一区二区三区三上|欧美在线视频五区|国产午夜无码在线观看视频|亚洲国产裸体网站|无码成年人影视|亚洲AV亚洲AV|成人开心激情五月|欧美性爱内射视频|超碰人人干人人上|一区二区无码三区亚洲人区久久精品

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

sem掃描電鏡是測(cè)什么的?哪些學(xué)科領(lǐng)域會(huì)經(jīng)常使用到掃描電鏡?

中圖儀器 ? 2025-03-24 11:45 ? 次閱讀

SEM掃描電鏡即掃描電子顯微鏡,主要用于以下方面的檢測(cè):

1、材料微觀形貌觀察

-材料表面結(jié)構(gòu):可以清晰地觀察到材料表面的微觀結(jié)構(gòu),如金屬材料的表面紋理、陶瓷材料的晶粒分布、高分子材料的表面形貌等。例如,在研究金屬腐蝕過程中,通過SEM可以觀察到腐蝕產(chǎn)物的形貌、分布以及金屬表面的腐蝕坑、裂紋等缺陷的形成和發(fā)展。

-斷口分析:對(duì)于斷裂的材料,SEM能夠觀察斷口的微觀特征,分析斷裂機(jī)制。例如,判斷是韌性斷裂還是脆性斷裂,確定斷裂的起源和擴(kuò)展路徑,為材料的失效分析提供重要依據(jù)。在航空航天領(lǐng)域,對(duì)飛機(jī)零部件的斷裂分析至關(guān)重要,SEM可以幫助工程師找出斷裂原因,改進(jìn)材料設(shè)計(jì)和制造工藝,確保飛行安全。

2、材料成分分析

-元素分布:配備能譜儀(EDS)等附件的SEM,可以進(jìn)行元素的定性和定量分析,確定材料表面不同區(qū)域的元素組成和分布情況。在研究復(fù)合材料時(shí),通過SEM-EDS可以分析不同組分的分布均勻性,以及界面處元素的擴(kuò)散情況。

-相分析:根據(jù)不同相的成分差異和形貌特征,利用SEM結(jié)合EDS等技術(shù),可以對(duì)材料中的不同相進(jìn)行識(shí)別和分析。例如,在鋼鐵材料中,能夠區(qū)分鐵素體、珠光體、滲碳體等相,并研究它們?cè)跓崽幚磉^程中的變化規(guī)律。

3、納米材料研究

-納米顆粒形貌與尺寸:SEM能夠直接觀察納米顆粒的形貌、大小和分布情況。對(duì)于納米催化劑的研究,通過SEM可以了解催化劑顆粒的形狀、粒徑分布以及團(tuán)聚狀態(tài),評(píng)估其催化性能與微觀結(jié)構(gòu)之間的關(guān)系。

-納米結(jié)構(gòu)表征:可以研究納米線、納米管、納米薄膜等納米結(jié)構(gòu)的形態(tài)和生長(zhǎng)特性。例如,在研究碳納米管的生長(zhǎng)過程中,SEM可以觀察到碳納米管的管徑、長(zhǎng)度、彎曲程度以及端部結(jié)構(gòu)等,為優(yōu)化生長(zhǎng)工藝提供依據(jù)。

wKgZO2esQnyAF2WQAAFSwLqQMYw694.pngCEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡現(xiàn)場(chǎng)隨機(jī)進(jìn)行70000X倍成像

wKgZO2esQp-Af-naAAXN3LXZ29o362.png

此外,在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)領(lǐng)域,SEM可用于觀察細(xì)胞、組織、微生物等的微觀結(jié)構(gòu),如細(xì)胞的表面形態(tài)、細(xì)胞器的分布等,幫助研究人員了解生物樣品的結(jié)構(gòu)與功能關(guān)系,在病理學(xué)研究、生物材料研發(fā)等方面發(fā)揮重要作用。在地質(zhì)學(xué)中,SEM能用于觀察巖石、礦物的微觀結(jié)構(gòu)和成分,幫助分析地質(zhì)過程和礦產(chǎn)資源形成機(jī)制。

sem掃描電鏡的具體應(yīng)用

1、材料科學(xué)

