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基于TestStand的無線測(cè)試模塊設(shè)計(jì)更智能的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)

電子設(shè)計(jì) ? 來源:eefocus ? 作者:佚名 ? 2020-05-18 08:05 ? 次閱讀
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1. 智能設(shè)備

對(duì)于許多人來說,物聯(lián)網(wǎng)IoT)已經(jīng)成為現(xiàn)實(shí)。 當(dāng)我們通過智能手機(jī)控制鳥巢溫控器、使用手環(huán)記錄我們行走的步數(shù)以及使用平板電腦觀看視頻時(shí),我們已經(jīng)切切實(shí)實(shí)在享受這些可感應(yīng)、可連接和可計(jì)算的設(shè)備所帶來的好處。但即便對(duì)于早期的使用者來說,物聯(lián)網(wǎng)也只是處于起步階段。 Gartner估計(jì)不久的將來,互連設(shè)備的數(shù)量將會(huì)超過人類的數(shù)量,到2022年,每個(gè)家庭將擁有500多個(gè)互連設(shè)備。

鑒于當(dāng)前的創(chuàng)新速度,依靠?jī)x器或者ATE供應(yīng)商實(shí)現(xiàn)快速創(chuàng)新會(huì)是一個(gè)很可怕的想法

雖然我們作為消費(fèi)者正在享受物聯(lián)網(wǎng)的好處,但對(duì)于工程師來說,龐大的物聯(lián)網(wǎng)規(guī)模卻帶來了諸多挑戰(zhàn)。 從測(cè)試最小的集成電路(IC)到完全組裝的無線設(shè)備,loT給當(dāng)前的測(cè)試測(cè)量行業(yè)帶來了模式級(jí)的轉(zhuǎn)變。 在半導(dǎo)體行業(yè),對(duì)更小且集成度更高的傳感器技術(shù)的需求正在推動(dòng)新的、更低成本的混合信號(hào)測(cè)試方法。 在消費(fèi)電子領(lǐng)域,盡管無線技術(shù)的復(fù)雜性提高了,但保持測(cè)試覆蓋率仍是推動(dòng)并行測(cè)試等創(chuàng)新測(cè)試方法的動(dòng)力。loT系統(tǒng)的發(fā)展不僅需要改進(jìn)機(jī)架堆疊式臺(tái)式儀器或交鑰匙ATE系統(tǒng)的現(xiàn)狀,還需要具有能滿足或超出待測(cè)設(shè)備(DUT)需求的連接和解決問題能力。鑒于當(dāng)前的創(chuàng)新速度,依靠?jī)x器或者ATE供應(yīng)商實(shí)現(xiàn)快速創(chuàng)新會(huì)是一個(gè)很可怕的想法。

2. 遠(yuǎn)比智能待測(cè)設(shè)備(DUT)更智能

怎么樣才能讓測(cè)試系統(tǒng)智能化? 這需要靈活的軟件定義I/O模塊來感測(cè)正確的連接以實(shí)現(xiàn)同步和數(shù)據(jù)傳輸(無論是本地還是云端),更需要強(qiáng)大的計(jì)算能力來進(jìn)行信號(hào)處理,這正是智能設(shè)備發(fā)揮最大作用的所在。

NI借助自動(dòng)化測(cè)試方法實(shí)現(xiàn)了更智能的測(cè)試系統(tǒng)。借助一個(gè)專為自定義(無論是通過最新的商業(yè)技術(shù)還是專業(yè)知識(shí)進(jìn)行自定義)而完全重新開發(fā)的平臺(tái),您已經(jīng)成為這個(gè)有生命、會(huì)呼吸且不斷演進(jìn)的生態(tài)系統(tǒng)的一部分,她正致力于為各行各業(yè)提供創(chuàng)新的自動(dòng)測(cè)試方法。 沒有其他測(cè)試與測(cè)量技術(shù)公司會(huì)比NI投入更多的研發(fā)資金來升級(jí)測(cè)試系統(tǒng)的智能性, 也沒有其它供應(yīng)商擁有如此長期的成長記錄以及與客戶保持如此密切的合作關(guān)系。 而這些只是剛剛開始。

