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電子發(fā)燒友網(wǎng)>今日頭條>IGBT器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試需要哪些儀器呢

IGBT器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試需要哪些儀器呢

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2023-10-10 15:23:38278

半導(dǎo)體靜態(tài)測(cè)試參數(shù)是什么?納米軟件半導(dǎo)體參數(shù)分析系統(tǒng)能否滿足測(cè)試指標(biāo)?

半導(dǎo)體靜態(tài)測(cè)試參數(shù)是指在直流條件下對(duì)其進(jìn)行測(cè)試,目的是為了判斷半導(dǎo)體分立器件在直流條件下的性能,主要是測(cè)試半導(dǎo)體器件在工作過(guò)程中的電流特性和電壓特性。ATECLOUD半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)采用軟硬件架構(gòu)為測(cè)試工程師提供整體解決方案,此系統(tǒng)可程控,可以實(shí)現(xiàn)隨時(shí)隨地測(cè)試,移動(dòng)端也可實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試數(shù)據(jù)情況。
2023-10-10 15:05:30415

IGBT模塊測(cè)試:重要?jiǎng)討B(tài)測(cè)試參數(shù)介紹

IGBT是如今被廣泛應(yīng)用的一款新型復(fù)合電子器件,而IGBT測(cè)試也變的尤為重要,其中動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)IGBT模塊測(cè)試一項(xiàng)重要內(nèi)容,IGBT動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)是評(píng)估IGBT模塊開(kāi)關(guān)性能的重要依據(jù)。其動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)主要有:主要參數(shù)有開(kāi)關(guān)參數(shù)、柵極電阻、柵極電荷、寄生電容等。
2023-10-09 15:14:35644

如何使用萬(wàn)用表測(cè)試 IGBT

通過(guò)目視檢查、測(cè)量電氣參數(shù)、評(píng)估柵極驅(qū)動(dòng)和開(kāi)關(guān)特性以及在應(yīng)力條件下進(jìn)行測(cè)試,可以識(shí)別潛在故障。然而,這種萬(wàn)用表測(cè)試只能提供有關(guān) IGBT 功能的有限信息。為了對(duì) IGBT 進(jìn)行更全面的評(píng)估,建議進(jìn)行柵極驅(qū)動(dòng)測(cè)試、開(kāi)關(guān)性能分析等額外測(cè)試
2023-10-09 14:20:02798

芯片靜態(tài)功耗是什么?如何產(chǎn)生?ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)如何測(cè)試?

軟件即可完成靜態(tài)功耗的測(cè)量,不同參數(shù)的配置與儀器操作完全由軟件完成,無(wú)需人工修改參數(shù)與讀取記錄數(shù)據(jù),可以一次對(duì)多個(gè)芯片進(jìn)行同時(shí)測(cè)量。
2023-10-08 15:30:25492

一個(gè)完整的開(kāi)關(guān)電源測(cè)試需要哪些步驟?

電源并不是一個(gè)簡(jiǎn)單的小盒子,它相當(dāng)于有源器件的心臟,源源不斷的向元器件提供能量。電源的好壞,直接影響到元器件的性能。電源的設(shè)計(jì)、制造及品質(zhì)管理等測(cè)試需要精密的電子儀器設(shè)備來(lái)模擬電源供應(yīng)器實(shí)際工作時(shí)之各項(xiàng)特性(即為各項(xiàng)規(guī)格),在驗(yàn)證通過(guò)后才能投入使用。
2023-10-08 12:00:44276

是德B1500A半導(dǎo)體器件參數(shù)分析儀維修電源損壞無(wú)法開(kāi)機(jī)

就是是德-B1500A維修情況 ? 是德半導(dǎo)體器件參數(shù)分析儀B1500A電源損壞無(wú)法開(kāi)機(jī)維修 一、半導(dǎo)體器件參數(shù)分析儀維修型號(hào):是德-B1500A。 二、報(bào)修故障:儀器內(nèi)部工作電源損壞,造成儀器無(wú)法開(kāi)機(jī)。 三、故障檢測(cè):儀器缺縮放旋鈕,進(jìn)入測(cè)試界面提
2023-09-28 16:33:50525

