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納米軟件(系統(tǒng)集成)

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天宇微納是一家面向全球客戶的智能測(cè)試及大數(shù)據(jù)分析管理的科技企業(yè),專注儀器智能測(cè)試軟件開發(fā)與數(shù)據(jù)分析

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電源電壓檢測(cè)芯片由什么組成?工作原理是什么?

電壓檢測(cè)芯片是一種常見的集成電路芯片,用來(lái)監(jiān)測(cè)電路中的電壓變化,防止電路受到過(guò)電壓和欠電壓的損壞。電....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-26 16:13 ?3015次閱讀

芯片電學(xué)測(cè)試是什么?都有哪些測(cè)試參數(shù)?

電學(xué)測(cè)試是芯片測(cè)試的一個(gè)重要環(huán)節(jié),用來(lái)描述和評(píng)估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學(xué)測(cè)試包括直流參....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-26 15:34 ?2510次閱讀

芯片電源電流測(cè)試方法是什么?有什么測(cè)試條件?

芯片電源電流測(cè)試是為了測(cè)試S.M.P.S.的輸入電流有效值INPUT CURRENT。電流測(cè)試是芯片....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-25 16:54 ?2334次閱讀
芯片電源電流測(cè)試方法是什么?有什么測(cè)試條件?

電源性能指標(biāo):額定電壓輸出電流怎么測(cè)試?

額定電壓和額定電流是電源設(shè)計(jì)生產(chǎn)時(shí)需要考慮的兩個(gè)重要參數(shù),額定電壓是電源輸出的電壓標(biāo)準(zhǔn),額定電流是電....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-25 16:18 ?2853次閱讀
電源性能指標(biāo):額定電壓輸出電流怎么測(cè)試?

電源高壓測(cè)試是什么?有哪些測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)?

ATECLOUD-POWER電源測(cè)試系統(tǒng)滿足電源常規(guī)測(cè)試指標(biāo),用電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源高壓,不僅可以提....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-24 16:34 ?5411次閱讀

電源效率有哪些測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)?如何進(jìn)行電源效率測(cè)試?

電源效率標(biāo)準(zhǔn)是衡量電源能量轉(zhuǎn)換率的指標(biāo),一般由政府和相關(guān)機(jī)構(gòu)制定,以此來(lái)規(guī)范市場(chǎng)上電源設(shè)備的能耗性能....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-24 15:55 ?2841次閱讀

電源模塊檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):開關(guān)電源的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和安全標(biāo)準(zhǔn)介紹

納米軟件開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)助力各項(xiàng)指標(biāo)自動(dòng)化測(cè)試,提高測(cè)試效能,解決用戶測(cè)試難點(diǎn)。該系統(tǒng)兼容多種儀器型....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-23 15:56 ?3980次閱讀
電源模塊檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):開關(guān)電源的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和安全標(biāo)準(zhǔn)介紹

電源模塊輸入緩慢變動(dòng)如何測(cè)試?具體方法是什么?

輸入緩慢變動(dòng)測(cè)試是電源模塊測(cè)試項(xiàng)目之一,其目的是為了驗(yàn)證當(dāng)輸入電壓偏低情形發(fā)生時(shí),待測(cè)品能夠自我保護(hù)....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-23 15:00 ?970次閱讀
電源模塊輸入緩慢變動(dòng)如何測(cè)試?具體方法是什么?

常規(guī)開關(guān)電源測(cè)試規(guī)范之負(fù)載調(diào)整率測(cè)試

負(fù)載調(diào)整率是用來(lái)描述在額定電壓下負(fù)載電流從0變化到最大時(shí),輸出電壓相應(yīng)的變化情況。它是衡量電源芯片好....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-20 15:32 ?1808次閱讀
常規(guī)開關(guān)電源測(cè)試規(guī)范之負(fù)載調(diào)整率測(cè)試

直流穩(wěn)壓電源如何調(diào)試?具體步驟是什么?

穩(wěn)定直流電是整個(gè)電路正常工作運(yùn)行的基礎(chǔ),以確保電子設(shè)備可以穩(wěn)定運(yùn)行以及滿足負(fù)載的要求。直流穩(wěn)壓電源可....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-20 14:57 ?2638次閱讀

快速檢測(cè)開關(guān)電源芯片好壞的方法 你知道哪些?

