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• 發(fā)布了文章 2025-03-18 21:31

  絕緣電阻測試：電氣安全的關(guān)鍵防線

  

  絕緣電阻測試的起源與定義絕緣電阻測試（InsulationResistanceTest，簡稱IR）是一種歷史悠久且廣泛應(yīng)用的絕緣質(zhì)量評估手段。自20世紀(jì)初誕生以來，也是燈具安規(guī)測試標(biāo)準(zhǔn)評估燈具安全性能的重要指標(biāo)之一。該測試的核心在于測量被測設(shè)備的絕緣電阻，通過將相線和中性線短路，確保測得的電阻值高于國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的限值。兆歐表（又稱絕緣電阻測試儀）是這一測試的

  電氣安全 電阻測試 絕緣電阻

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• 發(fā)布了文章 2025-03-18 21:30

  FIB測試技術(shù)：從原理到應(yīng)用

  

  FIB技術(shù)的核心價值聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種在微納尺度上實(shí)現(xiàn)材料精確加工的先進(jìn)技術(shù)。它通過將離子束聚焦到極高的精度，能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行納米級的蝕刻和加工。這種技術(shù)的關(guān)鍵在于其能夠產(chǎn)生直徑極細(xì)的離子束，從而在納米加工領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用。其高精度的加工能力使其成為現(xiàn)代科學(xué)研究和工業(yè)制造中不可或缺的工具。FIB的工作原理FIB的工作原理基于離子源產(chǎn)生的離子

  fib 測試 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-03-17 16:30

  PCB失效分析技術(shù)：保障電子信息產(chǎn)品可靠性

  

  在現(xiàn)代電子信息產(chǎn)業(yè)中，PCB（印刷電路板）作為元器件的載體和電路信號傳輸?shù)臉屑~，其質(zhì)量與可靠性水平直接決定了整機(jī)設(shè)備的性能表現(xiàn)。然而，由于成本控制和技術(shù)限制，PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用過程中常常出現(xiàn)各種失效問題。為了確保PCB的質(zhì)量和可靠性，失效分析技術(shù)顯得尤為重要。外觀檢查外觀檢查是失效分析的第一步，通過目測或借助簡單儀器（如立體顯微鏡、金相顯微鏡或放大鏡）對PC

  pcb PCB 失效分析 電子信息

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• 發(fā)布了文章 2025-03-17 16:29

  聚焦歐盟RoHS：高風(fēng)險物料統(tǒng)計(jì)分析解讀

  

  金屬類物質(zhì)風(fēng)險剖析在電子電氣設(shè)備的生產(chǎn)制造中，金屬及其化合物的應(yīng)用極為廣泛。鉛及其化合物憑借其耐酸耐腐蝕、穩(wěn)定等特性，被大量用于焊料、鉛蓄電池、塑料橡膠、顏料、玻璃和化工等產(chǎn)品中，以提升產(chǎn)品性能并降低成本。然而，鉛的超標(biāo)風(fēng)險在歐盟RoHS指令管控的金屬中相對較高，主要集中在電子元器件、金屬、陶瓷、膏體和PCB等材料中。盡管歐盟RoHS指令豁免清單中包含許多鉛

  RoHS 電子元器件

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• 發(fā)布了文章 2025-03-17 16:27

  氬離子束拋光技術(shù)：鋰電池電極片微觀結(jié)構(gòu)

  

  氬離子拋光技術(shù)又稱CP截面拋光技術(shù)，是利用氬離子束對樣品進(jìn)行拋光，可以獲得表面平滑的樣品，而不會對樣品造成機(jī)械損害。去除損傷層，從而得到高質(zhì)量樣品，用于在SEM，光鏡或者掃描探針顯微鏡上進(jìn)行成像、EDS、EBSD、CL、EBIC或其它分析。同時，CP截面拋光儀制樣廣泛，可用于于各種材料樣品（除了液態(tài)）的制備，適應(yīng)大多數(shù)材料類型，對大面積、表面或輻照及能量敏感

  離子束 鋰電池

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• 發(fā)布了文章 2025-03-13 11:08

  一文帶你了解電氣安規(guī)測試

  

