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在氮化鎵外延結(jié)構(gòu)中首次實(shí)現(xiàn)了垂直溝道結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管

kus1_iawbs2016 ? 來(lái)源:lq ? 2018-12-13 16:55 ? 次閱讀

德國(guó)亞琛工業(yè)大學(xué)在氮化鎵(GaN)外延結(jié)構(gòu)中首次實(shí)現(xiàn)了垂直溝道結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管(vc-JFET)。

垂直器件對(duì)于高功率密度應(yīng)用是很有應(yīng)用價(jià)值的,因?yàn)橥ㄟ^(guò)該結(jié)構(gòu)將峰值電場(chǎng)從表面推入散裝材料,從而避免了對(duì)表面鈍化或場(chǎng)板的需要。

研究人員使用低成本的2英寸藍(lán)寶石襯底通過(guò)MOCVD生成準(zhǔn)垂直vc-JFET。之后使用重n型摻雜GaN層實(shí)現(xiàn)背面“虛擬”接觸(圖1)。真正的垂直器件會(huì)使漏極觸點(diǎn)穿過(guò)晶圓的背面 - 這是使用絕緣藍(lán)寶石無(wú)法實(shí)現(xiàn)的。

圖1:具有選擇性再生長(zhǎng)的p-GaN柵極區(qū)域的準(zhǔn)垂直vc-JFET的示意圖。

在大多數(shù)垂直器件的研究中,會(huì)選擇使用更昂貴的獨(dú)立式或塊狀GaN,形成真正的垂直結(jié)構(gòu)。但在實(shí)際生產(chǎn)中,成本是一個(gè)關(guān)鍵考慮因素,真正的垂直器件將有幾種可能的生成途徑 ——不使用襯底或使用導(dǎo)電生長(zhǎng)襯底,例如獨(dú)立式或塊狀GaN或硅。但使用硅則會(huì)導(dǎo)致材料質(zhì)量低,從而泄漏電流越大。

通過(guò)首先施加2μm輕摻雜n-GaN漂移層和20nm重?fù)诫sn-GaN接觸層來(lái)生長(zhǎng)RWTH器件結(jié)構(gòu),然后使用二氧化硅作為在掩模和MOCVD期間保護(hù)溝道的硬掩模,在重?fù)诫sp-GaN的選擇性區(qū)域再生長(zhǎng)。其中柵極 - 柵極(GTG)距離為4μm。通道寬度為54μm。

用于選擇性區(qū)域再生的刻蝕使用干法和濕法的組合方法。溝道的側(cè)壁與GaN晶體結(jié)構(gòu)的m面對(duì)準(zhǔn),以減少干刻蝕的粗糙度。濕四甲基氫氧化銨(TMAH)處理進(jìn)一步使側(cè)壁變平并從蝕刻底部的c面表面去除蝕刻損傷。在p-GaN再生長(zhǎng)之后,通過(guò)在氮?dú)庵性?00℃下退火900秒來(lái)激活材料。退火的目的是從鎂摻雜中除去氫。氫 - 鎂絡(luò)合物干擾p-GaN材料中所需的空穴的產(chǎn)生。

該器件的金屬化由用于漏極和源極的鈦/鋁/鎳/金和用于p-GaN柵極的鎳/金組成。首先沉積漏電極,然后是柵極,最后是源極。漏電極和柵電極分別在830℃和535℃下退火。由于p-GaN接觸的溫度限制,源電極未退火。

漏極觸點(diǎn)為歐姆,接觸電阻為0.8Ω-mm。然而,柵極接觸是非線性的,在零偏壓下具有900Ω-mm的接觸電阻,而源極表現(xiàn)出肖特基行為。這些問題與源極接觸的非退火性質(zhì)和在柵極下面不存在重?fù)诫s的p-GaN層有關(guān)。

柵電極允許調(diào)制pn結(jié)處的耗盡層的厚度,阻斷源極和漏極之間的溝道區(qū)域中的電流。漂移層具有“中等”厚度,降低了預(yù)期的擊穿性能。中等漂移層的目的是通過(guò)干刻蝕過(guò)程更容易接近虛擬背接觸。

鑒于類似肖特基的“源極”接觸,研究人員決定逆轉(zhuǎn)漏極偏置,因此器件的操作就好像源是漏極一樣,反之亦然。包括肖特基導(dǎo)通電壓約0.5V的器件的行為延遲了漏極偏置的電流增加。具體的導(dǎo)通電阻為2.36mΩ-cm2,歸一化為溝道截面積。 柵極漏電流比漏極電流低兩個(gè)數(shù)量級(jí),柵極電位高達(dá)10V。

圖2:1V源極 - 漏極偏置下的準(zhǔn)垂直vc-JFET的漏極和柵極電流以及跨導(dǎo),傳輸特性。 標(biāo)準(zhǔn)化為通道橫截面。

雖然晶體管沒有夾斷,但柵極電位確實(shí)調(diào)制了漏極電流(高達(dá)1.8倍,柵極為-10V,圖2)。根據(jù)模擬,夾斷發(fā)生在-112V左右。將其放在一位數(shù)范圍內(nèi)需要縮小尺寸,同時(shí)減少溝道摻雜以增加空間電荷區(qū)域的范圍。模擬結(jié)果表明,在-12V時(shí),空間電荷區(qū)域僅從4μm柵極 - 柵極間隙的兩側(cè)延伸1μm。

模擬還表明,常關(guān)增強(qiáng)模式操作將會(huì)產(chǎn)生1μm的柵極 - 柵極間距,以及5μm溝道長(zhǎng)和5x10E15·cm-3摻雜,提供+2.3V閾值。根據(jù)汞電容 - 電壓分布測(cè)量,實(shí)驗(yàn)裝置的漂移/溝道摻雜為1×10E16·cm-3。

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原文標(biāo)題:氮化鎵垂直溝道結(jié)場(chǎng)效應(yīng)晶體管

文章出處:【微信號(hào):iawbs2016,微信公眾號(hào):寬禁帶半導(dǎo)體技術(shù)創(chuàng)新聯(lián)盟】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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