關(guān)鍵詞:24 位 ADC;高集成度;低功耗;內(nèi)置恒流源
在精密測量領域,市場競爭日益激烈,選擇合適的 ADC 芯片成為一個挑戰(zhàn):需要高精度、高集成度、低功耗,同時又要具備較高的性價比。SGM58201 憑借自主研發(fā)的 IP 和創(chuàng)新性的架構(gòu)設計,為工程師提供了一個兼顧性能與應用需求的理想選擇。
圣邦微電子推出的 SGM58201,作為新一代高性能 24 位 Σ-Δ ADC,支持 4 通道,內(nèi)置 PGA、MUX、REF、IDAC 等功能,憑借最高 22Bits ENOB 有效分辨率、10ppm/℃ 全溫度范圍溫漂系數(shù),以及萬分之二的恒流源匹配精度,樹立了行業(yè)同品類的新標桿。
圖 1 SGM58201 功能框圖
核心優(yōu)勢解析:為何選擇 SGM58201
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22Bits ENOB:精準還原真實信號
在高精度數(shù)據(jù)采集應用中,實際有效分辨率(ENOB)直接影響可用數(shù)據(jù)的質(zhì)量。SGM58201 提供最高 22Bits ENOB,確保用戶獲取真實、高精度的測量數(shù)據(jù)。
10ppm/℃ 全溫度溫漂:極端環(huán)境下仍能精準測量
溫漂是高精度測量系統(tǒng)的巨大隱患,溫度變化可能導致 ADC 測量精度下降。SGM58201 全溫度溫漂系數(shù)僅 10ppm/℃,即使在寬溫度范圍(-40°C 至 +125°C)內(nèi),依然能出色的保證測量數(shù)據(jù)的一致性。
萬分之二的恒流源匹配精度:精密 RTD 傳感測量的利器
在 RTD 溫度測量等應用中,恒流源匹配精度直接決定了測量精度。SGM58201 的恒流源匹配精度高達 0.02%(萬分之二),減少了傳統(tǒng)方案中對二次采樣需求,顯著降低了校準成本。同時,結(jié)合單周期穩(wěn)定技術(shù),實現(xiàn)毫秒級響應,滿足高速產(chǎn)線的檢測需求。
SGM58201 實測數(shù)據(jù)驗證
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表 1 根據(jù) RMS 噪聲得出的 ENOB(根據(jù)噪聲峰值得出的無噪聲位)
表 2 噪聲,單位為μVRMS (μVPP)
*測試條件:AVDD = 3.3V,AVSS = 0V,正常模式,內(nèi)部基準電壓 = 2.048V
圖 2 SGM58201 電壓基準初始精度
圖 3 SGM58201 線性度(INL)
圖 4 SGM58201 電壓基準全溫度誤差
圖 5 SGM58201 基準源長期漂移
圖 6 SGM58201 恒流源匹配誤差
SGM58201 提供多樣的評測工具
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評估板(EVB)
為了幫助客戶快速評估 SGM58201,圣邦微電子的產(chǎn)品線支持團隊開發(fā)了完備且穩(wěn)定的 EVAL 板和 GUI 軟件配套。該套件支持即時配置所有寄存器,并能實時計算和展示時域、頻域以及直方圖等各種數(shù)據(jù)。
圖 7 EVB GUI 軟件界面
參考設計電路板(Reference Design Demo Board)
針對 SGM58201 的典型溫度變送器應用,圣邦微電子的 AE 團隊搭建了一整套基于公司 ADC、DAC、OPA、REF 等核心物料的 4mA - 20mA 環(huán)路供電參考電路設計,支持 TC 和 RTD 等功能,方便客戶評估整體系統(tǒng)的綜合指標性能。同時配套的專用 GUI 可用于對 ADC 和 DAC 的詳細測試,簡化了客戶的評估工作。
圖 8 溫度變送器參考設計信號鏈框圖
圖 9 溫度變送器參考設計電路板
SGM58201 市場應用場景:高精度測量的理想選擇
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工業(yè)自動化:高精度溫度 TC(熱電偶)和 RTD(熱電阻)、壓力傳感器數(shù)據(jù)采集
醫(yī)療電子:生物信號測量、血氧檢測
能源管理:電池監(jiān)測、能量計量
如果您正在尋找一款具備高精度、低溫漂和高集成度的 ADC,SGM58201 是一個理想的選擇。它不僅能提升測量系統(tǒng)的精度和穩(wěn)定性,也為高端測量應用提供了可靠方案,助力為工業(yè)、醫(yī)療、能源等領域的高端測量系統(tǒng)在技術(shù)上不斷邁上新臺階。
關(guān)于圣邦微電子
圣邦微電子(北京)股份有限公司(股票代碼 300661)專注于高性能、高品質(zhì)模擬集成電路的研發(fā)和銷售。產(chǎn)品覆蓋信號鏈和電源管理兩大領域,擁有 32 大類 5200 余款可供銷售型號,全部自主研發(fā),廣泛應用于工業(yè)、汽車電子、通信設備、消費類電子和醫(yī)療儀器等領域,以及物聯(lián)網(wǎng)、新能源和人工智能等新興市場。
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原文標題:24 位高精度 Σ-Δ ADC SGM58201:引領高性能測量新標準
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