè)納米)的一個(gè)窄窄的薄層。溝道下方的區(qū)域被稱(chēng)為耗盡層,就是大部分的藍(lán)色區(qū)域。
聰明的IBM,天才英特爾
于是有人就開(kāi)始想啊,既然電子是在溝道中運(yùn)動(dòng),那么我為何非要在溝道下面留有這么一大片耗盡層呢?當(dāng)然這是有原因的,因?yàn)槲锢砟P托枰@片區(qū)域來(lái)平衡電荷。但是在短溝道器件里面,沒(méi)有必要非要把耗盡層和溝道放在一起,等著漏電流白白地流過(guò)去。
于是有人(IBM)開(kāi)了一個(gè)腦洞:把這部分硅直接拿掉,換成絕緣層,絕緣層下面才是剩下的硅,這樣溝道就和耗盡層分開(kāi)了,因?yàn)殡娮觼?lái)源于兩極,但是兩極和耗盡層之間,被絕緣層隔開(kāi)了,這樣除了溝道之外,就不會(huì)漏電啦。比如這樣:
這個(gè)叫做SOI(絕緣層上硅),雖然沒(méi)有成為主流,但是因?yàn)橛衅鋬?yōu)勢(shì),所以現(xiàn)在還有制造廠在搞。
于是有人(英特爾)又想了,既然都是拿掉耗盡層的硅,插入一層氧化層,那么為什么非要放上一堆沒(méi)用的硅在下面,直接在氧化層底下,再弄一個(gè)柵極,兩邊夾著溝道,豈不是更爽?你看你IBM,就是沒(méi)雄心。
但是英特爾還覺(jué)得不夠,又想,既然如此,有什么必要非得把氧化層埋在硅里面?我把硅弄出來(lái),周?chē)髦我粯拥匕辖^緣層,外面再放上柵極,豈不是爽爆?
于是就有了FinFET,上面這種。FinFET牛逼的地方在于,不僅大大降低了漏電流,而且因?yàn)橛卸嘁粋€(gè)柵極,這兩個(gè)柵極一般都是連在一起的,因此等于大大地增加了前面說(shuō)過(guò)的那個(gè)絕緣層電容,也就是大大地提升了晶體管的開(kāi)關(guān)性能。所以又是一次革命式的進(jìn)步。
這個(gè)設(shè)計(jì)其實(shí)不難想到,難的是,能夠做到。為什么呢?因?yàn)樨Q起來(lái)的那一部分硅,也就是用作溝道的硅,太薄了,只有不到10個(gè)納米,不僅遠(yuǎn)小于晶體管的最小尺寸,也遠(yuǎn)小于最精密的光刻機(jī)所能刻制的最小尺寸。于是如何把這個(gè)Fin給弄出來(lái),還得弄好,成了真正的難題。
英特爾的做法是很聰明的,解釋起來(lái)需要很多張工藝流程圖,不多說(shuō),但是基本原理是,這部分硅不是光刻出來(lái)的,而是長(zhǎng)出來(lái)的。它先用普通精度的光刻刻出一堆“架子,然后在沉淀一層硅,在架子的邊緣就會(huì)長(zhǎng)出一層很薄的硅,然后再用選擇性的刻蝕把多余的材料弄走,剩下的就是這些立著的、超薄的硅fin了。當(dāng)時(shí)我聽(tīng)說(shuō)這套方法的時(shí)候,徹底跪了,這智商太碾壓人了。
14nm 繼續(xù)FinFET。下面是英特爾的14nm晶體管的SEM橫截面圖,大家感受一下,fin的寬度只有平均9nm:
當(dāng)然了,在所有的后代的技術(shù)節(jié)點(diǎn)中,前代的技術(shù)也是繼續(xù)整合采用的。所以現(xiàn)在,在業(yè)界和研究界,一般聽(tīng)到的晶體管,都被稱(chēng)作high-k/metal gate Ge-strained 14 nm FinFET,整合了多年的技術(shù)精華。
為摩爾定律的延續(xù)而奮斗
而在學(xué)術(shù)界,近些年陸續(xù)搞出了各種異想天開(kāi)的新設(shè)計(jì),比如隧穿晶體管啦,負(fù)電容效應(yīng)晶體管啦,碳納米管啦,等等。
所有這些設(shè)計(jì),基本是四個(gè)方向,材料、機(jī)理、工藝、結(jié)構(gòu)。而所有的設(shè)計(jì)方案,其實(shí)可以用一條簡(jiǎn)單的思路概括,就是前面提到的那個(gè)SS值的決定公式,里面有兩項(xiàng)相乘組成:
(for this expression. The first term could be seen as electrostatics, the second term could be seen as transport. This is not a very physically strict way to describe, but it provides a convenient picture of various ways to improve transistor properties.)
