動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2024-09-23 09:32
SD NAND性能測(cè)試工具
H2 testw檢測(cè)工具是一款能夠?yàn)橛脩?hù)們提供全面的U盤(pán)讀寫(xiě)性能的U盤(pán)工具,H2testwU盤(pán)檢測(cè)工具能夠準(zhǔn)確的檢測(cè)出U盤(pán)的參數(shù)信息,提高用戶(hù)的使用效率。而SD NAND通過(guò)轉(zhuǎn)接板,插上讀卡器后其實(shí)也等同于U盤(pán),因此,也可以通過(guò)此方式測(cè)試SD NAND的性能。751瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2024-09-18 11:04
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發(fā)布了文章 2024-09-02 11:06
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發(fā)布了文章 2024-09-02 11:03
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發(fā)布了文章 2024-08-30 12:21
SD NAND參考設(shè)計(jì)提示
一、電路設(shè)計(jì)1、參考電路:R1~R5(10K-100kΩ)是上拉電阻,當(dāng)SDNAND處于高阻抗模式時(shí),保護(hù)CMD和DAT線免受總線浮動(dòng)。即使主機(jī)使用SDNANDSD模式下的1位模式,主機(jī)也應(yīng)通過(guò)上拉電阻上拉所有的DATO-3線。R6(RCLK)參考0-120Ω。其他詳細(xì)電路應(yīng)用說(shuō)明,請(qǐng)參考“SDA協(xié)會(huì)規(guī)范”第6章“SDMemoryCardHardwareIn605瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2024-08-26 10:23
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發(fā)布了文章 2024-08-19 15:27
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發(fā)布了文章 2024-08-19 14:40
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發(fā)布了文章 2024-08-13 14:40
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發(fā)布了文章 2024-08-13 09:44
SD NAND測(cè)試套件:提升存儲(chǔ)芯片驗(yàn)證效率
SD NAND轉(zhuǎn)接板和燒錄座是一種專(zhuān)為工程師設(shè)計(jì)的輔助工具,它能夠?qū)⒉煌叽绲腟D NAND芯片轉(zhuǎn)換為通用TF接口封裝,從而方便地進(jìn)行性能測(cè)試和驗(yàn)證。這種配套測(cè)試工具不僅提高了工作效率,還大大降低了測(cè)試成本。736瀏覽量