IGBT器件介紹 IGBT結(jié)構(gòu)與工作原理

IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)是絕緣柵雙極晶體管的簡(jiǎn)稱,其由雙極結(jié)型晶體管(BJT)和金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET)組成,是一種復(fù)合全控型電壓驅(qū)動(dòng)式開(kāi)關(guān)功率半導(dǎo)體器件,是實(shí)現(xiàn)電能轉(zhuǎn)換的核心器件,也是目前MOS-雙極型功率器件的主要發(fā)展方向之一。
2023-09-22 16:54:103335

高電壓大電流igbt靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)解決方案

IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),可提供IV、CV、跨導(dǎo)等豐富功能的綜合測(cè)試,具有高精度、寬測(cè)量范圍、模塊化設(shè)計(jì)、輕松升級(jí)擴(kuò)展等優(yōu)勢(shì),旨在全面滿足從基礎(chǔ)功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁帶半導(dǎo)體SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及模塊的靜態(tài)參數(shù)表征和測(cè)試需求。
2023-09-19 14:57:28499

示波器探頭在半導(dǎo)體器件動(dòng)態(tài)測(cè)量的應(yīng)用

在能源問(wèn)題日益突出的現(xiàn)代,以IGBT為代表的功率半 導(dǎo)體器件以其優(yōu)良的能效轉(zhuǎn)換性能廣發(fā)應(yīng)用于功率電子領(lǐng)域。正確的IGBT測(cè)試技術(shù),不僅能準(zhǔn)確的測(cè)量IGBT各項(xiàng)電氣指標(biāo),而且可以盡可能降低IGBT
2023-09-18 12:06:22320

IGBT器件柵極電壓波形振蕩的原因?

IGBT器件柵極電壓波形振蕩的原因?
2023-09-16 08:32:131710

IGBT動(dòng)態(tài)斬波雙脈沖測(cè)試實(shí)驗(yàn)及其注意事項(xiàng)

了性能各異的IGBT產(chǎn)品。為了優(yōu)化和驗(yàn)證組件性能以及對(duì)不同IGBT的性能驗(yàn)證,我們引入了雙脈沖測(cè)試方法,借此工具我們可以實(shí)現(xiàn)以下具體功能:
2023-09-15 10:09:32484

新能源汽車IGBT功率器件溫度測(cè)試方案

IGBT 屬于功率半導(dǎo)體器件, 在新能源汽車領(lǐng)域, IGBT 作為電子控制系統(tǒng)和直流充電樁的核心器件, 直接影響電動(dòng)汽車的動(dòng)力釋放速度, 車輛加速能力和高速度.
2023-09-14 15:17:04358

靜態(tài)測(cè)試和動(dòng)態(tài)測(cè)試的流程

靜態(tài)測(cè)試 1、測(cè)試整流電路 找下結(jié)果,可以判定電路已出現(xiàn)異常,A.到變頻器內(nèi)部直流電源的P端和N端,將萬(wàn)用表調(diào)到電阻X10檔,紅表棒接到P,黑表棒分別依到R、S、T,正常時(shí)有幾十歐的阻值,且基本平衡
2023-09-13 14:50:41301

芯片測(cè)試大講堂——半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試與避坑指南

芯片測(cè)試大講堂系列 又和大家見(jiàn)面了 本期我們來(lái)聊聊 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試 內(nèi)容涉及半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試原理, 參數(shù)測(cè)試面臨的挑戰(zhàn)與實(shí)測(cè)避坑指南。 前言 ● 半導(dǎo)體元器件是構(gòu)成現(xiàn)代電子設(shè)備和系統(tǒng)的基礎(chǔ),其性能
2023-09-13 07:45:021210

ChatGPT變聰明了嗎?如何計(jì)算IGBT器件的工作結(jié)溫Tvj

ChatGPT變聰明了嗎?如何計(jì)算IGBT器件的工作結(jié)溫Tvj
2023-09-09 08:16:11654

IGBT模塊機(jī)械構(gòu)造相關(guān)的電氣特性參數(shù)

端子連接到一起,接至高壓源高端,基板接至測(cè)試儀器低壓端。高阻抗高壓源必須提供需要的絕緣測(cè)試電壓Viso,將測(cè)試電壓逐漸提升至規(guī)定值,該值可由下式確定并保持規(guī)定的時(shí)間t,然后將電壓降為0。對(duì)于內(nèi)部帶有NTC的IGBT模塊,可通過(guò)在接地的NTC與其他連
2023-09-08 08:58:001893