因此,改進(jìn)要么是改善晶體管的靜電物理(electrostatics),這是其中一項(xiàng),要么改善溝道的輸運(yùn)性質(zhì)(transport),這是另一項(xiàng)。
而晶體管設(shè)計(jì)里面,除了考慮開(kāi)關(guān)性能之外,還需要考慮另一個(gè)性能,就是飽和電流問(wèn)題。很多人對(duì)這個(gè)問(wèn)題有誤解,以為飽不飽和不重要,其實(shí)電流能飽和才是晶體管能夠有效工作的根本原因,因?yàn)椴伙柡偷脑?,晶體管就不能保持信號(hào)的傳遞,因此無(wú)法攜帶負(fù)載,換言之只中看,不中用,放到電路里面去,根本不能正常工作的。
舉個(gè)例子,有段時(shí)間石墨烯晶體管很火,石墨烯作溝道的思路是第二項(xiàng),就是輸運(yùn),因?yàn)槭┑碾娮舆w移率遠(yuǎn)遠(yuǎn)地完爆硅。但直到目前,石墨烯晶體管還沒(méi)有太多的進(jìn)展,因?yàn)槭┯袀€(gè)硬傷,就是不能飽和電流。但是,去年貌似聽(tīng)說(shuō)有人能做到調(diào)控石墨烯的能帶間隙打開(kāi)到關(guān)閉,石墨烯不再僅僅是零帶隙,想來(lái)這或許會(huì)在晶體管材料方面產(chǎn)生積極的影響。
在去年的IEDM會(huì)議上,臺(tái)積電已經(jīng)領(lǐng)先英特爾,發(fā)布了7nm技術(shù)節(jié)點(diǎn)的晶體管樣品,而英特爾已經(jīng)推遲了10nm的發(fā)布。當(dāng)然,兩者的技術(shù)節(jié)點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)不一樣,臺(tái)積電的7nm其實(shí)相當(dāng)于英特爾的10nm,但是臺(tái)積電率先拿出了成品。三星貌似也在會(huì)上發(fā)表了自己的7nm產(chǎn)品。
可以看出,摩爾定律確實(shí)放緩了,22nm是在2010左右出來(lái)的,到了現(xiàn)在,技術(shù)節(jié)點(diǎn)并沒(méi)有進(jìn)步到10nm以下。而且去年,ITRS已經(jīng)宣布不再制定新的技術(shù)路線圖,換言之,權(quán)威的國(guó)際半導(dǎo)體機(jī)構(gòu)已經(jīng)不認(rèn)為,摩爾定律的縮小可以繼續(xù)下去了。
這就是技術(shù)節(jié)點(diǎn)的主要現(xiàn)狀。
技術(shù)節(jié)點(diǎn)不能進(jìn)步,是不是一定就是壞事?其實(shí)不一定。28nm這個(gè)節(jié)點(diǎn),其實(shí)不屬于前面提到的標(biāo)準(zhǔn)的dennard scaling的一部分,但是這個(gè)技術(shù)節(jié)點(diǎn),直到現(xiàn)在,仍然在半導(dǎo)體制造業(yè)界占據(jù)了很大的一塊市場(chǎng)份額。臺(tái)積電、中芯國(guó)際等這樣的大代工廠,都是在28nm上玩得很轉(zhuǎn)的。為何呢?因?yàn)檫@個(gè)節(jié)點(diǎn)被證明是一個(gè)在成本、性能、需求等多方面達(dá)到了比較優(yōu)化的組合的一個(gè)節(jié)點(diǎn),很多芯片產(chǎn)品,并不需要使用過(guò)于昂貴的FinFET技術(shù),28nm能夠滿(mǎn)足自己的需求。
但是有一些產(chǎn)品,比如主流的CPU、GPU、FPGA、memory這些,其性能的提升有相當(dāng)一部分來(lái)自于工藝的進(jìn)步。所以再往后如何繼續(xù)提升這些產(chǎn)品的性能,是很多人心中的問(wèn)號(hào),也是新的機(jī)會(huì)。
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