開關(guān)電源芯片是一種電源管理器件,可以將輸入電壓轉(zhuǎn)換為穩(wěn)定的輸出電壓。為了開關(guān)電源芯片可以正常穩(wěn)定運(yùn)行....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-19 16:15 ?4488次閱讀

如何計(jì)算電源芯片輸入電壓范圍?電源芯片輸入電壓測(cè)試規(guī)范是什么?

電源芯片測(cè)試貫穿著研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)過(guò)程的始終,目的就是為了通過(guò)反復(fù)檢測(cè)來(lái)確保電源芯片的性能、質(zhì)量和可....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-19 15:15 ?2181次閱讀
如何計(jì)算電源芯片輸入電壓范圍?電源芯片輸入電壓測(cè)試規(guī)范是什么?

開關(guān)電源短路如何測(cè)試?納米軟件ATECLOUD-POWER測(cè)試系統(tǒng)助力短路測(cè)試

短路保護(hù)測(cè)試是為了測(cè)試S.M.P.S.輸出端在開機(jī)前或在工作中短路時(shí),產(chǎn)品是否有保護(hù)功能。測(cè)試過(guò)程中....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-18 17:16 ?1591次閱讀
開關(guān)電源短路如何測(cè)試?納米軟件ATECLOUD-POWER測(cè)試系統(tǒng)助力短路測(cè)試

電源模塊耐壓測(cè)試的方法是什么?ATECLOUD-POWER測(cè)試系統(tǒng)助力絕緣耐壓測(cè)試

耐壓測(cè)試不僅可以檢驗(yàn)電源模塊、電器設(shè)備等承受過(guò)壓的能力,而且還可以檢測(cè)設(shè)備的絕緣性能。在電氣設(shè)備的使....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-18 15:50 ?1538次閱讀
電源模塊耐壓測(cè)試的方法是什么?ATECLOUD-POWER測(cè)試系統(tǒng)助力絕緣耐壓測(cè)試

如何測(cè)試負(fù)載調(diào)整率?電源模塊負(fù)載調(diào)整率的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)是什么?

負(fù)載調(diào)整率,即LOAD REGULATION,電源負(fù)載的變化會(huì)引起電源輸出的變化,負(fù)載增加,輸出降低....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-17 16:47 ?1641次閱讀
如何測(cè)試負(fù)載調(diào)整率?電源模塊負(fù)載調(diào)整率的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)是什么?

電源模塊測(cè)試用例之開關(guān)電源電壓調(diào)整率的測(cè)試方法

電壓調(diào)整率是指變壓器某個(gè)繞組的空載電壓和指定負(fù)載和功率因數(shù)下同一繞組的電壓之差和繞組的空載電壓的比值....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-17 15:58 ?1714次閱讀
電源模塊測(cè)試用例之開關(guān)電源電壓調(diào)整率的測(cè)試方法

如何用納米軟件半導(dǎo)體老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化?

芯片老化測(cè)試的目的是為了評(píng)估芯片長(zhǎng)期在各種環(huán)境下工作的壽命、性能及可靠性,以確保芯片及系統(tǒng)的工作穩(wěn)定....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-16 15:49 ?1186次閱讀
如何用納米軟件半導(dǎo)體老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化?

開關(guān)電源測(cè)試項(xiàng)目之浪涌電流測(cè)試方法

浪涌電流是指電源接通瞬間,流入電源設(shè)備的峰值電流。因?yàn)檩斎霝V波電容迅速充電,所以該峰值電流遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于穩(wěn)....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-16 15:07 ?6780次閱讀
開關(guān)電源測(cè)試項(xiàng)目之浪涌電流測(cè)試方法

車載mcu芯片需要測(cè)試哪些項(xiàng)目?元器件測(cè)試系統(tǒng)有什么測(cè)試優(yōu)勢(shì)?

隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,MCU芯片因其強(qiáng)大功能被廣泛應(yīng)用,尤其是成為汽車領(lǐng)域的核心電子元器件?,F(xiàn)如今車規(guī)....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-12 15:11 ?2472次閱讀
車載mcu芯片需要測(cè)試哪些項(xiàng)目?元器件測(cè)試系統(tǒng)有什么測(cè)試優(yōu)勢(shì)?

如何用開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源效率?

開關(guān)電源在實(shí)際工作中輸入與輸出轉(zhuǎn)換是有一定的能量損耗的,并不會(huì)完全無(wú)損耗轉(zhuǎn)換,電源效率就是用來(lái)衡量能....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-12 14:36 ?1227次閱讀
如何用開關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源效率?

