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能量采集設(shè)計中破壞電壓浪涌的解決方案

電子設(shè)計 ? 來源:郭婷 ? 作者:電子設(shè)計 ? 2019-03-28 08:57 ? 次閱讀

與任何電子電路一樣,當(dāng)瞬態(tài)電壓浪涌超過元件額定值時,能量收集設(shè)計可能會發(fā)生災(zāi)難性故障。隨著人們越來越關(guān)注在極低電壓可穿戴設(shè)備和物聯(lián)網(wǎng)中利用能量收集,設(shè)計人員需要敏銳地意識到破壞性電壓浪涌的來源及其緩解方法。通過在設(shè)計過程早期認(rèn)識到對瞬態(tài)電壓抑制(TVS)器件的需求,工程師可以構(gòu)建更強大的設(shè)計,能夠在許多瞬態(tài)電壓浪涌源中存活。

突然釋放導(dǎo)致瞬態(tài)電壓浪涌與電源波動,突然負(fù)載變化,耦合效應(yīng),閃電和靜電放電(ESD)等相關(guān)的能量。對于電路設(shè)計者來說,瞬態(tài)下的能量突發(fā)通常起源于位置,并且由于遠(yuǎn)離受影響電路的情況。例如,遠(yuǎn)距離雷擊的強電場和磁場可以耦合到數(shù)據(jù)線和電源線中,從而可以很好地從雷擊本身中消除大的浪涌電壓。

ESD是由允許帶電的條件造成的通過接觸和分離兩種非導(dǎo)電材料,直到帶電體與另一種低電位物體接觸為止。例如,在特別干燥的一天穿過地毯可能導(dǎo)致35kV的電荷(表1)。如果應(yīng)用于未受保護的可穿戴設(shè)備或物聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng),ESD瞬態(tài)可能會永久性地?fù)p壞敏感數(shù)字電路

生成方式10-25%RH 65-90%RH走過地毯35,000 V 1,500 V走路乙烯基瓷磚12,000 V 250 V <! - 重復(fù)以下tr以獲得更多行 - >工作人員在工作臺6,000 V 100 V聚乙烯袋從工作臺上取出20,000 V 1,200 V椅子與聚氨酯泡沫18,000 V 1,500 V

表1:在特別干燥的日子里在地毯上輕松走動會導(dǎo)致ESD瞬態(tài)大到足以永久性地?fù)p壞電子設(shè)備,而電子設(shè)備的保護不足以防止瞬態(tài)電壓浪涌。

當(dāng)電荷作為電源或電源構(gòu)建時會出現(xiàn)類似的問題。 USB電纜拖過地毯或由已經(jīng)產(chǎn)生靜電的個人處理。當(dāng)個人將電纜接觸到可穿戴設(shè)備的電源端口或物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備的通信端口時,突然放電的瞬態(tài)可能會對電子系統(tǒng)造成永久性損壞。

內(nèi)部保護

大多數(shù)IC都包含內(nèi)部保護電路,旨在防止因制造和組裝過程中可能發(fā)生的ESD沖擊而導(dǎo)致的故障。 I/O線路內(nèi)部保護的常用方法依賴于二極管陣列,該陣列設(shè)計用于將浪涌電流引導(dǎo)到電源軌中,其中瞬態(tài)電壓脈沖的能量被消散。正浪涌脈沖將被鉗位到一個電壓,該電壓等于高于電源電壓的正向二極管電壓降(V <小> DD )。由于V SS 引腳通常接地,負(fù)脈沖將被鉗位到地下一個二極管壓降。

能量采集設(shè)計中破壞電壓浪涌的解決方案

圖1:半導(dǎo)體制造商使用各種專有方法提供器件級保護,包括使用內(nèi)部二極管陣列將電流引導(dǎo)遠(yuǎn)離IC內(nèi)的敏感電路。 (由安森美半導(dǎo)體提供)

內(nèi)部保護電路通常能夠防止組裝中發(fā)生的ESD故障,但通常不足以防止在正常產(chǎn)品使用中發(fā)生的浪涌事件。半導(dǎo)體行業(yè)反映了使用器件級和系統(tǒng)級模型來表征ESD保護的這種差異。人體模型(HBM)或充電設(shè)備模型(CDM)是設(shè)備級規(guī)范,旨在在制造和組裝期間提供對隔離設(shè)備的保護。 HBM測試在ANSI/ESDA/JEDEC JS-001標(biāo)準(zhǔn)中正式規(guī)定。 IEC 61000-4-2和ISO 10605用于表示系統(tǒng)級使用情況,反映更高,更快的電壓浪涌波形(圖2)。

