為什么免費(fèi)開放實(shí)驗(yàn)室

解決企業(yè)測(cè)試場(chǎng)地，資金，技術(shù)支持的問題，有效縮短研發(fā)時(shí)間

為解決企業(yè)的測(cè)試煩惱，快速有效的實(shí)現(xiàn)項(xiàng)目測(cè)試，開放實(shí)驗(yàn)室給出了解決辦法。

開放實(shí)驗(yàn)室免費(fèi)供外界使用，所有企業(yè)，只要事先申請(qǐng)、登記，均可在開放實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行檢測(cè)。

開放實(shí)驗(yàn)室可提供IoT物聯(lián)網(wǎng)射頻性能測(cè)試方案、EMI預(yù)兼容（輻射）近場(chǎng)測(cè)量方案、低功耗測(cè)量方案、無線充電傳輸效率測(cè)量方案、材料+LCR參數(shù)測(cè)量方案。

LCR測(cè)試，我們有什么

開放實(shí)驗(yàn)室針對(duì)LCR及阻抗特性測(cè)量提供E5061B網(wǎng)絡(luò)分析儀和4263B LCR測(cè)試儀。

可應(yīng)用于元器件規(guī)格的確認(rèn)、元器件阻抗特性的表征，未知器件的屬性判斷和無線充電收、發(fā)線圈的電路參數(shù)調(diào)整等。

E5061B網(wǎng)絡(luò)分析儀

重要特性和功能：

寬頻率范圍：5Hz至3GHz

S參數(shù)測(cè)試端口（5Hz至3GHz，50Ω）

增益相位測(cè)試端口，具有內(nèi)置的 1 MΩ輸入(5 Hz 至 30 MHz)

在低頻頻段也有很高的寬動(dòng)態(tài)范圍

內(nèi)置直流偏置信號(hào)源 (高達(dá)±40 Vdc, 100 mAdc 最大值)

可實(shí)現(xiàn)：

基本的低頻網(wǎng)絡(luò)測(cè)量

大衰減和毫歐姆量級(jí)器件的測(cè)量

測(cè)量器件的阻抗

阻抗參數(shù)：|Z|、 θz 、|Y|、θy、 Cp、 Cs、 Lp、 Ls、 Rp、 Rs、 D、 Q、 R、 X、 G、 B

4263B LCR測(cè)試儀

重要特性和功能：

100 Hz、120 Hz、1 kHz、10 kHz、100 kHz測(cè)試頻率

測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)測(cè)功能

高速測(cè)量：25 ms

高速接觸檢查

可實(shí)現(xiàn)：

測(cè)量參數(shù)：|Z|、|Y|、u、R、X、G、B、L、C、Q、D、ESR