動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-02-24 22:54

  導(dǎo)電陽(yáng)極絲（CAF）：原理、影響與應(yīng)對(duì)策略

  

  導(dǎo)電陽(yáng)極絲（ConductiveAnodicFilament，CAF）它主要發(fā)生在印刷電路板（PCB）中，是電化學(xué)遷移現(xiàn)象中的一個(gè)重要類別，由于玻纖與樹脂之間存在縫隙，在濕熱環(huán)境和電勢(shì)差的作用下，銅離子會(huì)沿著這些縫隙遷移并沉積，形成導(dǎo)電路徑。這種現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致相鄰導(dǎo)體之間的絕緣性能下降，甚至可能引發(fā)短路，從而對(duì)電子設(shè)備的可靠性造成嚴(yán)重影響。CAF的發(fā)生條件與影響

  CAF pcb PCB 印刷電路板 導(dǎo)電陽(yáng)極絲

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• 發(fā)布了文章 2025-02-21 14:54

  FIB聚焦離子束切片分析

  

  FIB（聚焦離子束）切片分析作為一種前沿的材料表征技術(shù)，憑借其高精度和多維度的分析能力，在材料科學(xué)、電子器件研究以及納米技術(shù)領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色。它通過離子束對(duì)材料表面進(jìn)行刻蝕，形成極薄的切片，從而為材料的結(jié)構(gòu)和成分分析提供了前所未有的細(xì)節(jié)和深度。FIB切片分析的基本原理FIB切片分析的核心在于利用高能離子束對(duì)材料表面進(jìn)行精確加工。離子束由離子槍發(fā)射，經(jīng)

  fib 切片 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-02-21 14:53

  光耦與AEC-Q102

  

  AEC-Q102認(rèn)證及其在汽車電子中的重要性AEC-Q102認(rèn)證是汽車行業(yè)中一項(xiàng)關(guān)鍵的質(zhì)量與可靠性標(biāo)準(zhǔn)，專門針對(duì)分立光電器件產(chǎn)品。這一認(rèn)證確保了汽車零部件在極端環(huán)境下的穩(wěn)定性和安全性，從而提升整車的性能和可靠性。圖1：AEC-Q102-RevA標(biāo)準(zhǔn)AEC-Q102認(rèn)證的背景AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)由汽車電子委員會(huì)（AutomotiveElectronicsCou

  AEC 光耦 汽車

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• 發(fā)布了文章 2025-02-21 14:51

  利用氬離子拋光技術(shù)還原LED支架鍍層的厚度

  

  氬離子拋光技術(shù)憑借其獨(dú)特的原理和顯著的優(yōu)勢(shì)，在精密樣品制備領(lǐng)域占據(jù)著重要地位。該技術(shù)以氬氣為介質(zhì)，在真空環(huán)境下，通過電離氬氣產(chǎn)生氬離子束，對(duì)樣品表面進(jìn)行精準(zhǔn)轟擊，實(shí)現(xiàn)物理蝕刻，從而去除表面損傷層和不平整部分，達(dá)到高度平滑的效果。氬離子拋光的優(yōu)勢(shì)氬離子拋光的核心原理是利用氬氣在真空環(huán)境下的電離特性。當(dāng)氬氣被引入真空腔體并施加高電壓時(shí)，氬原子被電離成氬離子，形成

  led 電場(chǎng) 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-02-21 14:50

  一文讀懂芯片可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目

  

  可靠性試驗(yàn)的定義與重要性可靠性試驗(yàn)是一種系統(tǒng)化的測(cè)試流程，通過模擬芯片在實(shí)際應(yīng)用中可能遇到的各種環(huán)境條件和工作狀態(tài)，對(duì)芯片的性能、穩(wěn)定性和壽命進(jìn)行全面評(píng)估。在芯片研發(fā)和生產(chǎn)過程中，可靠性試驗(yàn)不僅是驗(yàn)證產(chǎn)品性能的重要手段，更是提高產(chǎn)品可靠性和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。通過對(duì)芯片進(jìn)行嚴(yán)格的可靠性測(cè)試，可以提前發(fā)現(xiàn)潛在的故障模式和失效機(jī)制，從而為設(shè)計(jì)優(yōu)化和工藝改進(jìn)提供

  可靠性試驗(yàn) 測(cè)試 芯片

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• 發(fā)布了文章 2025-02-21 14:48

  透光率檢測(cè)技術(shù)及其影響因素分析

  