功率器件igbt工藝流程圖解

功率器件IGBT是Insulated Gate Bipolar Transistor的縮寫(xiě)。當(dāng)然功率半導(dǎo)體元件除了IGBT之外,還有MOSFET、BIPOLAR等,這些都能用來(lái)作為半導(dǎo)體開(kāi)關(guān),今天單說(shuō)IGBT的工藝流程。
2023-09-07 09:55:521084

功率模塊IPM、IGBT及車用功率器件

功率半導(dǎo)體器件在現(xiàn)代電力控制和驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)中發(fā)揮著重要作用。IGBT模塊和IPM模塊是其中兩個(gè)最為常見(jiàn)的器件類型。它們都可以用于控制大功率負(fù)載和驅(qū)動(dòng)電機(jī)等應(yīng)用,但是它們的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和功能有所不同,那么
2023-09-04 16:10:494677

離子平衡測(cè)試儀器的構(gòu)成

在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)來(lái)確定正負(fù)離子的平衡狀態(tài),而電阻法則是通過(guò)測(cè)量離子在電阻層中的電流來(lái)判斷離子的平衡情況。 離子平衡測(cè)試儀器一般由以下幾個(gè)組成部分構(gòu)成: 1. 測(cè)試儀表:包括顯示屏、控制按鈕等,用于顯示和控制測(cè)試參數(shù)
2023-09-04 09:29:18425

igbt測(cè)量好壞方法萬(wàn)用表

師來(lái)說(shuō),了解如何檢測(cè)IGBT的質(zhì)量非常重要。而對(duì)于初學(xué)者來(lái)說(shuō),找到正確的測(cè)試方法可能是一項(xiàng)挑戰(zhàn)。本文旨在提供一份詳盡、詳實(shí)、細(xì)致的文章,介紹如何使用萬(wàn)用表來(lái)測(cè)試IGBT的質(zhì)量。 一、了解什么是IGBT 在深入了解如何測(cè)試IGBT之前,我們需要先了解什么是它。IGBT是一種功率半導(dǎo)體器件,可用于
2023-09-02 11:20:152222

手機(jī)側(cè)鍵手感測(cè)試儀的參數(shù)是什么

手機(jī)側(cè)鍵手感測(cè)試儀的參數(shù)是什么?|深圳市磐石測(cè)控儀器有限公司
2023-08-31 09:14:59777

虛擬儀器是如何優(yōu)化自動(dòng)化測(cè)試

在T/R組件測(cè)試中,測(cè)試設(shè)備的日趨復(fù)雜和技術(shù)的漸進(jìn)融合迫使測(cè)試系統(tǒng)需要變得更加靈活。一方面成本的壓力要求測(cè)試系統(tǒng)具有更長(zhǎng)的生命周期,另一方面測(cè)試系統(tǒng)仍須適應(yīng)被測(cè)件隨時(shí)間變化而帶來(lái)的各種變化,并且
2023-08-23 09:17:39987

IGBT模塊參數(shù)之NTC熱敏電阻

IGBT結(jié)溫是功率電子器件最重要的參數(shù)之一,器件在運(yùn)行中測(cè)量此溫度是非常困難的。一個(gè)方法是通過(guò)使用IGBT模塊內(nèi)部的NTC(熱敏電阻)近似估計(jì)芯片穩(wěn)定工作狀態(tài)的溫度,此方法不適用與測(cè)量快速變化的IGBT溫度。
2023-08-11 09:03:22751

p柱浮空的超結(jié)IGBT器件的設(shè)計(jì)案例

) 。采用深槽刻 蝕和回填工藝制備了 p 柱和 p 體區(qū)分離的超結(jié) IGBT 器件。測(cè)試結(jié)果表明,該器件擊穿電壓高于 660 V,在導(dǎo)通電流 20 A 時(shí),其飽和導(dǎo)通壓降為 1. 7 V,相比于傳統(tǒng)超結(jié) IGBT 器件更低,關(guān)斷 能量為 0. 23 mJ,遠(yuǎn)低于傳統(tǒng)超結(jié) IGBT 器件的 3. 3 m
2023-08-08 10:20:000

車用IGBT器件技術(shù)概述

車用IGBT器件技術(shù)概述
2023-08-08 10:00:312

為什么不用SiC來(lái)做IGBT?未來(lái)是否會(huì)大規(guī)模的使用SiC來(lái)做IGBT呢?

