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恒溫恒濕環(huán)境試驗箱濕度上不去的原因和解決方法2024-11-15 11:04
恒溫恒濕環(huán)境試驗箱廣泛應(yīng)用于各種產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性測試，尤其是在電子、電器、汽車、材料和電池等領(lǐng)域的可靠性評估中。該設(shè)備通過精確控制溫度和濕度，模擬不同的環(huán)境條件，以檢驗產(chǎn)品在不同氣候環(huán)境下的穩(wěn)定性和耐久性。然而，在使用過程中，部分用戶可能會遇到濕度無法達到設(shè)定值的情況。濕度無法上升到預(yù)期值不僅影響測試效果，還可能影響實驗結(jié)果的可靠性。那么，如何解決這個問題呢 -
廣東貝爾 | 步入式環(huán)境試驗箱2024-11-15 09:27
步入式環(huán)境試驗箱是一種用于模擬各種環(huán)境條件下的高精度測試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天、材料科學(xué)等多個領(lǐng)域。它能夠提供高溫、低溫、濕度等環(huán)境因素的精確控制，模擬產(chǎn)品在不同工作環(huán)境下的性能表現(xiàn)，幫助企業(yè)進行產(chǎn)品的可靠性、耐久性測試，以及質(zhì)量控制。與傳統(tǒng)的小型環(huán)境試驗箱不同，步入式環(huán)境試驗箱設(shè)計上更注重大空間的模擬測試，允許操作人員或樣品更大范圍的進入或布 -
步入式恒溫恒濕室的使用方法和注意事項2024-11-15 09:24
步入式恒溫恒濕室是一種用于模擬不同環(huán)境條件下測試產(chǎn)品性能的設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子、汽車、化工、航空航天、材料研究等領(lǐng)域。其主要功能是提供穩(wěn)定的溫度和濕度環(huán)境，以評估不同產(chǎn)品在特定溫濕度條件下的可靠性和耐久性。隨著科技的不斷進步，步入式恒溫恒濕室被越來越多的企業(yè)和研究機構(gòu)用于產(chǎn)品測試、質(zhì)量控制和研發(fā)實驗。 然而，為了確保步入式恒溫恒濕室的有效使用，并獲得準(zhǔn) -
鹽霧測試：評估金屬材料耐腐蝕性能的重要手段2024-11-07 16:20
鹽霧測試是一種關(guān)鍵的環(huán)境測試方法，旨在通過模擬鹽霧環(huán)境來評估產(chǎn)品或金屬材料的耐腐蝕性能。依據(jù)GB/T 2423.17-2008/IEC 60068-2-11:1981標(biāo)準(zhǔn)，鹽霧試驗適用于比較相似結(jié)構(gòu)的試樣，以檢驗其抗鹽霧腐蝕的能力，以及評定涂層的保護性能和均勻性。 鹽霧測試的分類 鹽霧測試可分為兩大類： 1. 天然環(huán)境暴露試驗：將試樣置于自 -
高低溫測試的重要性與應(yīng)用2024-11-07 15:09
高低溫測試，亦稱為高低溫循環(huán)測試，是環(huán)境可靠性測試中的關(guān)鍵組成部分，其主要目的是評估在高溫和低溫條件下，裝備在存儲和工作期間的性能表現(xiàn)。隨著科技的進步，電子產(chǎn)品越來越多地進入到復(fù)雜和多變的環(huán)境中。因此，確保產(chǎn)品在各種氣候條件下的可靠性成為了設(shè)計和生產(chǎn)的重要環(huán)節(jié)。 在產(chǎn)品的生產(chǎn)、搬運和儲存過程中，產(chǎn)品常常暴露在各種不同的溫濕度、氣候條件以及外部環(huán)境的影響之 -
高低溫濕熱試驗箱中的冷媒特性2024-11-02 10:00
冷媒在高低溫濕熱試驗箱的制冷系統(tǒng)中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。它是冷凍空調(diào)系統(tǒng)中的工作流體，負(fù)責(zé)熱能的傳遞和冷凍效果的產(chǎn)生。目前，許多高低溫濕熱交變試驗箱采用R404A作為冷媒，因其具有顯著的優(yōu)點。 R404A的制冷優(yōu)勢 1. 制冷跨度大 高低溫交變濕熱試驗箱的標(biāo)準(zhǔn)溫度范圍一般為-70℃至150℃，適合大多數(shù)產(chǎn)品的溫度試驗。R404A的臨界溫度為 -
電容器溫度循環(huán)測試全解析：從方法到應(yīng)用2024-11-02 09:57
溫度循環(huán)測試是一種模擬電容器在實際應(yīng)用環(huán)境中經(jīng)歷的溫度變化過程的測試方法。這種測試通過將電容器反復(fù)暴露在高溫和低溫之間的循環(huán)變化中，評估其在不同溫度下的物理和電氣性能穩(wěn)定性。測試通常涉及一系列預(yù)設(shè)的溫度循環(huán)，以確保電容器能夠在其設(shè)計的工作環(huán)境中可靠運行。 2. 溫度循環(huán)測試的重要性 電容器在實際工作中會受到環(huán)境溫度變化的影響。溫度的波動可能導(dǎo)致電 -
電子產(chǎn)品高低溫測試：標(biāo)準(zhǔn)流程、設(shè)備要求與結(jié)果判定2024-11-02 09:54
高低溫測試的標(biāo)準(zhǔn)流程通常包括以下步驟： 1. 準(zhǔn)備階段： - 確保測試樣品處于斷電狀態(tài)。 - 將測試設(shè)備預(yù)熱至適當(dāng)?shù)某跏紶顟B(tài)，以便進行低溫測試。 2. 低溫測試： - 將樣品放入低溫箱，設(shè)定溫度至-50℃，并保持4小時。請務(wù)必在樣品斷電的狀態(tài)下進行，以避免因芯片自發(fā)熱影響測試結(jié)果。 - 低溫保持期間，定期監(jiān)測溫度，確保溫度均勻分布。 -
高溫老化試驗房的故障處理方案2024-10-26 16:11