閱讀這篇文章,您將會(huì)了解到如何借助一個(gè)開放式平臺(tái)以及充滿活力的生態(tài)系統(tǒng)來構(gòu)建更加智能的測(cè)試系統(tǒng),以滿足智能設(shè)備的測(cè)試需求。

3. 專為自定義化而開發(fā)的平臺(tái)

所有的技術(shù)供應(yīng)商都在談?wù)撈脚_(tái)。 對(duì)于大型工程團(tuán)隊(duì),層次結(jié)構(gòu)和模塊化的應(yīng)用是高效開發(fā)的關(guān)鍵。 放棄基于平臺(tái)的做法意味著每當(dāng)系統(tǒng)遇到瓶頸時(shí),你通常要從頭開始重新開發(fā)。 過去,你可能能夠?qū)⑦@個(gè)必要性延長幾年甚至幾十年,但現(xiàn)在智能設(shè)備的快速創(chuàng)新步伐往往令我們措手不及。

因此,所有的測(cè)試測(cè)量廠商使用這種或那種形式的平臺(tái)來為用戶開發(fā)產(chǎn)品功能。 但是,這并不意味著所有平臺(tái)都是一樣的。 有些平臺(tái)純粹是為了提高內(nèi)部設(shè)計(jì)效率而設(shè)計(jì)。 如果示波器供應(yīng)商可以針對(duì)所有示波器使用相同的計(jì)算電路子板,這意味著他們?cè)谠O(shè)計(jì)中使用的是一個(gè)通用的平臺(tái),而示波器的采樣速率、帶寬或屏幕大小卻可以不一樣。 客戶并沒有看到計(jì)算“平臺(tái)”或與之互動(dòng),但它可以幫助供應(yīng)商更快速發(fā)行新示波器,這就是平臺(tái)的價(jià)值。

圖1. 更智能的技術(shù)平臺(tái)為設(shè)計(jì)人員和開發(fā)者提供了較高的起點(diǎn),

使其可重復(fù)利用核心功能元素以及商業(yè)現(xiàn)成技術(shù)。

供應(yīng)商使用一個(gè)平臺(tái)并不是理想的做法。為了讓客戶可以更靈活的使用該平臺(tái),他們必須為其進(jìn)行投資構(gòu)建。 并非一切都需要百分之百開源,(這會(huì)帶來諸多管理挑戰(zhàn))但該平臺(tái)的演進(jìn)速度必須比供應(yīng)商的管理步伐要更快速。

在NI,我們采取一種完全不同的平臺(tái)方法。 我們創(chuàng)建這些平臺(tái)來幫助我們的用戶提高效率——即使有時(shí)候會(huì)犧牲我們自己的效率。 我們?yōu)檐浖峁┝薃PI,為硬件提供了機(jī)械/電氣接口,這樣不同組件可以以任何方式互連,這使得用戶可以獲得最高的效率。 除了剛才關(guān)于示波器計(jì)算“平臺(tái)”的比喻,NI平臺(tái)還讓您指定示波器所需的計(jì)算類型,而且在需要時(shí)進(jìn)行升級(jí),以便與處理需求的變化保持一致。 其他廠商會(huì)讓您買一個(gè)全新的示波器,但NI模塊化示波器能夠讓您單獨(dú)優(yōu)化儀器內(nèi)的各個(gè)組件。

越來越多的硬件功能正轉(zhuǎn)移到軟件領(lǐng)域。 為了與智能設(shè)備的創(chuàng)新步伐保持同步,您需要軟件或儀器和測(cè)試系統(tǒng)具有極大的靈活性。 以RF放大器技術(shù)的新數(shù)字預(yù)失真技術(shù)為例, 為了有效地構(gòu)建這些算法的模型并進(jìn)行測(cè)試,您的儀器需要通過易于理解的軟件實(shí)現(xiàn)開放性和可修改性。儀器成功測(cè)試功率放大器的技術(shù)專利其實(shí)與儀器本身并沒有關(guān)系——但很顯然,它需要能夠與儀器進(jìn)行良好的配合。 專為自定義而構(gòu)建的平臺(tái)方法不僅滿足了這一需求,而且在智能設(shè)備上結(jié)合正確的專業(yè)知識(shí)也可以輕松實(shí)現(xiàn)。