能量采集設(shè)計中破壞電壓浪涌的解決方案

圖2:設(shè)備級保護標(biāo)準(zhǔn)指定的電流水平明顯低于系統(tǒng)級標(biāo)準(zhǔn) - 分別代表組裝和使用過程中可能出現(xiàn)的瞬態(tài)浪涌。雖然不同半導(dǎo)體器件的數(shù)據(jù)表可能提供HBM ESD額定值,但系統(tǒng)級額定值通常僅包括保護IC或針對惡劣環(huán)境的IC。 (德州儀器公司提供)

大多數(shù)半導(dǎo)體器件缺乏系統(tǒng)級額定值是成本和效率的問題。二極管的浪涌抑制能力與其結(jié)區(qū)直接相關(guān),并且隨著技術(shù)節(jié)點的不斷縮小,強大的系統(tǒng)級ESD保護的集成變得更加昂貴和困難。因此,內(nèi)部保護不僅受到保護水平的限制,而且還受到浪涌數(shù)量的限制。相比之下,外部TVS設(shè)備能夠分配足夠的芯片空間來提供系統(tǒng)級保護,并為無限量的浪涌提供免疫力。

外部TVS設(shè)備旨在限制通過電流的電流。通過降低浪涌電壓的大小來保護IC。理想的外部TVS器件將在IC的內(nèi)部保護電路之前導(dǎo)通,并消除浪涌的所有能量。實際上,外部和內(nèi)部保護電路通常在浪涌事件期間開啟。只要流經(jīng)IC內(nèi)部保護電路的電流仍然限制在較低值,IC的可靠性將基本不受影響。

外部瞬態(tài)保護器件的替代方案中,TVS二極管通常提供較低的工作電壓與其他瞬態(tài)抑制設(shè)備(如壓敏電阻晶閘管)相比,電容值更低,動態(tài)電阻值更低。此外,TVS器件能夠非常快速地恢復(fù)到高阻態(tài),從而實現(xiàn)高ESD多擊吸收能力。

關(guān)鍵布局

即使使用高效的TVS器件也是如此,有效的保護主要取決于設(shè)計的物理布局。作為一般規(guī)則,ESD器件應(yīng)盡可能靠近預(yù)期的靜電放電點,電源旁路電容應(yīng)盡可能靠近器件的正電源軌(VP)引腳放置。同時,設(shè)計人員需要最大限度地減少電源,接地層以及信號輸入和ESD器件之間的PCB走線長度,以減少電源軌上的雜散串聯(lián)電感和受保護器件的輸入線(圖3) 。

能量采集設(shè)計中破壞電壓浪涌的解決方案

圖3:高效的PCB布局對于降低瞬態(tài)電壓至關(guān)重要,而較新的TVS器件如安森美半導(dǎo)體CM1293A-02SO則結(jié)合了一對二極管(D1和D2)帶有集成齊納二極管,可降低電源軌上的寄生串聯(lián)電感L2。 (由安森美半導(dǎo)體提供)

即使PCB走線上的小寄生串聯(lián)電感也會導(dǎo)致鉗位電壓顯著增加。為了幫助降低寄生電感,安森美半導(dǎo)體CM1293A-02SO在VP和VN(負(fù)電源軌)(圖3左側(cè))上集成了一個齊納二極管。該集成齊納二極管通過將齊納二極管的擊穿電壓鉗位電壓,大大降低了電源軌電感(圖3中的L2)的影響。

對于可穿戴設(shè)備甚至物理空間非常寶貴的物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備等設(shè)計,工程師可以找到緊湊型封裝的TVS設(shè)備。例如,安森美半導(dǎo)體提供0.3 V ESD7381MUT5G TVS,采用0.60 mm x 0.30 mm XFDFN封裝,高度為0.3 mm,CM1205-08CP TVS采用8個TVS器件集成在一個1.3 mm x 0.65 mm晶圓級芯片級封裝中(WLCSP)高度僅為0.4 mm。

設(shè)備特性

工程師可以找到各種可用的TVS設(shè)備,但找到最符合設(shè)計要求的部件取決于仔細(xì)查看特定設(shè)備的特性。典型的TVS器件I-V曲線表現(xiàn)出熟悉的擊穿效應(yīng),但高于和低于該擊穿電壓(VBR)的電壓電平對于理解TVS性能非常重要(圖4)。與齊納二極管不同,隨著PN結(jié)溫度的升高,擊穿電壓降低,TVS器件是雪崩器件,隨著PN結(jié)溫度的升高,擊穿電壓也會增加。因此,工程師可能需要在確定環(huán)境溫度下與標(biāo)準(zhǔn)25°C顯著不同的特定特性時考慮溫度。

