動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2022-06-16 15:07
PCB 板電子芯片高低溫沖擊測(cè)試
PCB板、電子芯片在出廠(chǎng)前需要進(jìn)行環(huán)境測(cè)試，模擬PCB板在氣候環(huán)境下操作及儲(chǔ)存的適應(yīng)性，已確保其在極端環(huán)境下也可正常工作。上海伯東代理的 Temptronic ThermoStream? 高低溫測(cè)試機(jī)可以精準(zhǔn)快速的實(shí)現(xiàn) PCB 板和電子芯片等電子元件的高低溫循環(huán)測(cè)試 Thermal?cycle、冷熱沖擊試驗(yàn) Thermal?stock?、老化試驗(yàn)、可靠性試驗(yàn)2.1k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2022-06-16 14:10
inTEST 熱流儀集成電路 IC 芯片高低溫沖擊測(cè)試
上海伯東美國(guó) inTEST ThermoStream熱流儀提供清潔干燥的冷熱循環(huán)沖擊氣流, 可達(dá)到快速精準(zhǔn)的測(cè)試溫度, 適合模擬各種溫度測(cè)試和調(diào)節(jié)的應(yīng)用, 獲得高校普遍認(rèn)可, 已廣泛參與集成電路研發(fā)重點(diǎn)項(xiàng)目的研究.1.7k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2022-06-16 13:59
如何選擇 inTEST 熱流儀配套測(cè)試腔
inTEST 測(cè)試腔體ThermoChamber? 可與 ThermoStream 溫度循環(huán)系統(tǒng)搭配進(jìn)行高低溫循環(huán)測(cè)試, inTEST 設(shè)計(jì)出多種容易攜帶及更換的測(cè)試腔，這也是您使用 inTEST -ATS 超高速高低溫循環(huán)試驗(yàn)機(jī)進(jìn)行溫度測(cè)試時(shí)理想的搭配工具。在選擇測(cè)試腔體時(shí)，應(yīng)考慮腔體尺寸大小、密合方式及溫度范圍等要素。1.2k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2022-06-16 13:55
inTEST ThermoStream 熱流儀已全面取代 Temptronic 和Thermonics
上海伯東美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)可與愛(ài)德萬(wàn) advantest, 泰瑞達(dá) teradyne, 惠瑞捷 verigy 工程機(jī)聯(lián)用, 進(jìn)行半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試. inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)可以快速提供需要的模擬環(huán)境溫度滿(mǎn)足半導(dǎo)體芯片的溫度沖擊和溫度循環(huán)測(cè)試.1.5k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2022-06-16 13:50
inTEST ATS-535 熱流儀全球唯一集成空壓機(jī)的高低溫沖擊機(jī)
上海伯東代理美國(guó) inTEST ThermoStream ATS-535 是目前全球唯一內(nèi)部集成空壓機(jī)的高低溫沖擊機(jī) ( 熱流儀 ),整機(jī)噪音 < 70 dBA, 不需要額外安裝空壓機(jī)即可完成各類(lèi)芯片的高低溫沖擊試驗(yàn). 特別適用于對(duì)環(huán)境噪音有嚴(yán)格要求的寫(xiě)字樓園區(qū)或研發(fā)環(huán)境, 除了機(jī)動(dòng)性方便移動(dòng)外1.6k瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2022-06-14 15:31
inTEST 熱流儀, 高低溫沖擊測(cè)試
產(chǎn)品型號(hào)：ATS-545 品牌：inTEST 型號(hào)：ATS-545 產(chǎn)地：美國(guó)320瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2022-06-14 15:24
inTEST 熱流儀, 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)
產(chǎn)品型號(hào)：ATS-535 品牌：inTEST 型號(hào)：ATS-535 產(chǎn)地：美國(guó)164瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2022-06-13 12:50
上海伯東美國(guó) inTEST 熱流儀電源管理芯片高低溫沖擊測(cè)試
電源管理芯片由于多是在狹小空間內(nèi)工作, 散熱的條件不好, 大多是在高溫的環(huán)境中長(zhǎng)時(shí)間工作, 電源芯片經(jīng)常經(jīng)歷快速升溫的情況, 甚至經(jīng)歷在電壓不穩(wěn)時(shí)快速變溫的情況,上海伯東美國(guó) inTEST ThermoStream 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)提供 -100°C 至 +225°C 快速溫度沖擊范圍, 滿(mǎn)足各類(lèi)電源管理芯片的高低溫沖擊測(cè)試.1.3k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2022-06-13 12:45
上海伯東美國(guó) inTEST 熱流儀搭配 Keysight 進(jìn)行功率器件高低溫沖擊測(cè)試
上海伯東美國(guó) inTEST 熱測(cè)產(chǎn)品搭配 Keysight 機(jī)臺(tái), 提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -50℃ - 250℃ 自動(dòng)化熱測(cè)試解決方案. Keysight 機(jī)臺(tái)完美兼容 inTEST 軟件, 操作簡(jiǎn)單.1.3k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2022-06-13 11:34
上海伯東美國(guó) inTEST 熱流儀車(chē)規(guī)級(jí)芯片,汽車(chē)芯片高低溫沖擊測(cè)試
不同于傳統(tǒng)消費(fèi)電子產(chǎn)品, 車(chē)規(guī)芯片前期的開(kāi)發(fā)及驗(yàn)證期可能長(zhǎng)達(dá)3年, 相關(guān)研發(fā)費(fèi)用和時(shí)間成本高昂, 從而需要更快地響應(yīng)不斷變化的車(chē)輛架構(gòu)和嚴(yán)苛的產(chǎn)品上市時(shí)間. 上海伯東美國(guó) inTEST ThermoStream 熱流儀滿(mǎn)足汽車(chē)半導(dǎo)體行業(yè)更嚴(yán)格及更高效的測(cè)試要求, 可以對(duì)微控制單元 MCU, 傳感器和存儲(chǔ)器 DRAM 等車(chē)載芯片進(jìn)行快速高低溫沖擊測(cè)試, 極大節(jié)1.2k瀏覽量
