HJT太陽電池因其高能量轉(zhuǎn)換效率、較少的制造工序、較低的制備溫度和更優(yōu)的溫度系數(shù)而受到廣泛關(guān)注。HJT太陽電池的低溫制備特性限制了漿料的選擇,導(dǎo)致銀漿導(dǎo)電性較差,成本較高。為降低成本,行業(yè)內(nèi)開發(fā)了多種方案,如銀包銅漿料、電鍍銅技術(shù)、激光轉(zhuǎn)印技術(shù)和無主柵技術(shù)等。太陽電池的制備

HJT 太陽電池的結(jié)構(gòu)示意圖
使用n型硅片作為襯底,依次進(jìn)行堿制絨、等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(PECVD)制備非晶硅薄膜、磁控濺射(PVD)沉積透明導(dǎo)電氧化物薄膜(TCO)和絲網(wǎng)印刷制作金屬電極,制備得到HJT太陽電池。采用銀含量為50%的銀包銅漿料制備金屬電極。銀包銅柵線的結(jié)構(gòu)表征及拉力性能

銀包銅 HJT 太陽電池正面細(xì)柵線的 SEM 圖
銀包銅漿料中的粉末呈球形顆粒狀,分散性良好,柵線呈現(xiàn)出清晰的結(jié)構(gòu),銀包銅顆粒均勻分布在柵線中,表明漿料在低溫?zé)Y(jié)過程中能夠形成良好的導(dǎo)電性。這種均勻分布有助于提高電極的導(dǎo)電性和與透明導(dǎo)電氧化物(TCO)薄膜的接觸性能。

銀包銅 HJT 太陽電池正面柵線的形貌圖
通過3D顯微鏡拍攝的柵線形貌圖,顯示柵線的平整度和均勻性。柵線的平整度存在差異,高低起伏不均勻,可能是由于網(wǎng)版的網(wǎng)結(jié)導(dǎo)致線型均勻性差。
銀包銅柵線的平均線寬約為43μm,平均線高約為14μm,高寬比約為32.5%,略低于常規(guī)低溫銀漿HJT太陽電池柵線的性能,但銀包銅柵線仍能實(shí)現(xiàn)良好的電極功能,且具有足夠的機(jī)械強(qiáng)度。

銀包銅 HJT 太陽電池正面柵線拉力圖
銀包銅HJT太陽電池正面柵線的拉力測試結(jié)果:拉力基本在2.0 N以上,最高達(dá)到7.4 N,平均拉力為3.5 N,表明柵線的機(jī)械性能合格。
銀包銅柵線的拉力性能與傳統(tǒng)低溫銀漿相當(dāng),甚至略高,說明其在機(jī)械性能上能夠滿足實(shí)際應(yīng)用需求。電性能研究
銀包銅 HJT 太陽電池的光電轉(zhuǎn)換效率分布圖
銀包銅 HJT 太陽電池的電性能
銀包銅HJT太陽電池光電轉(zhuǎn)換效率主要集中在24.3%~24.7%之間,占比最高的檔位為24.5%(占比22.8%),表明銀包銅HJT太陽電池具有良好的光電轉(zhuǎn)換性能。
采用72片銀包銅HJT太陽電池制備的光伏組件,封裝損失(CTM)為97.3%,與常規(guī)低溫銀漿HJT光伏組件相當(dāng)。可靠性檢測
初始性能測試
5個銀包銅HJT光伏組件樣品的初始性能參數(shù),樣品的正面平均輸出功率為434.49 W,背面為365.33 W,雙面發(fā)電效率達(dá)到84.1%。DH 測試
DH 測試后樣品的輸出功率衰減情況和 EL 圖像
低功率衰減:經(jīng)過3000小時的濕熱測試,組件的輸出功率衰減率僅為2.6%,顯示出良好的穩(wěn)定性。
無內(nèi)部缺陷:EL圖像未發(fā)現(xiàn)裂紋或黑斑,表明組件內(nèi)部結(jié)構(gòu)完整,銀包銅柵線在濕熱環(huán)境下具有優(yōu)異的抗氧化性能。
可靠性驗(yàn)證:銀包銅HJT光伏組件在濕熱條件下表現(xiàn)出色,驗(yàn)證了其在復(fù)雜環(huán)境下的長期可靠性,為銀包銅漿料的實(shí)際應(yīng)用提供了有力支持。“DH1000+負(fù)載”測試
“DH1000+機(jī)械負(fù)載”測試后輸出功率衰減情況和 EL 圖像
低功率衰減:正面輸出功率衰減僅為0.68%,背面輸出功率略有增加,表明組件在復(fù)雜環(huán)境條件下仍能保持較高的性能。
無內(nèi)部損壞:EL圖像未發(fā)現(xiàn)任何異常,進(jìn)一步驗(yàn)證了銀包銅柵線在機(jī)械負(fù)載下的完整性和抗損壞能力。
可靠性驗(yàn)證:銀包銅HJT光伏組件在濕熱和機(jī)械負(fù)載條件下表現(xiàn)出色,驗(yàn)證了其在實(shí)際應(yīng)用中的長期穩(wěn)定性和可靠性。TC 測試