4. 基于平臺(tái)的生態(tài)系統(tǒng)

當(dāng)您贊同用戶可自定義的平臺(tái)是與智能設(shè)備創(chuàng)新步伐保持一致的關(guān)鍵的觀點(diǎn)后,您可能會(huì)開始擔(dān)心自己的自定義能力。 相比之下,數(shù)幾十年來,臺(tái)式儀器為常見的測(cè)量提供按鈕式方法以及基于固件的算法,這在測(cè)量的有效性和可追溯性上有較高的置信度。 那您自定義的儀器如何具有相同的置信度水平呢? 答案是: 一個(gè)由自定義IP組成的生態(tài)系統(tǒng)。

這一情況也同樣適用于iPhone。 如果每個(gè)人都需要自己編寫所有的應(yīng)用程序,那App Store的前景顯然并不那么有吸引力。 但是在創(chuàng)建一個(gè)真正開放的平臺(tái)后,又加入清晰定義的API和硬件規(guī)格,一個(gè)生態(tài)系統(tǒng)就建立起來了。 這就是iPhone成為數(shù)十億個(gè)應(yīng)用程序下載機(jī)器的秘密,這也是NI自動(dòng)化測(cè)試方案成為降低測(cè)試成本最值得信賴的方法的原因。

圖2. NI生態(tài)系統(tǒng)的能力不僅僅在于能夠通過開放式平臺(tái)規(guī)避開發(fā)復(fù)雜測(cè)試系統(tǒng)過程中產(chǎn)生的風(fēng)險(xiǎn)。

NI生態(tài)系統(tǒng)由許多部分組成:

用戶社區(qū)——包含了成千上萬個(gè)使用LabVIEWTestStand和LabWindows?/CVI等NI軟件的活躍用戶。 這還不包括使用NI硬件驅(qū)動(dòng)程序的開發(fā)人員的數(shù)量。 在很多方面,他們正面臨著與您同樣的智能設(shè)備挑戰(zhàn),并積極地在NI在線和面對(duì)面用戶社區(qū)分享他們的經(jīng)驗(yàn)。 如果您在大型跨國組織工作,很有可能貴公司已經(jīng)成立了一個(gè)LabVIEW用戶群。 小型企業(yè)的測(cè)試工程師也可通過社區(qū)獲得來自數(shù)千個(gè)熱心同行的在線幫助。 很多時(shí)候,這些同仁開發(fā)的算法或代碼范例已經(jīng)通過社區(qū)審核,可通過LabVIEW工具網(wǎng)絡(luò)下載。 NI社區(qū)提供的資源數(shù)量之龐大和速度之快是我們、您或任何其他測(cè)試廠商的研發(fā)部門都無法做到的。

合作伙伴和集成商 - 如果您的資源緊張或領(lǐng)域?qū)I(yè)知識(shí)有限,可能會(huì)需要專家的幫助。 無論是簡(jiǎn)單的咨詢或交鑰匙系統(tǒng)交付和支持,NI聯(lián)盟合作伙伴網(wǎng)絡(luò)在全球擁有1000多家合作伙伴,可隨時(shí)為您提供幫助。 許多合作商在類似的自動(dòng)化測(cè)試應(yīng)用上擁有豐富的專業(yè)知識(shí)和經(jīng)驗(yàn),知道如何構(gòu)建可隨需求變化和升級(jí)的智能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。

NI支持——當(dāng)您需要向NI咨詢時(shí),我們?cè)谌虻?00多個(gè)應(yīng)用工程師和系統(tǒng)工程師團(tuán)隊(duì)可以為您提供服務(wù)。 基于對(duì)NI工具的熟練掌握和快速響應(yīng)客戶需求以及幫助客戶成功的堅(jiān)定承諾,NI支持團(tuán)隊(duì)可以通過電話、電子郵件或親自上門來幫助您開發(fā)或優(yōu)化測(cè)試測(cè)量系統(tǒng),以滿足不斷變化的需求。