-金屬材料:用于觀察金屬材料的微觀組織結(jié)構(gòu),如晶粒大小、晶界形態(tài)、相分布等,研究金屬在熱處理、加工變形等過程中的組織演變規(guī)律,從而優(yōu)化材料的性能和加工工藝。還可用于分析金屬材料的斷口形貌,判斷斷裂機(jī)制,如脆性斷裂、韌性斷裂等,為材料的失效分析提供重要依據(jù)。

wKgZPGfg1LyAMJaeAA9UVFjdAzM564.png對(duì)磁性材料分析(銣鐵硼)

wKgZPGfg1LqAXUSEAAOtfB83HL0472.png銣鐵硼材料微觀形貌

wKgZPGfg1LuABdbFAAjMxPC4unA189.pngwKgZO2fg1LqAX4KqAATw0EMRHE0552.png銣鐵硼材料元素面分布結(jié)果

-無機(jī)非金屬材料:在陶瓷材料研究中,掃描電鏡可觀察陶瓷顆粒的大小、形狀及分布,以及燒結(jié)后陶瓷的微觀結(jié)構(gòu),如氣孔率、晶相組成等,有助于優(yōu)化陶瓷的制備工藝,提高其性能。對(duì)于半導(dǎo)體材料,可用于觀察其表面形貌、晶體缺陷,以及光刻工藝后的圖案結(jié)構(gòu)等,對(duì)半導(dǎo)體器件的制造和研發(fā)具有重要意義。

-高分子材料:能觀察高分子材料的微觀相態(tài)結(jié)構(gòu),如共聚物的相分離情況、聚合物blends的分散狀態(tài)等。同時(shí),可研究高分子材料的拉伸、沖擊等破壞后的表面形貌,分析其力學(xué)性能與微觀結(jié)構(gòu)的關(guān)系。

2、生命科學(xué)

-細(xì)胞生物學(xué):可用于觀察細(xì)胞的表面形貌、細(xì)胞間的連接方式,以及細(xì)胞在不同生理狀態(tài)下的形態(tài)變化等,有助于深入了解細(xì)胞的生物學(xué)功能和生理過程。例如,觀察腫瘤細(xì)胞的表面特征,研究其與正常細(xì)胞的差異,為腫瘤的診斷和治療提供依據(jù)。

-組織學(xué):對(duì)組織切片進(jìn)行掃描電鏡觀察,能夠清晰地顯示組織中各種細(xì)胞和細(xì)胞外基質(zhì)的三維結(jié)構(gòu)關(guān)系,為組織學(xué)研究提供更豐富的信息。例如,觀察骨組織中骨小梁的微觀結(jié)構(gòu)、牙組織中牙釉質(zhì)和牙本質(zhì)的形態(tài)等,有助于理解組織的生理功能和病理變化。

-微生物學(xué):用于觀察細(xì)菌、病毒、真菌等微生物的形態(tài)、大小、表面結(jié)構(gòu)以及它們與宿主細(xì)胞的相互作用等。例如,觀察噬菌體感染細(xì)菌的過程中,細(xì)菌表面的變化,有助于研究病毒的感染機(jī)制和微生物的生態(tài)學(xué)。

wKgZO2fg1LuAQ8lHAAp4v1G51UY121.pngwKgZPGfg1LyAdZZsAApbxd5vSEo761.pngCEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡在孢粉學(xué)中的應(yīng)用

3、地質(zhì)學(xué)

-巖石學(xué):通過掃描電鏡觀察巖石的微觀結(jié)構(gòu),如礦物顆粒的形態(tài)、大小、排列方式,以及巖石中的孔隙結(jié)構(gòu)等,有助于分析巖石的成因、分類和演化歷史。例如,研究砂巖中石英顆粒的表面特征,可以判斷其沉積環(huán)境;觀察碳酸鹽巖中的孔隙結(jié)構(gòu),對(duì)油氣儲(chǔ)層評(píng)價(jià)具有重要意義。

-礦物學(xué):用于研究礦物的晶體形態(tài)、表面微形貌、礦物的共生關(guān)系等。例如,觀察黏土礦物的晶體結(jié)構(gòu)和形態(tài)特征,可幫助確定黏土礦物的種類和成因;研究礦物表面的溶蝕和沉淀現(xiàn)象,有助于理解礦物的風(fēng)化過程和地球化學(xué)循環(huán)。

4、物理學(xué)

-表面物理:掃描電鏡是研究材料表面物理性質(zhì)的重要工具,可用于觀察表面的原子排列、表面缺陷和吸附現(xiàn)象等。例如,通過觀察金屬表面的原子臺(tái)階和吸附分子的形態(tài),研究表面的吸附動(dòng)力學(xué)和催化機(jī)理。