電子元器件測(cè)試軟件助力可靠性測(cè)試,保證器件性能和質(zhì)量

電子元器件可靠性測(cè)試是保證元器件性能和質(zhì)量的一個(gè)重要測(cè)試項(xiàng)目,同時(shí)也是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)。常見的可....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-11 14:49 ?1222次閱讀
電子元器件測(cè)試軟件助力可靠性測(cè)試,保證器件性能和質(zhì)量

開關(guān)電源性能測(cè)試之過(guò)流保護(hù)測(cè)試方法

開關(guān)電源過(guò)流保護(hù)測(cè)試是為了測(cè)試S.M.P.S. 輸出電流過(guò)高時(shí)是否正常保護(hù), 保護(hù)點(diǎn)是否在規(guī)格要求內(nèi)....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-11 14:26 ?2623次閱讀

納米軟件半導(dǎo)體測(cè)試廠家助力半導(dǎo)體分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試

半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)是指在交流條件下對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試,是確保半導(dǎo)體性能、穩(wěn)定性和可靠性的重要依據(jù)。動(dòng)態(tài)測(cè)....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-10 15:23 ?833次閱讀
納米軟件半導(dǎo)體測(cè)試廠家助力半導(dǎo)體分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試

半導(dǎo)體靜態(tài)測(cè)試參數(shù)是什么?納米軟件半導(dǎo)體參數(shù)分析系統(tǒng)能否滿足測(cè)試指標(biāo)?

半導(dǎo)體靜態(tài)測(cè)試參數(shù)是指在直流條件下對(duì)其進(jìn)行測(cè)試,目的是為了判斷半導(dǎo)體分立器件在直流條件下的性能,主要....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-10 15:05 ?1492次閱讀

納米軟件電源模塊測(cè)試之啟動(dòng)延遲和上升/下降時(shí)間

電源模塊的啟動(dòng)延遲指從施加啟動(dòng)輸入電壓到輸出電壓達(dá)到電壓額定值時(shí)所需的時(shí)間,上升時(shí)間是指電源模塊從歸....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-09 15:50 ?1189次閱讀
納米軟件電源模塊測(cè)試之啟動(dòng)延遲和上升/下降時(shí)間

IGBT模塊測(cè)試:重要?jiǎng)討B(tài)測(cè)試參數(shù)介紹

IGBT是如今被廣泛應(yīng)用的一款新型復(fù)合電子器件,而IGBT測(cè)試也變的尤為重要,其中動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)是IG....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-09 15:14 ?2657次閱讀
IGBT模塊測(cè)試:重要?jiǎng)討B(tài)測(cè)試參數(shù)介紹

ESD抗干擾測(cè)試是什么?防止ESD的常見方法有哪些

ESD靜電放電在芯片實(shí)際使用過(guò)程中越來(lái)越影響到芯片的可靠性,是影響芯片質(zhì)量和性能的重要因素之一。因此....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-08 16:24 ?2268次閱讀

芯片靜態(tài)功耗是什么?如何產(chǎn)生?ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)如何測(cè)試?

在芯片的眾多測(cè)試項(xiàng)目中芯片的功耗測(cè)試可謂重中之重,因?yàn)樾酒墓牟粌H關(guān)系著芯片的整體工作性能也對(duì)芯片....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-08 15:30 ?1948次閱讀
芯片靜態(tài)功耗是什么?如何產(chǎn)生?ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)如何測(cè)試?

納米軟件電源模塊測(cè)試如何助力直流電源紋波測(cè)試?直流電源紋波有哪些危害?

直流電源紋波是直流電源輸出的電流或電壓中存在的交流成分。在實(shí)際應(yīng)用中紋波是不可避免的,它直接影響著電....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 10-07 15:29 ?783次閱讀
納米軟件電源模塊測(cè)試如何助力直流電源紋波測(cè)試?直流電源紋波有哪些危害?

芯片導(dǎo)通電阻是什么?如何用ATECLOUD-IC測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試?

導(dǎo)通電阻測(cè)試就是用來(lái)檢測(cè)導(dǎo)線或連線情況是否正常的一種方法,是指兩個(gè)導(dǎo)體間在一定電壓下通過(guò)的電流所引起....
的頭像 納米軟件(系統(tǒng)集成) 發(fā)表于 09-28 14:52 ?2688次閱讀
芯片導(dǎo)通電阻是什么?如何用ATECLOUD-IC測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試?