NI現(xiàn)場(chǎng)工程師-NI擁有一個(gè)世界一流的網(wǎng)站,方便您收集信息和訂購測(cè)試設(shè)備。 但是在您購買之后,我們的當(dāng)?shù)劁N售工程師和內(nèi)部銷售工程師仍會(huì)與您保持密切聯(lián)系,了解您的需求。 您可從使用過產(chǎn)品和熟悉產(chǎn)品目錄的工程師那里獲得答案和建議,他們甚至可以在適當(dāng)?shù)那闆r下提供產(chǎn)品發(fā)展路線圖和生命周期信息。

第三方硬件和軟件—當(dāng)開放式平臺(tái)描述對(duì)外開放后(通過API和支持的硬件接口),就會(huì)促進(jìn)第三方產(chǎn)品生態(tài)系統(tǒng)蓬勃發(fā)展。 將近20年來,PXI這個(gè)由PXI系統(tǒng)聯(lián)盟管理的多廠商聯(lián)盟標(biāo)準(zhǔn)證實(shí)了這一點(diǎn)。 LabVIEW工具網(wǎng)絡(luò)可供下載的第三方軟件的數(shù)量也非??捎^,到目前為止,下載次數(shù)已經(jīng)超過三百萬。 除了查找應(yīng)用所需的特定IP外,LabVIEW工具網(wǎng)絡(luò)還提供了一個(gè)平臺(tái)來讓您分享您在NI生態(tài)系統(tǒng)的投資,并從中獲取一定的利益。

NI硬件服務(wù)—NI提供硬件服務(wù)來幫助您在系統(tǒng)的整個(gè)生命周期內(nèi)實(shí)現(xiàn)最低總體擁有成本。 NI硬件服務(wù)包括維修、更換、區(qū)域性備件、系統(tǒng)配置和組裝以及不同級(jí)別的返修或現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)選項(xiàng)。 在出售超過15萬臺(tái)PXI系統(tǒng)后,校準(zhǔn)和模塊化儀器售后服務(wù)是NI及其他認(rèn)證機(jī)構(gòu)必須抓住的核心競(jìng)爭(zhēng)力。

5. 改變半導(dǎo)體測(cè)試的現(xiàn)狀

2014年,我們針對(duì)RF和混合信號(hào)特性分析以及生產(chǎn)測(cè)試推出了適用于生產(chǎn)的智能系統(tǒng)——半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)(Semiconductor Test System, STS)。 不同于采用封閉式架構(gòu)的ATE,STS采用的是開放式模塊化架構(gòu),可兼容最先進(jìn)的PXI儀器。 這對(duì)于RF和混合信號(hào)測(cè)試尤為重要,因?yàn)閭鹘y(tǒng)ATE的測(cè)試覆蓋范圍往往無法滿足最新半導(dǎo)體技術(shù)的要求。

圖3. NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)(STS)

STS搭載了TestStand半導(dǎo)體模塊、業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的TestStand測(cè)試管理和數(shù)據(jù)分析軟件的專用版本以及LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件,包含了針對(duì)半導(dǎo)體生產(chǎn)環(huán)境的一系列豐富功能,包括一個(gè)可定制的操作界面、分選機(jī)(Handler)/探針臺(tái)(Prober)集成、具有引腳/通道匹配功能且以設(shè)備為中心編程、標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試數(shù)據(jù)格式報(bào)告生成,以及集成式多站點(diǎn)支持。 有了這些功能,您可以快速開發(fā)、調(diào)試和部署測(cè)試程序,縮短整體上市時(shí)間。 此外,STS具有全封閉的“零占用空間”測(cè)試頭,集成了“Optimal+實(shí)時(shí)大數(shù)據(jù)”分析解決方案,采用了Reid Ashman的標(biāo)準(zhǔn)接口連接和對(duì)接機(jī)制,可輕松集成到半導(dǎo)體生產(chǎn)測(cè)試單元中。

