在半導(dǎo)體領(lǐng)域，電源管理芯片老化測試是評估器件可靠性和篩選潛在缺陷的重要環(huán)節(jié)，通過模擬極端工況加速芯片老化以暴露材料、工藝或設(shè)計中的薄弱點。隨著電子設(shè)備的不斷小型化和高性能的追求，半導(dǎo)體芯片在各種應(yīng)用場景中扮演著越來越關(guān)鍵的角色。為了避免芯片在長期運行過程中可能出現(xiàn)的性能下降、甚至失效等問題，進行老化測試顯得尤為重要。

老化測試

老化測試一般包括靜態(tài)測試及動態(tài)測試，靜態(tài)老化指芯片處于非工作模式下，主要通過施加恒定的電壓和溫度來進行測試。這種方法成本較低，但監(jiān)控的電路節(jié)點數(shù)量有限。動態(tài)老化指芯片處于工作狀態(tài)下，向其提供輸入激勵信號，通過檢測相關(guān)信號來判定芯片在老化狀態(tài)下的工作情況。動態(tài)老化更貼近實際應(yīng)用環(huán)境，能夠?qū)?nèi)部電路施加更多壓力，檢測出更多的故障。

設(shè)備需求

老化測試對測試設(shè)備的需求包括：

需要模擬器件在實際工作中的各種工況，如不同的電壓、電流和溫度條件，以評估其在長期運行下的性能變化。

測試過程中需要對器件的多項參數(shù)進行精確測量以確保其符合設(shè)計要求和行業(yè)標(biāo)準。

為了提高測試效率，多通道的集成方案有助于同時對多個器件進行老化測試。

使用節(jié)能的方案以降低測試成本，節(jié)約能源消耗。

在老化測試中，由電源對待測物進行供電，電子負載進行拉載，雖然電源及負載可以選擇高效率產(chǎn)品以降低測試儀器自身的功耗，但這個節(jié)能的比例并不高。而回饋式電子負載可以將拉載的直流電轉(zhuǎn)化為合格的交流電送回本地電網(wǎng)再次使用，從測試原理上大幅降低測試成本，具有顯著的節(jié)能效果。

“多通道+回饋式”老化新方案

目前市面上的回饋式負載通常功率較大，用于500W以內(nèi)的產(chǎn)品老化測試并不合適。艾德克斯面向日益增長的高效節(jié)能測試需求，新品IT2700多通道源載模擬系統(tǒng)創(chuàng)新推出了"多通道+回饋式"的老化新方案，回饋效率高達90%，具有強大的系統(tǒng)集成及多通道控制能力。

ITECH電源及芯片老化方案原理圖

IT2700系列老化測試專門設(shè)計的負載方案包括1U的機架式主機框IT2704, 可容納多達8個200W模組或4個500W模組，每個模組均可獨立控制?？苫旌洗钆涔β?、電壓不同的模塊，相同模塊主從并聯(lián)可達2kW或240A。

IT2700系列回饋式電子負載模組也具有豐富的負載功能：

支持CC,CV,CP,CR,CC+CV,CR+CV,CP+CV,CC+CR, AUTO,BSIM（電池模擬）多種工作模式。

高達50kHz外部數(shù)據(jù)記錄功能，提高測試效率。多輸出/單輸出儀表顯示、示波器顯示、數(shù)據(jù)記錄顯示、支持V/I的平均值，最小值和最大值，并計算所有輸出的P，Ah和Wh值。

list功能、任意波形、掃描正弦波、任意波序列、恒定駐留任意波、負載瞬態(tài)、電池測試、OCP和OPP測試。

輸出開啟/關(guān)閉序列化、Watchdog功能、支持輸出耦合。

全面保護：OVP,UVP,OCP,OPP,OTP,UCP,Foldback 功能，支持保護耦合。

標(biāo)配LAN、USB、CAN通信接口、數(shù)字I/O接口，支持外接U盤，支持SCPI協(xié)議。

艾德克斯IT2700多通道回饋式電子負載憑借其高精度、多通道、靈活配置和便捷操作等優(yōu)勢，成為半導(dǎo)體芯片及功率器件老化測試的理想選擇，為確保器件的長期穩(wěn)定性和可靠性提供了有力保障。