能量采集設(shè)計中破壞電壓浪涌的解決方案

圖4:典型單向TVS器件的IV曲線關(guān)鍵規(guī)格的相對電壓電平:工作峰值反向電壓(VRWM),擊穿電壓(VBR)和鉗位電壓(VC)。理想的雙向TVS設(shè)備將顯示相同的正向和反向特性。 (由Toshiba提供)

在最低閾值,反向工作電壓VRWM(也稱為隔離電壓,Vst-off)時,器件顯示為關(guān)閉,只有其寄生效應(yīng)和漏電流影響電路。 VRWM通常比反向擊穿電壓VBR(也稱為齊納電壓,VZ,用于基于齊納的器件)低10%至15%,其中TVS器件開始導(dǎo)通,進入其雪崩區(qū)域。最后,鉗位電壓VC通常比VBR高35%到40%,代表器件在指定峰值沖擊電流IP下的最大鉗位電壓。

峰值功耗(PPP)當(dāng)然是一個非常重要的特征。制造商通過在監(jiān)控設(shè)備電壓和電流的同時強制通過TVS的指定電流波形來測量PPP。峰值功率測量中使用的最常見波形是8/20μs和10/1000μs電流波形。 (在此表示法中,第一個值以μs為單位描述波形的上升時間,第二個值以μs為單位描述波形下降到其峰值一半的時間。)盡管PPP并未始終明確列在器件數(shù)據(jù)表中,但工程師可以簡單地通過將峰值脈沖電流(IPP)乘以鉗位電壓(VC)得出它:

PPP = VC x IPP

動態(tài)電阻(RDYN)是確定適用性的另一個重要特性特別保護IC。當(dāng)電流在瞬態(tài)浪涌期間流過保護裝置時,RDYN將導(dǎo)致進一步的電壓降。

對于特定應(yīng)用,最合適的TVS裝置是具有等于最大連續(xù)DC或VRWM的裝置。應(yīng)用電路在正常工作時將經(jīng)歷的峰值 - 交流電壓。同時,工程師需要確保VC不超過電路中其他組件安全工作條件可接受的瞬時電壓水平。最后,RDYN必須足夠低,以確保在峰值電流時器件自身的動態(tài)電阻不會導(dǎo)致鉗位電壓超過可接受的限值(圖5)。

能量采集設(shè)計中破壞電壓浪涌的解決方案

圖5:即使兩個器件A和B指定相同的擊穿電壓和峰值電流,如果器件B具有比器件A更高的動態(tài)電阻(RDYN),器件B可能是一種效率較低的保護裝置,因為它達(dá)到了更高的鉗位電壓(紅線)。 (安森美半導(dǎo)體提供)

最后,工程師可以利用具有不同工作電壓的器件組合,為太陽能收集等高壓應(yīng)用提供額外保護。對于此類應(yīng)用,設(shè)計人員可以使用具有不同VRWM規(guī)格的多個TVS器件,以降低單個TVS器件在高壓瞬態(tài)事件中可能必須消耗的總能量(圖6)。在這里,諸如Vishay SMBJ24D(24 V VRWM)之類的設(shè)備將提供主要保護。以下串聯(lián)電阻可降低電流,如Vishay SMBJ5.0CD(5 V VRWM)。為了進一步減少對受保護IC內(nèi)部保護電路的影響,工程師可以在第二個TVS器件和IC之間放置另一個串聯(lián)電阻。

能量采集設(shè)計中破壞電壓浪涌的解決方案

圖6 :工程師可以通過使用額外的TVS設(shè)備來減輕非常大的瞬態(tài)電壓浪涌的影響,其中主設(shè)備向次級設(shè)備提供減少的浪涌以進一步抑制。插入的串聯(lián)電阻減小了到達(dá)次級設(shè)備的電流,并最終降低了負(fù)載。 (由Vishay提供)

結(jié)論

隨著行業(yè)越來越傾向于低壓設(shè)計,沒有瞬態(tài)電壓浪涌保護的電路面臨性能下降甚至永久性損壞的威脅。 TVS器件具有廣泛的性能特征,可為保護這些敏感設(shè)計提供經(jīng)濟高效的解決方案。通過在設(shè)計階段早期安裝TVS器件,工程師可以提供更強大的設(shè)計,能夠承受瞬態(tài)電壓浪涌的影響。

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