-納米材料物理:在納米材料研究中,掃描電鏡可用于觀察納米材料的形貌、尺寸分布和團(tuán)聚狀態(tài)等。例如,觀察碳納米管的形態(tài)和生長(zhǎng)取向,研究其生長(zhǎng)機(jī)制;觀察納米顆粒的表面形貌和尺寸變化,研究其物理性質(zhì)與尺寸的關(guān)系。

5、化學(xué)

-催化化學(xué):用于觀察催化劑的表面形貌、孔結(jié)構(gòu)和活性組分的分布等,研究催化劑的活性中心和反應(yīng)機(jī)理。例如,觀察負(fù)載型催化劑中金屬顆粒的大小和分散狀態(tài),以及催化劑在反應(yīng)前后的表面變化,有助于優(yōu)化催化劑的制備和反應(yīng)條件。

-材料化學(xué):在新材料的合成和表征中,掃描電鏡可用于觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)和形貌變化,研究材料的合成機(jī)理和生長(zhǎng)過程。例如,觀察化學(xué)氣相沉積制備的薄膜材料的表面形貌和結(jié)構(gòu),分析薄膜的生長(zhǎng)模式和質(zhì)量。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • SEM
    SEM
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    254

    瀏覽量

    14735
  • 電子顯微鏡
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    110

    瀏覽量

    10043
  • 掃描電鏡
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    107

    瀏覽量

    9264
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    鎢燈絲掃描電鏡VEGA的配置如何?

    3DMetrology軟件可以實(shí)現(xiàn)3維重構(gòu)及測(cè)量功能。 VEGA3配置VEGA3 SBH高真空型SEM,配備有3軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái),適用于觀察小型導(dǎo)電樣品。VEGA3 SBU可變真空型掃描電鏡,體現(xiàn)了高真空模式和低真空模式的優(yōu)點(diǎn),可以在不噴金的情況下利用低真空模式直接觀察不
    發(fā)表于 05-16 16:04

    影響掃描電鏡SEM)的幾大要素?

    本帖最后由 淘淘發(fā)燒友 于 2019-7-26 16:57 編輯 影響掃描電鏡的分辨本領(lǐng)的主要因素有: 分辨率A. 入射電子束束斑直徑:為掃描電鏡分辨本領(lǐng)的極限。一般,熱陰極電子槍的最小束斑
    發(fā)表于 07-26 16:54

    EEPROM的掃描電鏡探測(cè)和探針攻擊

    EEPROM的掃描電鏡探測(cè)和探針攻擊_程鵬
    發(fā)表于 01-03 17:41 ?1次下載

    LED芯片觀察(掃描電鏡)SEM失效分析

    圖1 LED芯片(掃描電鏡SEM) 圖2 LED芯片(掃描電鏡SEM) 圖3 LED芯片(掃描電鏡SEM
    發(fā)表于 11-24 11:02 ?2267次閱讀
    LED芯片觀察(<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>)<b class='flag-5'>SEM</b>失效分析

    LED切片掃描電鏡分析

    LED芯片粘結(jié)不牢(掃描電鏡SEM) LED芯片粘結(jié)錯(cuò)位(掃描電鏡SEM) 冷熱沖擊后,銀膠開裂(掃描電鏡
    發(fā)表于 11-24 10:59 ?1474次閱讀
    LED切片<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>分析

    LED焊球不良品觀察(掃描電鏡)SEM失效分析

    圖1 LED焊球良品(掃描電鏡SEM) ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 圖2 LED焊球不良品(掃描電鏡SEM) 圖3 LED焊球(掃描
    發(fā)表于 11-26 16:33 ?1163次閱讀
    LED焊球不良品觀察(<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>)<b class='flag-5'>SEM</b>失效分析

    PMMA顆粒形貌觀察和直徑測(cè)量(掃描電鏡,SEM)

    ? 圖1 PMMA顆粒形貌(掃描電鏡SEM) ? ? ? 圖2 PMMA顆粒形貌(掃描電鏡SEM) ? ? ? 圖3?PMMA顆粒形貌(掃描電鏡
    發(fā)表于 12-20 17:14 ?1974次閱讀
    PMMA顆粒形貌觀察和直徑測(cè)量(<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>,<b class='flag-5'>SEM</b>)

    掃描電鏡在造紙研究中的應(yīng)用 掃描電鏡的原理和特點(diǎn)

    。 3、X射線:由于內(nèi)殼層電子躍遷產(chǎn)生,不同原子產(chǎn)生的能量不同,用于EDS分析。 入射電子與樣品作用產(chǎn)生的信號(hào) SEM原理 1.2 掃描電鏡的用途(SEMEDS) (1)材料的微觀形貌、組織 (2)微區(qū)元素定量、定性成分分析 (3)材料斷口分析和失效分析 (4)多元素面
    發(fā)表于 12-23 15:46 ?1852次閱讀
    <b class='flag-5'>掃描電鏡</b>在造紙研究中的應(yīng)用 <b class='flag-5'>掃描電鏡</b>的原理和特點(diǎn)

    鎢燈絲掃描電鏡的“王者”是怎么誕生的?