TC 測試后樣品的輸出功率衰減情況和 EL 圖像
低功率衰減:在600次溫度循環(huán)后,正面輸出功率衰減率僅為0.72%,背面輸出功率衰減率僅為0.03%,顯示出組件在溫度變化環(huán)境下的良好耐久性。
無內(nèi)部損壞:EL圖像未發(fā)現(xiàn)裂紋、黑斑或其他異常現(xiàn)象,進(jìn)一步驗(yàn)證了組件在溫度循環(huán)測試后的內(nèi)部結(jié)構(gòu)完整性。
可靠性驗(yàn)證:銀包銅HJT光伏組件在溫度循環(huán)條件下表現(xiàn)出色,驗(yàn)證了其在復(fù)雜環(huán)境下的長期穩(wěn)定性和可靠性。PID 測試

PID 測試后樣品的輸出功率衰減情況和 EL 圖像
低功率衰減:在3次共576小時的PID測試后,正面輸出功率衰減率僅為1.09%,背面輸出功率衰減率僅為0.63%,顯示出組件在電位誘導(dǎo)條件下的良好穩(wěn)定性。
無內(nèi)部損壞:EL圖像未發(fā)現(xiàn)裂紋、黑斑或其他異?,F(xiàn)象,進(jìn)一步驗(yàn)證了組件在PID測試后的內(nèi)部結(jié)構(gòu)完整性。
可靠性驗(yàn)證:銀包銅HJT光伏組件在PID測試中表現(xiàn)出色,驗(yàn)證了其在高電壓和潮濕環(huán)境下的長期穩(wěn)定性和可靠性。銀包銅HJT 太陽電池成本分析
銀包銅漿料成本預(yù)測分析
比較了不同工藝下銀包銅漿料的成本,包括超多主柵+低溫銀漿、超多主柵+銀包銅漿料和無主柵+銀包銅漿料。采用銀包銅漿料可使銀漿成本降低約25.8%,結(jié)合無主柵技術(shù)可進(jìn)一步降低成本50%。
通過對銀含量為50%的銀包銅漿料在HJT太陽電池中的應(yīng)用研究,全面分析了銀包銅柵線的結(jié)構(gòu)及拉力性能、太陽電池的電性能以及光伏組件的可靠性。采用銀包銅漿料制備的HJT太陽電池具有優(yōu)異的光電轉(zhuǎn)換效率,達(dá)到24.37%,與常規(guī)低溫銀漿光伏組件的性能相當(dāng)。此外,銀包銅HJT光伏組件在濕熱測試(DH)、熱循環(huán)測試(TC)和電位誘導(dǎo)衰減測試(PID)等可靠性測試中表現(xiàn)出色,輸出功率衰減率均低于3%,進(jìn)一步驗(yàn)證了其在惡劣環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。美能溫濕度綜合環(huán)境試驗(yàn)箱
美能溫濕度綜合環(huán)境試驗(yàn)箱采用進(jìn)口溫度控制器,能夠?qū)崿F(xiàn)多段溫度編程,具有高精確度和良好的可靠性,滿足不同氣候條件下的測試需求。
- 溫度范圍:20℃~+130℃
- 溫濕度范圍:10%RH~98%RH(at+20℃-+85℃)
滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):IEC61215、IEC61730、UL1703等檢測標(biāo)準(zhǔn)
銀包銅漿料在HJT太陽電池中的應(yīng)用不僅顯著降低了銀漿成本,還保持了高效的光電轉(zhuǎn)換能力和卓越的可靠性。結(jié)合美能溫濕度綜合環(huán)境試驗(yàn)箱的嚴(yán)格測試,我們有理由相信,銀包銅HJT太陽電池將在未來的光伏市場中展現(xiàn)出強(qiáng)大的競爭力,為實(shí)現(xiàn)高效、低成本的清潔能源解決方案提供有力支持。
原文出處:《低成本銀包銅漿料在 HJT 太陽電池中的應(yīng)用研究》
*特別聲明:「美能光伏」公眾號所發(fā)布的原創(chuàng)及轉(zhuǎn)載文章,僅用于學(xué)術(shù)分享和傳遞光伏行業(yè)相關(guān)信息。未經(jīng)授權(quán),不得抄襲、篡改、引用、轉(zhuǎn)載等侵犯本公眾號相關(guān)權(quán)益的行為。內(nèi)容僅供參考,若有侵權(quán),請及時聯(lián)系我司進(jìn)行刪除。
-
太陽電池
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
94瀏覽量
17436 -
硅片
+關(guān)注
關(guān)注
13文章
381瀏覽量
35173
發(fā)布評論請先 登錄
淺談手機(jī)環(huán)境可靠性試驗(yàn)
可靠性檢技術(shù)及可靠性檢驗(yàn)職業(yè)資格取證
可靠性是什么?
可靠性設(shè)計分析系統(tǒng)
基于集成電路的高可靠性電源設(shè)計
【PCB】什么是高可靠性?
什么是高可靠性?
為什么華秋要做高可靠性?
【PCB】為什么華秋要做高可靠性?
如何實(shí)現(xiàn)高可靠性電源的半導(dǎo)體解決方案
環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)的區(qū)別
高可靠性紅外熱像儀的設(shè)計方法
高可靠性技術(shù)概述
基于TI電感傳感技術(shù)的高可靠性低成本金屬按鍵設(shè)計

評論