PCB板在生產(chǎn)過(guò)程中，難免因外在因素而造成短路、斷路及漏電等電性上的瑕疵，再加上PCB線路板不斷朝高密度、細(xì)間距及多層次的演進(jìn)，若未能及時(shí)將不良板篩檢出來(lái)，而任其流入制程中，勢(shì)必會(huì)造成更多的成本浪費(fèi)，因此除了制程控制的改善外，提高測(cè)試的技術(shù)也是可以為PCB板制造者提供降低報(bào)廢率及提升產(chǎn)品良率的解決方案。

電性測(cè)試的方法有：專用型（Dedicated）、泛用型（UniversalGrid）、飛針型（FlyingProbe）、非接觸電子束（E-Beam）、導(dǎo)電布（膠）、電容式（Capacity）及刷測(cè)（ATG-SCANMAN），其中最常使用的設(shè)備有三種，分別是專用測(cè)試機(jī)（PCB自動(dòng)通用測(cè)試機(jī)）、高品質(zhì)泛用測(cè)試機(jī)及飛針測(cè)試機(jī)。

飛針測(cè)試是一個(gè)檢查PCB電性功能的方法（開(kāi)短路測(cè)試）之一。飛測(cè)試機(jī)是一個(gè)在制造環(huán)境測(cè)試PCB的系統(tǒng)。不是使用在傳統(tǒng)的在線測(cè)試機(jī)上所有的傳統(tǒng)針床（bed-of-nails）界面，飛針測(cè)試使用四到八個(gè)獨(dú)立控制的探針，移動(dòng)到測(cè)試中的元件。在測(cè)單元（UUT，?unit?under?test）通過(guò)皮帶或者其它UUT傳送系統(tǒng)輸送到測(cè)試機(jī)內(nèi)。然后固定，測(cè)試機(jī)的探針接觸測(cè)試焊盤(pán)（test?pad）和通路孔（via）從而測(cè)試在測(cè)單元（UUT）的單個(gè)元件。測(cè)試探針通過(guò)多路傳輸（multiplexing）系統(tǒng)連接到驅(qū)動(dòng)器（信號(hào)發(fā)生器、電源供應(yīng)等）和傳感器（數(shù)字萬(wàn)用表、頻率計(jì)數(shù)器等）來(lái)測(cè)試UUT上的元件。當(dāng)一個(gè)元件正在測(cè)試的時(shí)候，UUT上的其它元件通過(guò)探針器在電氣上屏蔽以防止讀數(shù)干擾。

飛針測(cè)試和測(cè)試架有什么區(qū)別？各自的優(yōu)勢(shì)是什么？

飛針測(cè)試：是利用4支探針對(duì)線路板進(jìn)行高壓絕緣和低阻值導(dǎo)通測(cè)試（測(cè)試線路的開(kāi)路和短路）而不需要做測(cè)試治具，直接裝PCB板運(yùn)行測(cè)試程序即可測(cè)試極為方便，節(jié)約了測(cè)試成本，減去了制作測(cè)試架的時(shí)間，提高了出貨的效率，適合測(cè)試小批量及樣板。

而測(cè)試架，是針對(duì)量產(chǎn)的PCB板進(jìn)行通斷測(cè)試而做的專門(mén)的測(cè)試夾具，制作成本較高，但測(cè)試效率較好，返單不收費(fèi)。

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