Cirrus Logic公司針對(duì)其為IoT設(shè)備供電的Audio-CODEC產(chǎn)品的量產(chǎn)測(cè)試選擇了STS。 在測(cè)試系統(tǒng)的基準(zhǔn)測(cè)試比較中,STS在以下方面完勝專用的封閉式ATE: 速度、測(cè)試覆蓋率和價(jià)格。 根據(jù)比較結(jié)果,Cirrus Logic公司正在嘗試將STS應(yīng)用于更多產(chǎn)品的測(cè)試。 “STS的速度快了約30%。 此外,它滿足了我們提出的所有其他運(yùn)營要求,包括成本。 最后我們的結(jié)論是,購買STS比租用傳統(tǒng)ATE更便宜,”Cirrus Logic公司的產(chǎn)品和工程測(cè)試經(jīng)理John Cooke表示。

“由于測(cè)試系統(tǒng)不斷更新?lián)Q代,或者無法滿足新的測(cè)試需求,因此傳統(tǒng)的ATE系統(tǒng)往往需要高昂的測(cè)試工具替換成本,但是STS的開放式PXI架構(gòu)卻可以讓我們保有原本的投資,并且以此為基礎(chǔ)進(jìn)行優(yōu)化,無需淘汰任何設(shè)備。 此外該架構(gòu)還提供了所需的靈活性來幫助我們重新配置和擴(kuò)展測(cè)試平臺(tái),使其滿足我們不斷提高的性能需求?!?/p>

—Glen E. Peer, Integrated Device Technology Inc.

6. 改變無線測(cè)試現(xiàn)狀

在自動(dòng)化測(cè)試價(jià)值鏈中,驗(yàn)證半導(dǎo)體芯片功能之后的下一步是消費(fèi)設(shè)備的板卡級(jí)和器件級(jí)測(cè)試。 正如STS是在PXI的基礎(chǔ)上添加了一個(gè)堅(jiān)固的外殼、連接選項(xiàng)和專用軟件,我們也對(duì)無線設(shè)備測(cè)試進(jìn)行了同樣的研發(fā),并于2015年推出無線測(cè)試系統(tǒng)(WTS)。WTS結(jié)合了PXI硬件、LabVIEW和TestStand的最新進(jìn)展,為WLAN接入點(diǎn)、手機(jī)、信息娛樂系統(tǒng)和其他包含蜂窩、無線連接和導(dǎo)航標(biāo)準(zhǔn)等多標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備的多標(biāo)準(zhǔn)、多設(shè)備、多端口測(cè)試提供了一個(gè)統(tǒng)一的平臺(tái)。

圖4. NI無線測(cè)試系統(tǒng)(WTS)

WTS結(jié)合NI PXI矢量信號(hào)收發(fā)儀(VST)和多核處理技術(shù),提供業(yè)界領(lǐng)先的測(cè)試速度。 通過更快速的測(cè)量,用戶可減少無線設(shè)備制造測(cè)試的成本。 在軟件方面,基于TestStand的無線測(cè)試模塊為Qualcomm和Broadcom等無線芯片廠商提供了可立即運(yùn)行的測(cè)試序列,SCPI接口可允許基于以太網(wǎng)的遠(yuǎn)程自動(dòng)化,使該模塊能夠輕松集成到現(xiàn)有的生產(chǎn)線。

借助這些功能,用戶將可大大提高其測(cè)試設(shè)備的效率,并進(jìn)一步降低測(cè)試成本。 哈曼公司選擇WTS來測(cè)試其緊急呼叫裝置,并與NI鉑金級(jí)聯(lián)盟伙伴NOFFZ合作,將WTS直接集成到生產(chǎn)線中。 “使用NI無線測(cè)試系統(tǒng),我們可以在同一個(gè)設(shè)備上測(cè)試多種無線技術(shù),包括藍(lán)牙、WIFI、GPS和蜂窩。”HARMAN/Becker汽車系統(tǒng)公司的Markus Krauss表示, “WTS和NOFFZ的RF測(cè)試工程專業(yè)知識(shí)幫助我們顯著減少了測(cè)試時(shí)間,且可以快速安裝和運(yùn)行測(cè)試系統(tǒng)?!?/p>

7. 總結(jié)

隨著待測(cè)設(shè)備日益智能化,有一個(gè)問題出現(xiàn)了: 我是否能夠相信我的儀器供應(yīng)商具有足夠快速的創(chuàng)新能力來滿足我的業(yè)務(wù)需求? 或許更重要的一點(diǎn)是,這是否值得我冒著風(fēng)險(xiǎn)去尋找答案?

