Analog Devices AD4080差分SAR ADC是高速、20位、低噪聲、低失真、易驅(qū)動、逐次逼近寄存器 (SAR) 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)。AD4080在超過1MHz的信號頻率下保持高性能，信噪和失真 (SINAD) 比 >90dBFS，因此可用于各種精密、寬帶寬數(shù)據(jù)采集應用。對于不需要AD4080最低延遲的應用，可以通過應用過采樣以及集成數(shù)字濾波和抽取來減少噪聲和降低輸出數(shù)據(jù)速率，從而簡化輸入抗混疊濾波器的配置。

數(shù)據(jù)手冊：*附件：Analog Devices Inc. AD4080差分SAR ADC數(shù)據(jù)手冊.pdf

AD4080易于驅(qū)動可降低信號鏈復雜性和功耗，同時提高通道密度和選擇配套元件的靈活性。該ADC的輸入結(jié)構(gòu)設計用于最大限度地降低輸入相關信號電流，減少轉(zhuǎn)換器引起的穩(wěn)定偽影。連續(xù)采集架構(gòu)支持在整個轉(zhuǎn)換周期內(nèi)建立穩(wěn)定，與其他高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器相比，降低了ADC驅(qū)動器穩(wěn)定和帶寬要求。

ADI AD4080集成了多個可簡化數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器集成的元件：低漂移基準緩沖器、用于開發(fā)ADC內(nèi)核和數(shù)字接口電源軌的低壓差 (LDO) 穩(wěn)壓器，以及可顯著降低數(shù)字主機負載的16K結(jié)果數(shù)據(jù)先入先出 (FIFO)。此外，封裝中集成了關鍵電源和基準去耦電容器，以確保最佳性能，簡化印刷電路板 (PCB) 布局并減少整體解決方案占位面積。

特性

• 高性能
  • 吞吐量為40MSPS，轉(zhuǎn)換延遲為46.25ns
  • INL：±4ppm（典型值），±8ppm（最大值）
  • SNR/THD
    • fIN =1kHz時，93.6dB（典型值）/-110dB（典型值）
    • fIN =1MHz時，93.5dB（典型值）/-104dB（典型值）
  • -167.6dBFS/Hz的噪聲頻譜密度
  • 20位分辨率，無失碼
• 低功率，79.3mW時典型值為40MSPS，正弦波輸入-0.5dBFS
• 易于驅(qū)動，全差分輸入
  • 差分輸入范圍：6Vp-p
  • 連續(xù)信號采集
  • 線性化，5μA/MSPS輸入電流
• 集成式低漂移基準緩沖器和去耦
• 集成VCM 生成
• 數(shù)字特性和數(shù)據(jù)接口
  • 來自FIFO的轉(zhuǎn)換結(jié)果，16K采樣深度
  • 數(shù)字平均濾波器，抽取高達210
• SPI配置
• 可配置數(shù)據(jù)接口
  • 單通道、DDR、串行LVDS、每通道800MBPS
  • 雙通道、DDR、串行LVDS、每通道400MBPS
  • 單/四通道SPI數(shù)據(jù)接口
• 包裝
  • 49焊球、5mm x 5mm CSP_BGA、0.65mm腳距
  • 集成電源去耦電容器
• 工作溫度范圍： -40 °C - +85 °C

應用

• 數(shù)字成像
• 細胞分析
• 光譜
• 自動化測試設備
• 高速數(shù)據(jù)采集
• 數(shù)字控制環(huán)路，環(huán)路中的硬件
• 電能質(zhì)量分析
• 源測量單元
• 電子和X射線顯微鏡
• 雷達液位測量
• 無損測試
• 預測性維護和結(jié)構(gòu)健康

功能框圖

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