IGBT芯片是IGBT器件的主要部分,通常由硅制成。它由四個(gè)區(qū)域組成:N+型集電極、P型漏極、N型溝道和P+型柵極。
2023-08-08 09:45:12619

分立器件IGBT驅(qū)動(dòng)電源板中的應(yīng)用

IGBT驅(qū)動(dòng)電源板 中有著廣泛的應(yīng)用。 ? ? ? ?IGBT驅(qū)動(dòng)板是控制系統(tǒng)和開(kāi)關(guān)器件中的中間環(huán)節(jié),承擔(dān)著接受控制系統(tǒng)信號(hào)并傳輸信號(hào),確保IGBT執(zhí)行開(kāi)關(guān)、保護(hù)、和反饋器件工作狀態(tài)的重任。 ? ? ? ?通常,IGBT驅(qū)動(dòng)板由IGBT驅(qū)動(dòng)芯片、驅(qū)動(dòng)外圍電路、驅(qū)動(dòng)輔
2023-08-04 17:35:03609

igbt模塊參數(shù)怎么看 igbt的主要參數(shù)有哪些?

IGBT模塊動(dòng)態(tài)參數(shù)是評(píng)估IGBT模塊開(kāi)關(guān)性能如開(kāi)關(guān)頻率、開(kāi)關(guān)損耗、死區(qū)時(shí)間、驅(qū)動(dòng)功率等的重要依據(jù),本文重點(diǎn)討論以下動(dòng)態(tài)參數(shù):模塊內(nèi)部柵極電阻、外部柵極電阻、外部柵極電容、IGBT寄生電容參數(shù)、柵極充電電荷、IGBT開(kāi)關(guān)時(shí)間參數(shù),結(jié)合IGBT模塊靜態(tài)參數(shù)可全面評(píng)估IGBT芯片的性能。
2023-07-28 10:19:543290

芯片測(cè)試需要什么技能?

電路基礎(chǔ)知識(shí)。芯片測(cè)試涉及到電子電路的測(cè)量和分析,因此需要具備扎實(shí)的電路基礎(chǔ)知識(shí),包括電子元器件、電路分析方法等。
2023-07-23 10:02:34506

國(guó)產(chǎn)igbt模塊品牌

根據(jù)IGBT的產(chǎn)品分類來(lái)看,按照其封裝形式的不同,可分為IGBT分立器件、IPM模塊和IGBT模塊。
2023-07-22 16:09:301502

IGBT如何選型,在選擇IGBT時(shí)需要考慮的參數(shù)

而形成的器件。它具有低開(kāi)關(guān)損耗、高輸入阻抗、低噪聲和高速開(kāi)關(guān)等優(yōu)點(diǎn),因此在各個(gè)領(lǐng)域都得到廣泛應(yīng)用,如電力、軌道交通、電動(dòng)汽車等。本文將詳細(xì)介紹IGBT如何選型以及選型時(shí)要考慮的參數(shù)。
2023-07-20 16:39:514487

聯(lián)訊儀器 | CoC全自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)CT6201

工作條件下的輸出光功率,達(dá)到特定輸出光功率所需要的電流,斜線效率以及光譜特性等等。聯(lián)訊儀器CoC測(cè)試聯(lián)訊儀器全自動(dòng)CoC測(cè)試系統(tǒng)CT6201,與聯(lián)訊儀器BI6201老化
2023-07-20 00:00:00438

什么是靜態(tài)代碼分析?靜態(tài)代碼分析概述

靜態(tài)分析可幫助面臨壓力的開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)。高質(zhì)量的版本需要按時(shí)交付。需要滿足編碼和合規(guī)性標(biāo)準(zhǔn)。錯(cuò)誤不是一種選擇。 這就是開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)使用靜態(tài)分析工具/源代碼分析工具的原因。在這里,我們將討論靜態(tài)分析和使用靜態(tài)代碼分析器的好處,以及靜態(tài)分析的局限性。
2023-07-19 12:09:38845

VCSEL器件的常見(jiàn)參數(shù)有哪些?如何測(cè)試?