    鎢燈絲掃描電鏡性價(jià)比高、易于維護(hù)、操作相對(duì)簡(jiǎn)單、對(duì)場(chǎng)地要求較小便于大眾使用但長(zhǎng)期以來鎢燈絲掃描電鏡的分辨率都停滯不前難以實(shí)現(xiàn)用戶對(duì)更高分辨率的追求國儀量子于近日推出的鎢燈絲掃描電鏡SEM
    的頭像 發(fā)表于 12-09 11:14 ?1186次閱讀
    鎢燈絲<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>的“王者”是怎么誕生的?

    滿足分析型用戶需求!超大束流,超快分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM4000 來了

    在此前的兩期推文中我們?yōu)榇蠹医榻B了兩款鎢燈絲掃描電鏡“重新定義鎢燈絲掃描電鏡”的SEM3300和“操作不挑人,簡(jiǎn)約不簡(jiǎn)單”的SEM2000今天,針對(duì)有分析型需求的用戶超大束流,超快分析
    的頭像 發(fā)表于 12-15 10:25 ?1328次閱讀
    滿足分析型用戶需求!超大束流,超快分析的場(chǎng)發(fā)射<b class='flag-5'>掃描電鏡</b><b class='flag-5'>SEM</b>4000 來了

    SEM掃描電鏡工作原理,SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用

    領(lǐng)域。SEM掃描電鏡分析實(shí)驗(yàn)室圖源:優(yōu)爾鴻信華南檢測(cè)中心SEM掃描電鏡工作原理SEM
    的頭像 發(fā)表于 07-05 10:04 ?3908次閱讀
    <b class='flag-5'>SEM</b><b class='flag-5'>掃描電鏡</b>工作原理,<b class='flag-5'>SEM</b><b class='flag-5'>掃描電鏡</b>技術(shù)應(yīng)用

    場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(FESEM)與常規(guī)掃描電鏡SEM):技術(shù)對(duì)比及優(yōu)勢(shì)分析

    場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM的比較及優(yōu)勢(shì)在微觀世界的研究中,掃描電鏡SEM)一直是科學(xué)家們探索材料表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)的重要工具。隨著技術(shù)的進(jìn)步,場(chǎng)發(fā)射掃描電
    的頭像 發(fā)表于 11-21 14:36 ?976次閱讀
    場(chǎng)發(fā)射<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>(FESEM)與常規(guī)<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>(<b class='flag-5'>SEM</b>):技術(shù)對(duì)比及優(yōu)勢(shì)分析

    掃描電鏡有哪些作用?

    掃描電鏡作為一種用于微觀結(jié)構(gòu)分析的重要儀器,在材料科學(xué)、生命科學(xué)、地質(zhì)科學(xué)、電子信息等多個(gè)領(lǐng)域都有重要作用。它具有以下顯著特征:1.高分辨率成像:能夠清晰呈現(xiàn)樣品表面的細(xì)微結(jié)構(gòu),分辨率可達(dá)納米級(jí)
    的頭像 發(fā)表于 02-12 14:42 ?685次閱讀
    <b class='flag-5'>掃描電鏡</b>有哪些作用?

    桌面式掃描電鏡是什么?

    桌面式掃描電鏡掃描電子顯微鏡的一種類型,它在結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、功能特點(diǎn)等方面都有自身獨(dú)特之處,以下從其定義、原理、特點(diǎn)、應(yīng)用場(chǎng)景等方面進(jìn)行具體介紹:1、定義與基本原理-定義:桌面式掃描電鏡是一種小型化
    的頭像 發(fā)表于 02-12 14:47 ?414次閱讀
    桌面式<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>是什么?

    SEM掃描電鏡嗎?

    SEM掃描電鏡,英文全稱為ScanningElectronMicroscope。以下是關(guān)于掃描電鏡的一些基本信息:1、工作原理:掃描電鏡是一種利用電子束
    的頭像 發(fā)表于 02-24 09:46 ?390次閱讀
    <b class='flag-5'>SEM</b>是<b class='flag-5'>掃描電鏡</b>嗎?