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新啟航半導體有限公司

新啟航半導體有限公司錨定高端半導體激光加工、綜合 3D 光學測量解決方案兩大核心賽道。

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動態(tài)

  • 發(fā)布了文章 2025-07-11 09:59

    淺切多道切割工藝對晶圓 TTV 厚度均勻性的提升機制與參數(shù)優(yōu)化

    一、引言 在半導體制造領(lǐng)域,晶圓總厚度變化(TTV)是衡量晶圓質(zhì)量的關(guān)鍵指標之一,直接影響芯片制造的良品率與性能。傳統(tǒng)切割工藝在加工過程中,易因單次切割深度過大引發(fā)應力集中、振動等問題,導致晶圓 TTV 厚度均勻性欠佳。淺切多道切割工藝作為一種創(chuàng)新加工方式,為提升晶圓 TTV 厚度均勻性提供了新方向,深入探究其提升機制與參數(shù)優(yōu)化方法具有重要的現(xiàn)實意義。 二
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  • 發(fā)布了文章 2025-07-10 09:39

    晶圓切割振動監(jiān)測系統(tǒng)與進給參數(shù)的協(xié)同優(yōu)化模型

    一、引言 晶圓切割是半導體制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié),切割過程中的振動會影響晶圓表面質(zhì)量與尺寸精度,而進給參數(shù)的設(shè)置對振動產(chǎn)生及切割效率有著重要影響。將振動監(jiān)測系統(tǒng)與進給參數(shù)協(xié)同優(yōu)化,能有效提升晶圓切割質(zhì)量。但目前二者常被獨立研究,難以實現(xiàn)最佳切割效果,構(gòu)建協(xié)同優(yōu)化模型迫在眉睫。 二、振動監(jiān)測系統(tǒng)與進給參數(shù)協(xié)同優(yōu)化的必要性 2.1 振動對進給參數(shù)的影響 晶圓切割時
  • 發(fā)布了文章 2025-07-09 09:52

    超薄晶圓切割:振動控制與厚度均勻性保障

    超薄晶圓因其厚度極薄,在切割時對振動更為敏感,易影響厚度均勻性。我將從分析振動對超薄晶圓切割的影響出發(fā),探討針對性的振動控制技術(shù)和厚度均勻性保障策略。 超薄晶圓(
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  • 發(fā)布了文章 2025-07-08 09:33

    晶圓切割中振動 - 應力耦合效應對厚度均勻性的影響及抑制方法

    一、引言 在半導體晶圓制造流程里,晶圓切割是決定芯片質(zhì)量與生產(chǎn)效率的重要工序。切割過程中,振動與應力的耦合效應顯著影響晶圓質(zhì)量,尤其對厚度均勻性干擾嚴重。深入剖析振動 - 應力耦合效應對晶圓厚度均勻性的影響機制,并提出有效抑制方法,是提升晶圓加工精度、推動半導體產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的關(guān)鍵所在。 二、振動 - 應力耦合效應對晶圓厚度均勻性的影響 2.1 振動引發(fā)
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  • 發(fā)布了文章 2025-07-07 09:43

    基于多物理場耦合的晶圓切割振動控制與厚度均勻性提升

    一、引言 在半導體制造領(lǐng)域,晶圓切割是關(guān)鍵環(huán)節(jié),其質(zhì)量直接影響芯片性能與成品率。晶圓切割過程中,熱場、力場、流場等多物理場相互耦合,引發(fā)切割振動,嚴重影響晶圓厚度均勻性。探究多物理場耦合作用下的振動產(chǎn)生機制,提出有效的控制策略以提升厚度均勻性,對推動半導體產(chǎn)業(yè)發(fā)展意義深遠。 二、多物理場耦合對晶圓切割振動及厚度均勻性的影響 2.1 熱 - 力場耦合作用
    140瀏覽量
  • 發(fā)布了文章 2025-07-03 09:47

    碳化硅襯底切割自動對刀系統(tǒng)與進給參數(shù)的協(xié)同優(yōu)化模型

    一、引言 碳化硅(SiC)襯底憑借優(yōu)異性能在半導體領(lǐng)域地位關(guān)鍵,其切割加工精度和效率影響產(chǎn)業(yè)發(fā)展。自動對刀系統(tǒng)決定切割起始位置準確性,進給參數(shù)控制切割過程穩(wěn)定性,二者協(xié)同優(yōu)化對提升碳化硅襯底切割質(zhì)量與效率意義重大。然而,當前研究多將二者獨立分析,難以滿足高精度切割需求,亟需構(gòu)建協(xié)同優(yōu)化模型。 二、自動對刀系統(tǒng)與進給參數(shù)協(xié)同優(yōu)化的挑戰(zhàn) 2.1 動態(tài)交互復雜
    148瀏覽量
  • 發(fā)布了文章 2025-07-02 09:49

  • 發(fā)布了文章 2025-07-01 09:55

    修屏 4.0 時代:新啟航數(shù)字孿生技術(shù)如何實現(xiàn)激光修屏修復工藝遠程優(yōu)化?

    一、修屏 4.0 時代的技術(shù)特征 修屏 4.0 時代以智能化、數(shù)字化、遠程化協(xié)同為核心特征。傳統(tǒng)修屏依賴人工經(jīng)驗與現(xiàn)場調(diào)試,而 4.0 時代通過數(shù)字孿生、物聯(lián)網(wǎng)、人工智能等技術(shù)融合,實現(xiàn)修復全流程的虛擬映射與動態(tài)優(yōu)化。新啟航數(shù)字孿生技術(shù)打破時空限制,構(gòu)建激光修屏 “物理設(shè)備 - 虛擬模型 - 數(shù)據(jù)交互” 閉環(huán),為遠程優(yōu)化修復工藝提供技術(shù)支撐。 二、新啟航數(shù)
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  • 發(fā)布了文章 2025-06-30 09:59

    基于機器視覺的碳化硅襯底切割自動對刀系統(tǒng)設(shè)計與厚度均勻性控制

    一、引言 碳化硅(SiC)作為第三代半導體材料的代表,以其卓越的物理化學性能,在新能源汽車、軌道交通、5G 通信等關(guān)鍵領(lǐng)域展現(xiàn)出不可替代的作用。然而,SiC 材料硬度高、脆性大的特性,給其襯底切割加工帶來了極大挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)切割方法存在切割精度低、效率慢、厚度均勻性差等問題,嚴重制約了 SiC 器件的性能與生產(chǎn)規(guī)模。在此背景下,開發(fā)基于機器視覺的碳化硅襯底切割
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  • 發(fā)布了文章 2025-06-28 09:48

    柔性屏激光修屏禁區(qū)突破:新啟航如何實現(xiàn)曲面 OLED 面板的無損修復?

    一、引言 柔性 OLED 面板憑借其輕薄、可彎曲等特性,在智能終端、可穿戴設(shè)備等領(lǐng)域廣泛應用。然而,生產(chǎn)過程中面板易出現(xiàn)缺陷,傳統(tǒng)修復方法難以滿足曲面 OLED 面板的無損修復需求。新啟航半導體有限公司在激光修屏技術(shù)上取得突破,為曲面 OLED 面板修復提供了新路徑。 二、曲面 OLED 面板特性與修復難點 2.1 結(jié)構(gòu)與特性 曲面 OLED 面板主要
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