動態(tài)
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發(fā)布了文章 2025-07-11 09:59
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發(fā)布了文章 2025-07-10 09:39
晶圓切割振動監(jiān)測系統(tǒng)與進給參數(shù)的協(xié)同優(yōu)化模型
一、引言 晶圓切割是半導體制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié),切割過程中的振動會影響晶圓表面質(zhì)量與尺寸精度,而進給參數(shù)的設(shè)置對振動產(chǎn)生及切割效率有著重要影響。將振動監(jiān)測系統(tǒng)與進給參數(shù)協(xié)同優(yōu)化,能有效提升晶圓切割質(zhì)量。但目前二者常被獨立研究,難以實現(xiàn)最佳切割效果,構(gòu)建協(xié)同優(yōu)化模型迫在眉睫。 二、振動監(jiān)測系統(tǒng)與進給參數(shù)協(xié)同優(yōu)化的必要性 2.1 振動對進給參數(shù)的影響 晶圓切割時44瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-07-09 09:52
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發(fā)布了文章 2025-07-08 09:33
晶圓切割中振動 - 應力耦合效應對厚度均勻性的影響及抑制方法
一、引言 在半導體晶圓制造流程里,晶圓切割是決定芯片質(zhì)量與生產(chǎn)效率的重要工序。切割過程中,振動與應力的耦合效應顯著影響晶圓質(zhì)量,尤其對厚度均勻性干擾嚴重。深入剖析振動 - 應力耦合效應對晶圓厚度均勻性的影響機制,并提出有效抑制方法,是提升晶圓加工精度、推動半導體產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的關(guān)鍵所在。 二、振動 - 應力耦合效應對晶圓厚度均勻性的影響 2.1 振動引發(fā)98瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-07-07 09:43
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發(fā)布了文章 2025-07-03 09:47
碳化硅襯底切割自動對刀系統(tǒng)與進給參數(shù)的協(xié)同優(yōu)化模型
一、引言 碳化硅(SiC)襯底憑借優(yōu)異性能在半導體領(lǐng)域地位關(guān)鍵,其切割加工精度和效率影響產(chǎn)業(yè)發(fā)展。自動對刀系統(tǒng)決定切割起始位置準確性,進給參數(shù)控制切割過程穩(wěn)定性,二者協(xié)同優(yōu)化對提升碳化硅襯底切割質(zhì)量與效率意義重大。然而,當前研究多將二者獨立分析,難以滿足高精度切割需求,亟需構(gòu)建協(xié)同優(yōu)化模型。 二、自動對刀系統(tǒng)與進給參數(shù)協(xié)同優(yōu)化的挑戰(zhàn) 2.1 動態(tài)交互復雜 -
發(fā)布了文章 2025-07-02 09:49
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發(fā)布了文章 2025-07-01 09:55
修屏 4.0 時代:新啟航數(shù)字孿生技術(shù)如何實現(xiàn)激光修屏修復工藝遠程優(yōu)化?
一、修屏 4.0 時代的技術(shù)特征 修屏 4.0 時代以智能化、數(shù)字化、遠程化協(xié)同為核心特征。傳統(tǒng)修屏依賴人工經(jīng)驗與現(xiàn)場調(diào)試,而 4.0 時代通過數(shù)字孿生、物聯(lián)網(wǎng)、人工智能等技術(shù)融合,實現(xiàn)修復全流程的虛擬映射與動態(tài)優(yōu)化。新啟航數(shù)字孿生技術(shù)打破時空限制,構(gòu)建激光修屏 “物理設(shè)備 - 虛擬模型 - 數(shù)據(jù)交互” 閉環(huán),為遠程優(yōu)化修復工藝提供技術(shù)支撐。 二、新啟航數(shù) -
發(fā)布了文章 2025-06-30 09:59
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發(fā)布了文章 2025-06-28 09:48