  光透過能力，即透光率，描述的是特定條件下，物體透過的光量與其接收的入射光量之間的比例。在光的傳播過程中，部分光線會(huì)被物體吸收，而另一部分則能夠穿透物體，這種透過現(xiàn)象被稱作透光率。金鑒實(shí)驗(yàn)室在這一領(lǐng)域擁有先進(jìn)的技術(shù)和設(shè)備，能夠?yàn)榭蛻籼峁┚珳?zhǔn)的透光率測(cè)量服務(wù)，確保測(cè)量結(jié)果的可靠性與科學(xué)性。1.透光率計(jì)法透光率計(jì)是目前實(shí)驗(yàn)室中常用的透光率檢測(cè)儀器。其原理是將待測(cè)材

  檢測(cè)儀器 測(cè)量

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• 發(fā)布了文章 2025-02-20 12:05

  聚焦離子束FIB在失效分析技術(shù)中的應(yīng)用-剖面制樣

  

  FIB技術(shù)：納米級(jí)加工與分析的利器在現(xiàn)代科技的微觀世界中，材料的精確加工和分析是推動(dòng)創(chuàng)新的關(guān)鍵。聚焦離子束（FIB）技術(shù)正是在這樣的需求下應(yīng)運(yùn)而生，它提供了一種在納米尺度上對(duì)材料進(jìn)行精細(xì)操作的能力，成為微電子和納米技術(shù)領(lǐng)域中不可或缺的工具。微米級(jí)缺陷樣品截面制備FIB技術(shù)的原理FIB技術(shù)的核心在于使用鎵（Ga）或銦（In）等材料作為離子源，通過靜電透鏡系統(tǒng)將

  fib 失效分析 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-02-20 12:05

  氬離子拋光儀技術(shù)在石油地質(zhì)的應(yīng)用

  

  解鎖石油勘探掃描電子顯微鏡（SEM）作為石油地質(zhì)領(lǐng)域不可或缺的研究利器，憑借其精準(zhǔn)的微觀觀測(cè)能力，對(duì)沉積巖中的有機(jī)質(zhì)、粘土礦物、鈣質(zhì)超微化石以及儲(chǔ)集巖等開展深入細(xì)致的研究，為石油地質(zhì)學(xué)的蓬勃發(fā)展提供了堅(jiān)實(shí)有力的技術(shù)支撐。SEM分析在這之前，樣品的制備是至關(guān)重要的一步。傳統(tǒng)的研磨和拋光方法雖然在一定程度上能夠滿足樣品表面處理的需求，但往往會(huì)對(duì)樣品表面造成不可逆

  SEM 顯微鏡

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• 發(fā)布了文章 2025-02-20 12:04

  光耦：光與電的聯(lián)系

  

  光電耦合器，通常稱為光耦，是一種在電子設(shè)計(jì)中用于實(shí)現(xiàn)電氣隔離的關(guān)鍵組件。它通過將發(fā)光元件（如發(fā)光二極管LED）與光敏元件（如光敏三極管）封裝在同一管體內(nèi)，利用光信號(hào)在兩者之間傳遞信息，從而完成電信號(hào)到光信號(hào)，再由光信號(hào)轉(zhuǎn)回電信號(hào)的過程。這種轉(zhuǎn)換不僅實(shí)現(xiàn)了信號(hào)的傳輸，還因?yàn)楣庑盘?hào)的介入，提供了電路間的電氣隔離，有效避免了信號(hào)干擾和地電位差問題，增強(qiáng)了系統(tǒng)的穩(wěn)定

  光電 光電耦合器 光耦

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• 發(fā)布了文章 2025-02-20 12:01

  詳解電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)

  

  可靠性試驗(yàn)是一種通過模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用過程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應(yīng)力因素，來(lái)評(píng)估電子產(chǎn)品在出廠到使用壽命結(jié)束期間質(zhì)量情況的科學(xué)方法。它能夠在短時(shí)間內(nèi)正確評(píng)估產(chǎn)品的可靠性，主要目的是激發(fā)潛在失效模式，從而為產(chǎn)品的改進(jìn)提供依據(jù)，并最終確定產(chǎn)品是否滿足預(yù)先制定的可靠性要求?？煽啃栽囼?yàn)的分類如下：按環(huán)境條件劃分模擬試驗(yàn)：通過人工模擬自然環(huán)境中的各種條件，如溫度、

  可靠性試驗(yàn) 模擬產(chǎn)品 電子產(chǎn)品

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