責(zé)任編輯:gt


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    ` 本帖最后由 wcl86 于 2021-5-14 15:32 編輯 Teststand應(yīng)用領(lǐng)域:1、軍事、國防和航空測(cè)試2、汽車測(cè)試3、半導(dǎo)體特性研究項(xiàng)目實(shí)際應(yīng)用強(qiáng)大之處:1、氣
    發(fā)表于 11-28 16:21

    半導(dǎo)體存儲(chǔ)器測(cè)試技術(shù)

    半導(dǎo)體存儲(chǔ)器測(cè)試原理,半導(dǎo)體存儲(chǔ)器的性能測(cè)試,集成電路測(cè)試系統(tǒng).
    發(fā)表于 08-17 22:36 ?168次下載
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>存儲(chǔ)器<b class='flag-5'>測(cè)試</b>技術(shù)

    全面提升自動(dòng)化測(cè)試,NI TestStand 2012新模塊化框架

    NI TestStand 2012采用全新的模塊化框架,能夠簡(jiǎn)化自動(dòng)化測(cè)試的開發(fā)和報(bào)告生成。
    發(fā)表于 11-06 17:42 ?1914次閱讀

    半導(dǎo)體測(cè)試愈發(fā)重要,如何進(jìn)行半導(dǎo)體測(cè)試?

    作為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的其中一個(gè)環(huán)節(jié),半導(dǎo)體測(cè)試一直以來備受關(guān)注。隨著半導(dǎo)體制程工藝不斷提升,測(cè)試和驗(yàn)證也變得更加重要。
    的頭像 發(fā)表于 04-11 09:12 ?1.6w次閱讀

    半導(dǎo)體推力測(cè)試儀優(yōu)化了測(cè)試模塊

    半導(dǎo)體推力測(cè)試儀優(yōu)化了測(cè)試模塊,適應(yīng)不同類型測(cè)試環(huán)境的能力,保證了同一測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 04-12 17:58 ?819次閱讀

    半導(dǎo)體靜態(tài)測(cè)試參數(shù)是什么?納米軟件半導(dǎo)體參數(shù)分析系統(tǒng)能否滿足測(cè)試指標(biāo)?

    半導(dǎo)體靜態(tài)測(cè)試參數(shù)是指在直流條件下對(duì)其進(jìn)行測(cè)試,目的是為了判斷半導(dǎo)體分立器件在直流條件下的性能,主要是測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 10-10 15:05 ?1482次閱讀

    半導(dǎo)體測(cè)試方法解析 納米軟件半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)助力測(cè)試

    半導(dǎo)體如今在集成電路、通信系統(tǒng)、照明等領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用,是一種非常重要的材料。在半導(dǎo)體行業(yè)中,半導(dǎo)體測(cè)試是特別關(guān)鍵的環(huán)節(jié),以保證
    的頭像 發(fā)表于 11-07 16:31 ?1093次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>方法解析 納米軟件<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>助力<b class='flag-5'>測(cè)試</b>

    半導(dǎo)體IC測(cè)試解決方案測(cè)試的指標(biāo)包含哪些?

    半導(dǎo)體IC測(cè)試解決方案測(cè)試的指標(biāo)包含哪些? 半導(dǎo)體IC測(cè)試解決方案的指標(biāo)可以根據(jù)不同的需求和應(yīng)用來確定。下面將詳細(xì)介紹一些常見的
    的頭像 發(fā)表于 11-09 09:24 ?1556次閱讀

    什么是半導(dǎo)體的成品測(cè)試系統(tǒng),如何測(cè)試其特性?

    什么是半導(dǎo)體的成品測(cè)試系統(tǒng),如何測(cè)試其特性? 半導(dǎo)體的成品測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 11-09 09:36 ?1109次閱讀