動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2025-03-11 17:22
離子色譜技術(shù)及其在環(huán)境監(jiān)測(cè)中的應(yīng)用
離子色譜（IonChromatography，簡(jiǎn)稱IC）是一種基于離子交換原理的高效分析技術(shù)，廣泛應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測(cè)、食品安全、化學(xué)工業(yè)等領(lǐng)域。其核心優(yōu)勢(shì)在于能夠高靈敏度地檢測(cè)水溶性離子，同時(shí)具備穩(wěn)定性好、重現(xiàn)性高、精密度高等特點(diǎn)。在環(huán)境監(jiān)測(cè)中，離子色譜法尤其適用于大氣、水質(zhì)和土壤等復(fù)雜樣品的分析，是環(huán)境監(jiān)測(cè)的重要手段之一。離子色譜在大氣監(jiān)測(cè)中的應(yīng)用在大氣監(jiān)測(cè)中432瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-03-11 17:20
電子電器產(chǎn)品安全性與針焰試驗(yàn)的重要性
在當(dāng)今電子電器產(chǎn)品廣泛應(yīng)用的背景下，消費(fèi)者對(duì)其使用安全性愈發(fā)關(guān)注。電子設(shè)備的材料在電作用下可能面臨過(guò)熱應(yīng)力，一旦材料劣化，設(shè)備的安全性能將受到嚴(yán)重影響。針焰試驗(yàn)作為一種關(guān)鍵的阻燃性試驗(yàn)，能夠有效評(píng)估電子設(shè)備部件的著火危險(xiǎn)性，為產(chǎn)品的安全性提供科學(xué)依據(jù)。針焰試驗(yàn)通過(guò)模擬實(shí)際使用場(chǎng)景，檢驗(yàn)電子產(chǎn)品及材料在熱和火焰作用下的反應(yīng)特性，其結(jié)果是評(píng)估著火風(fēng)險(xiǎn)的重要要素。 -
發(fā)布了文章 2025-03-10 10:18
什么是灼熱絲試驗(yàn)測(cè)試
什么是灼熱絲測(cè)試？灼熱絲測(cè)試是一種評(píng)估電子電器產(chǎn)品在過(guò)熱情況下起火危險(xiǎn)性的重要實(shí)驗(yàn)。這種測(cè)試通過(guò)模擬電子設(shè)備在故障狀態(tài)下可能遇到的熱應(yīng)力，來(lái)預(yù)測(cè)材料的燃燒行為。本文將詳細(xì)介紹灼熱絲測(cè)試的樣品要求、試驗(yàn)方法以及結(jié)果評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)。灼熱絲測(cè)試的目的與設(shè)備灼熱絲測(cè)試的目的是為了確保電子電器產(chǎn)品在設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中考慮到了熱安全，防止因過(guò)熱引發(fā)火災(zāi)。測(cè)試設(shè)備包括一個(gè)固定規(guī)格 -
發(fā)布了文章 2025-03-10 10:17
氬離子拋光技術(shù)之高精度材料表面處理
氬離子拋光技術(shù)作為一種先進(jìn)的材料表面處理方法，該技術(shù)的核心原理是利用氬離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行精細(xì)拋光，通過(guò)精確控制離子束的能量、角度和作用時(shí)間，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的無(wú)損傷處理，從而獲得高質(zhì)量的表面效果，適用于多種微觀分析技術(shù)。怎樣利用氬離子拋光技術(shù)氬離子拋光技術(shù)利用氬離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行轟擊，氬離子與樣品表面原子發(fā)生彈性碰撞，使表面原子逐漸被移除。與傳統(tǒng)的機(jī)械拋光 -
發(fā)布了文章 2025-03-10 10:16
激光雷達(dá)技術(shù)：自動(dòng)駕駛的應(yīng)用與發(fā)展趨勢(shì)
隨著近些年科技不斷地創(chuàng)新，自動(dòng)駕駛技術(shù)正逐漸從概念走向現(xiàn)實(shí)，成為汽車行業(yè)的重要發(fā)展方向。在眾多傳感器技術(shù)中，激光雷達(dá)（LiDAR）因其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)，被認(rèn)為是實(shí)現(xiàn)高級(jí)自動(dòng)駕駛功能的關(guān)鍵。激光雷達(dá)技術(shù)激光雷達(dá)是一種通過(guò)發(fā)射激光束并接收反射光束來(lái)測(cè)量物體距離和速度的傳感器。它能夠生成周圍環(huán)境的精確三維地圖，為自動(dòng)駕駛車輛提供關(guān)鍵的感知信息。激光雷達(dá)的主要組成部分包括945瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-03-07 15:35
AEC-Q102：汽車電子分立光電半導(dǎo)體元器件的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
AEC-Q102是汽車電子領(lǐng)域針對(duì)分立光電半導(dǎo)體元器件的應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，由汽車電子委員會(huì)（AEC）制定。該標(biāo)準(zhǔn)于2017年3月首次發(fā)布，隨后在2020年4月更新為AEC-Q102REVA版本，成為目前車用光電半導(dǎo)體元器件進(jìn)入市場(chǎng)的核心標(biāo)準(zhǔn)。AEC-Q102的核心內(nèi)容AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)主要針對(duì)汽車內(nèi)外使用的分立光電半導(dǎo)體元器件，包括但不限于LED、激光器件、光 -
發(fā)布了文章 2025-03-07 15:34
集成電路可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目匯總
在現(xiàn)代電子產(chǎn)品的研發(fā)與生產(chǎn)過(guò)程中，可靠性測(cè)試是確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。可靠性測(cè)試可靠性（Reliability）是衡量產(chǎn)品耐久力的重要指標(biāo)，它反映了產(chǎn)品在規(guī)定條件下和規(guī)定時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定功能的能力。對(duì)于集成電路（IC）等電子元器件，其失效過(guò)程可以通過(guò)“浴缸曲線”（BathtubCurve）來(lái)形象地描述。該曲線將產(chǎn)品生命周期分為三個(gè)階段：1.早夭期（Inf505瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-03-07 15:33
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發(fā)布了文章 2025-03-06 17:21
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發(fā)布了文章 2025-03-06 17:20
驗(yàn)證產(chǎn)品抗沖擊性能之機(jī)械沖擊試驗(yàn)
什么是機(jī)械沖擊試驗(yàn)機(jī)械沖擊試驗(yàn)是一種模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸和存儲(chǔ)過(guò)程中可能遭受的沖擊環(huán)境的實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)方法。其核心在于通過(guò)模擬突發(fā)、急劇且非周期性的沖擊，評(píng)估產(chǎn)品在極端條件下的功能表現(xiàn)和性能失效情況。機(jī)械沖擊試驗(yàn)的主要目的機(jī)械沖擊試驗(yàn)是評(píng)估產(chǎn)品在沖擊環(huán)境下的物理性能，包括抗沖擊強(qiáng)度和結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性。通過(guò)試驗(yàn)，可以確定產(chǎn)品在運(yùn)輸和使用過(guò)程中遇到?jīng)_擊時(shí)的安全性和可靠
