金鑒實(shí)驗(yàn)室文章

• 聚焦離子束顯微鏡（FIB-SEM）的應(yīng)用領(lǐng)域2025-04-01 18:00

  

  聚焦離子束顯微鏡（FIB-SEM）作為一種前沿的微觀分析與加工工具，將聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)深度融合，兼具高分辨率成像和精密微加工能力，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子工業(yè)、生命科學(xué)及納米技術(shù)等領(lǐng)域，成為現(xiàn)代科研與工業(yè)不可或缺的重要設(shè)備。FIB-SEM其獨(dú)特的雙束系統(tǒng)設(shè)計(jì)，使SEM能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控FIB操作，實(shí)現(xiàn)了高分辨率電子束成像與精細(xì)離子

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• 最新！歐盟 RoHS 與 REACH 法規(guī)解讀2025-03-31 13:56

  

  RoHS指令：電子電氣產(chǎn)品的綠色標(biāo)尺RoHS指令，全稱為《關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害成分的指令》，是歐盟為規(guī)范電子電氣產(chǎn)品而設(shè)立的重要環(huán)保法規(guī)。自2006年7月1日起，歐盟市場(chǎng)上的新電子電氣設(shè)備被明確禁止使用鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯（PBB）和多溴二苯醚（PBDE）等六種有害物質(zhì)。這些物質(zhì)在電子設(shè)備的生產(chǎn)過(guò)程中曾被廣泛使用，例如鉛用于鍍鉻、鉻酸

  REACH RoHS 電氣設(shè)備 767瀏覽量

• UL阻燃標(biāo)準(zhǔn)常見(jiàn)誤區(qū)2025-03-31 13:53

  

  UL阻燃標(biāo)準(zhǔn)的復(fù)雜性與誤解根源UL阻燃標(biāo)準(zhǔn)作為國(guó)際上廣泛使用的材料阻燃性能評(píng)估體系，其重要性不言而喻。然而，由于該標(biāo)準(zhǔn)源自美國(guó)，其專業(yè)術(shù)語(yǔ)和復(fù)雜的技術(shù)細(xì)節(jié)在翻譯和傳播過(guò)程中，容易引發(fā)理解上的偏差，每個(gè)廠家對(duì)“V0”級(jí)等關(guān)鍵指標(biāo)有著不同的定義和判定標(biāo)準(zhǔn)。這種混亂的局面，不僅給上游原材料供應(yīng)商和下游產(chǎn)品制造商帶來(lái)了極大的溝通成本和質(zhì)量把控難題，也使得整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈在

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• 焊接質(zhì)量檢測(cè)方法2025-03-28 12:19

  

  焊接作為一種關(guān)鍵的金屬連接工藝，其質(zhì)量直接決定了產(chǎn)品的整體性能和使用壽命。因此，準(zhǔn)確檢測(cè)焊接質(zhì)量對(duì)于保障產(chǎn)品安全性和可靠性至關(guān)重要。目視檢查目視檢查是焊接質(zhì)量檢測(cè)的第一步，也是最為直觀和簡(jiǎn)便的方法。通過(guò)肉眼觀察焊縫的外觀特征，可以初步判斷焊接工藝是否符合要求。拉伸試驗(yàn)拉伸試驗(yàn)是檢測(cè)焊接接頭力學(xué)性能的重要方法之一。通過(guò)將焊接試樣置于拉伸試驗(yàn)機(jī)中，對(duì)其施加拉力，

  焊接 質(zhì)量檢測(cè) 635瀏覽量

• FIB-SEM雙束系統(tǒng)：多領(lǐng)域應(yīng)用的前沿技術(shù)2025-03-28 12:14

  

  系統(tǒng)構(gòu)成與工作原理FIB-SEM雙束系統(tǒng)是一種集微區(qū)成像、加工、分析、操縱于一體的綜合型分析與表征設(shè)備。其基本構(gòu)成是將單束聚焦離子束系統(tǒng)與掃描電子顯微鏡（SEM）耦合而成。在常見(jiàn)的雙束設(shè)備中，電子束垂直安裝，離子束與電子束成一定夾角安裝，兩者的焦平面交點(diǎn)被稱為共心高度位置。當(dāng)樣品處于共心高度時(shí)，可同時(shí)實(shí)現(xiàn)電子束成像和離子束加工，并可通過(guò)樣品臺(tái)的傾轉(zhuǎn)使樣品表面

  fib SEM 電子束 375瀏覽量

• 一文了解材料耐候老化測(cè)試2025-03-27 10:29

  