  電氣安規(guī)測試的重要性電氣安規(guī)測試是產(chǎn)品制造過程中不可或缺的環(huán)節(jié)。盡管它會占用一定的生產(chǎn)時間，但其意義遠(yuǎn)超過時間成本。通過電氣安規(guī)測試，可以有效降低產(chǎn)品因電氣危害導(dǎo)致召回的風(fēng)險。在當(dāng)今競爭激烈的市場環(huán)境中，產(chǎn)品質(zhì)量和安全性是企業(yè)商譽(yù)的核心。第一次就把產(chǎn)品做對，不僅能夠降低成本，還能維護(hù)企業(yè)的良好聲譽(yù)。電氣傷害的成因與危害電氣傷害是電流通過人體造成的直接傷害，其

  安規(guī)測試 電氣 電氣設(shè)備

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• 發(fā)布了文章 2025-03-12 13:47

  聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）的用途

  

  離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）是將聚焦離子束（FIB）技術(shù)與掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)有機(jī)結(jié)合的高端設(shè)備。什么是FIB-SEM？FIB-SEM系統(tǒng)通過聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）兩種互補(bǔ)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了材料的高精度成像與加工。FIB技術(shù)利用電透鏡將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束加速并聚焦，作用于樣品表面，可實(shí)現(xiàn)納米級的銑削、沉積、注入和成

  fib 電子顯微鏡 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-03-12 13:45

  電子電工產(chǎn)品防火性能檢測（針焰測試、灼熱絲試驗(yàn)、水平垂直燃燒試驗(yàn)）

  

  在電子電工產(chǎn)品進(jìn)入市場之前，確保其安全合規(guī)是至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。其中，防火性能作為保障產(chǎn)品安全的關(guān)鍵指標(biāo)之一，需要通過一系列嚴(yán)格的檢測來驗(yàn)證。灼熱絲試驗(yàn)、水平垂直燃燒試驗(yàn)和針焰試驗(yàn)是當(dāng)前廣泛應(yīng)用于電子電工產(chǎn)品防火性能檢測的三種重要方法。試驗(yàn)方法概述1.灼熱絲試驗(yàn)灼熱絲試驗(yàn)是一種模擬熱源或點(diǎn)火源引起的熱應(yīng)力的測試方法。試驗(yàn)中，將直徑為4mm的鎳鉻絲（U型灼熱絲頭）

  檢測 灼熱絲 電子電工

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• 發(fā)布了文章 2025-03-12 13:43

  等離子體光譜儀（ICP-OES）：原理與多領(lǐng)域應(yīng)用剖析

  

  等離子體光譜儀（ICP-OES）憑借其高靈敏度、高分辨率以及能夠同時測定多種元素的顯著特點(diǎn)，在眾多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。它以電感耦合等離子體（ICP）作為激發(fā)源，將樣品原子化、電離并激發(fā)至高能級，隨后通過分光系統(tǒng)對發(fā)射的光譜進(jìn)行分析，從而實(shí)現(xiàn)對樣品中元素的定性和定量分析。金鑒實(shí)驗(yàn)室擁有先進(jìn)的設(shè)備，能夠?yàn)榭蛻籼峁└哔|(zhì)量的元素分析服務(wù)，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性

  ICP 光譜儀 設(shè)備

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• 發(fā)布了文章 2025-03-11 17:25

  AEC-Q氦質(zhì)譜檢漏試驗(yàn)

  

  產(chǎn)品質(zhì)量與安全的關(guān)鍵步驟在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)和日常生活中，密封性檢測是一項(xiàng)至關(guān)重要的工藝，它確保了產(chǎn)品的性能、安全和可靠性。泄漏程度的量化泄漏程度可以通過單位時間內(nèi)單位體積容器內(nèi)壓強(qiáng)的變化來量化。例如，如果一個4升容積的自行車輪胎在30天內(nèi)從3bar的胎壓降到2bar，這表明泄漏非常嚴(yán)重。這種泄漏程度是可以通過常用的檢漏方法檢測出來的。一個簡單的檢測方法是將車胎放

  檢測設(shè)備 檢漏儀

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