B3M040120Z SiC MOSFET在充電樁中的應用:低關(guān)斷損耗與高柵氧可靠性的技術(shù)優(yōu)勢
引言
隨著新能源汽車的快速發(fā)展,充電樁對功率器件的效率、可靠性及高溫性能提出了更高要求?;?a target="_blank">半導體推出的第三代SiC MOSFET——B3M040120Z,憑借其優(yōu)異的關(guān)斷損耗(Eoff)與柵氧可靠性,成為充電樁電源模塊的理想選擇。本文將從技術(shù)參數(shù)、實測數(shù)據(jù)及實際應用場景出發(fā),解析其在充電樁中的核心優(yōu)勢。
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一、關(guān)鍵性能優(yōu)勢:低關(guān)斷損耗(Eoff)
B3M040120Z的關(guān)斷損耗顯著低于同類競品,直接提升系統(tǒng)效率:
實測數(shù)據(jù)對比
Eoff低至162μJ(測試條件:V_DC=800V, I_D=40A, Rg=8.2Ω),較競品C3M0040120K(231μJ)降低30%。
總開關(guān)損耗(Etotal=826μJ)較競品減少4%,高溫下優(yōu)勢更明顯。
高頻應用適配性
低Eoff使其在LLC、移相全橋等高頻拓撲中表現(xiàn)優(yōu)異,尤其適合軟開關(guān)場景(如客戶實測的單級矩陣變換器),可顯著降低系統(tǒng)損耗,提升整機效率。
能效收益
在40kW充電樁模塊中,B3M040120Z與進口品牌效率相當,但通過優(yōu)化驅(qū)動電壓至+18V,可進一步釋放性能潛力。
二、柵氧可靠性:保障長期穩(wěn)定運行
B3M040120Z通過優(yōu)化柵氧結(jié)構(gòu)與工藝,實現(xiàn)高耐壓與低漏電特性:
高擊穿電壓余量
BV_DSS實測值達1590V(標稱1200V),超出競品C3M0040120K(1534V)和IMZA120R040M1H(1510V),抗瞬態(tài)過壓能力更強。
閾值電壓穩(wěn)定性
V_GS(th)在25°C時為2.7V(典型值),高溫下仍能有效抑制誤開通。
低柵極漏電流
I_GSS+(V_GS=18V)低至46.6nA(Tj=25°C),高溫(125°C)下漏電流增長可控,確保長期工作穩(wěn)定性。
三、充電樁應用場景適配性
高效率與高功率密度
低R_DS(on)(40mΩ@18V)與快速開關(guān)特性(t_r=31ns,t_f=10ns),支持充電樁模塊實現(xiàn)96%以上的整機效率(PAGE 7),同時減少散熱器體積。
高溫環(huán)境下的可靠性
結(jié)溫支持175°C,結(jié)合TO-247-4封裝的高散熱能力(R_th(j-c)=0.48K/W),溫升測試中與競品表現(xiàn)接近(PAGE 8),適用于高功率密度設計。
驅(qū)動方案優(yōu)化
建議搭配帶米勒鉗位功能的驅(qū)動芯片(如BTD5350MCWR),通過負壓關(guān)斷(-4V)抑制誤開通,進一步提升系統(tǒng)可靠性。
四、實測案例與客戶驗證
40kW充電樁模塊對比測試
在750V/30kW工況下,B3M040120Z的驅(qū)動負壓尖峰(-3.757V)淺于競品(-4.369V),降低EMI風險。
突加載/卸載過程中,V_DS尖峰(852.8V)與競品相當,展現(xiàn)優(yōu)秀的動態(tài)響應能力。
單級變換拓撲實測
采用矩陣變換器的客戶實測數(shù)據(jù)顯示,B3M040120Z因Eoff優(yōu)勢,效率較某進口40mΩ器件提升0.3%,驗證其在軟開關(guān)場景的競爭力。
五、總結(jié)
B3M040120Z通過低關(guān)斷損耗與高柵氧可靠性兩大核心優(yōu)勢,為充電樁電源模塊提供了高效、緊湊且耐用的解決方案。其性能參數(shù)經(jīng)多場景實測驗證,可顯著提升系統(tǒng)能效,降低運維成本,助力下一代高功率充電樁的快速發(fā)展。
選型推薦場景:
40-60kW LLC/移相全橋DC-DC模塊
高頻矩陣變換器拓撲
需長期高溫運行的快充樁
技術(shù)咨詢:請聯(lián)系BASiC基本股份SiC碳化硅MOSFET一級代理商傾佳電子楊茜 微信&手機:13266663313,獲取定制化驅(qū)動與散熱設計方案。
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審核編輯 黃宇
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