  高分子材料老化現(xiàn)象高分子材料在其整個(gè)生命周期，包括合成、貯存、加工以及最終應(yīng)用階段，都面臨著變質(zhì)的風(fēng)險(xiǎn)，這種變質(zhì)表現(xiàn)為材料性能的惡化。具體而言，可能出現(xiàn)泛黃、相對(duì)分子質(zhì)量降低、制品表面龜裂、光澤喪失等問(wèn)題，更為嚴(yán)重的是力學(xué)性能的大幅下降，如沖擊強(qiáng)度、撓曲強(qiáng)度、拉伸強(qiáng)度和伸長(zhǎng)率等，從而影響制品的正常使用，這種現(xiàn)象被稱為塑料的化學(xué)老化，簡(jiǎn)稱老化。從化學(xué)角度來(lái)看，

  材料 老化測(cè)試 380瀏覽量

• LM-80測(cè)試：評(píng)估LED燈具的壽命與性能2025-03-27 10:26

  

  LM80測(cè)試簡(jiǎn)介L(zhǎng)M80測(cè)試是由北美照明工程協(xié)會(huì)（IESNA）與美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)（ANSI）聯(lián)合發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)，主要用于評(píng)估LED器件的流明維持率和顏色維持性能。這一標(biāo)準(zhǔn)為L(zhǎng)ED產(chǎn)品的壽命和性能評(píng)估提供了科學(xué)且統(tǒng)一的方法，被行業(yè)內(nèi)公認(rèn)為“黃金標(biāo)準(zhǔn)”。對(duì)于LED制造商而言，LM80測(cè)試是產(chǎn)品性能的重要證明，也是申請(qǐng)能效認(rèn)證（如能源之星、中國(guó)能效標(biāo)識(shí)）的關(guān)鍵環(huán)節(jié)

  LED燈具 LM80 測(cè)試 686瀏覽量

• 聚焦離子束技術(shù)：原理、特性與應(yīng)用2025-03-27 10:24

  

  聚焦離子束（Focused-Ion-Beam,FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的微納加工與分析手段。其基本原理是通過(guò)電場(chǎng)和磁場(chǎng)的作用，將離子束聚焦到亞微米甚至納米級(jí)別，并利用偏轉(zhuǎn)和加速系統(tǒng)控制離子束的掃描運(yùn)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)微納圖形的監(jiān)測(cè)分析以及微納結(jié)構(gòu)的無(wú)掩模加工。FIB系統(tǒng)基本組成FIB系統(tǒng)由多個(gè)關(guān)鍵部分組成，如圖1所示。離子源是系統(tǒng)的核心，通常采用液態(tài)金屬離子源，如鎵離子

  fib 離子束 622瀏覽量

• 紫外線對(duì)產(chǎn)品的影響及紫外老化試驗(yàn)的重要性2025-03-26 15:34

  

  紫外線對(duì)產(chǎn)品的危害紫外線，作為電磁波譜中紫光之外的不可見(jiàn)光，其對(duì)產(chǎn)品的破壞性不容忽視。在眾多外界因素中，紫外線是導(dǎo)致材料性能劣變的關(guān)鍵因素之一。材料或產(chǎn)品在加工、貯存或使用過(guò)程中，會(huì)受到熱、光、氧、機(jī)械應(yīng)力、臭氧、有害金屬離子、輻射等多種外界因素的影響，從而發(fā)生物理或化學(xué)變化，逐漸失去使用價(jià)值。而紫外線造成的損傷類型多種多樣，包括褪色、光澤消失、粉化、龜裂、

  UV 紫外 紫外線 578瀏覽量

• LED實(shí)用指南：常見(jiàn)導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試方法比較2025-03-26 15:32

  

  眾所周知，隨著溫度升高，電子器件可靠性和壽命將呈指數(shù)規(guī)律下降。對(duì)于LED產(chǎn)品和器件來(lái)說(shuō)，選用導(dǎo)熱系數(shù)盡可能小的原材料是改善產(chǎn)品散熱狀況、提高產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。目前，導(dǎo)熱系數(shù)的測(cè)試方法多種多樣，各有優(yōu)勢(shì)與局限性。本文將深入剖析兩種主流的測(cè)試方法——激光閃射法（瞬態(tài)法）與穩(wěn)態(tài)熱流法，并提供科學(xué)合理的優(yōu)選策略，以助于研究人員和工程師在實(shí)際工作中做出明智的選

  led 導(dǎo)熱系數(shù) 測(cè)試 333瀏覽量