、激光顯示、光存儲(chǔ)、消費(fèi)電子等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。VCSEL生產(chǎn)過(guò)程中有三道檢測(cè)工序,這三道工序都需要脈沖電流源對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試??焖?、靈活且精度高的測(cè)試方案對(duì)于減小測(cè)試的成本至關(guān)重要。
2023-07-18 16:06:211726

提高功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試效率的7個(gè)方法

對(duì)功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試器件研發(fā)工程師、電源工程師工作中的重要一環(huán),測(cè)試結(jié)果用于驗(yàn)證、評(píng)價(jià)、對(duì)比功率器件的動(dòng)態(tài)特性。
2023-07-10 16:28:08343

常用音頻運(yùn)放靜態(tài)電流

常用音頻運(yùn)放最佳靜態(tài)電流,包括官方靜態(tài)電流與測(cè)試靜態(tài)電流,供功放電路設(shè)計(jì)參考
2023-06-25 09:26:081

PS-9305S-A5四軸五軸按鍵手感測(cè)試機(jī)的參數(shù)?|深圳磐石測(cè)控儀器

PS-9305S-A5四軸五軸按鍵手感測(cè)試機(jī)的參數(shù)?|深圳磐石測(cè)控儀器
2023-06-14 09:49:17292

SMT元器件焊接推拉力測(cè)試機(jī)選型指南:推拉力參數(shù)測(cè)試原理詳解

在一起。焊接的質(zhì)量和可靠性對(duì)于電子產(chǎn)品的性能和壽命至關(guān)重要。這個(gè)時(shí)候則需要進(jìn)行SMT元器件焊接的推力測(cè)試。 為了完成這一測(cè)試,我們需要使用SMT元器件焊接推拉力測(cè)試機(jī)。本文科準(zhǔn)測(cè)控小編將探討SMT元器件焊接推拉力測(cè)試機(jī)的原理、應(yīng)用和優(yōu)
2023-06-13 10:02:351357

IGBT耐壓測(cè)試的正確方法

IGBT
YS YYDS發(fā)布于 2023-06-06 22:24:59

器件選型需要注意什么?元器件選型有什么技巧?

: 在進(jìn)行元器件選型時(shí),首先需要了解電路的需求和性能要求,例如:電壓、電流、頻率、溫度等參數(shù)。 2. 研究市場(chǎng)情況: 在元器件市場(chǎng)非常發(fā)達(dá)的情況下,所以同一類型的元器件會(huì)有很多品牌、型號(hào)和價(jià)格。在進(jìn)行元器件選型時(shí),需要經(jīng)過(guò)充分
2023-06-03 16:44:492692

PS-2305-20N自動(dòng)化按鍵測(cè)試模組技術(shù)規(guī)格書(shū)的參數(shù)?|深圳磐石測(cè)控儀器

PS-2305-20N自動(dòng)化按鍵測(cè)試模組技術(shù)規(guī)格書(shū)的參數(shù)?|深圳磐石測(cè)控儀器
2023-05-30 10:53:02315

新品 | 聯(lián)訊儀器全新推出低泄漏電流開(kāi)關(guān)矩陣RM1010-LLC

在半導(dǎo)體元器件生產(chǎn)研發(fā)或者半導(dǎo)體晶圓封測(cè)過(guò)程中需要進(jìn)行電性能參數(shù)的表征,這些測(cè)量需要將精密源表(Source/MeasureUnit),LCR表(LCRMeter),數(shù)字萬(wàn)用表
2023-05-21 08:32:35404

IGBT管的工作原理與帶電測(cè)試

IGBT
YS YYDS發(fā)布于 2023-04-28 12:23:20

半導(dǎo)體IGBT功率器件封裝結(jié)構(gòu)熱設(shè)計(jì)探討

IGBT絕緣柵雙極型晶體管一簡(jiǎn)介IGBT(InsulatedGateBipolarTransistor),絕緣柵雙極型晶體管,是由(BipolarJunctionTransistor,BJT
2023-04-20 09:54:432099

?壓接型IGBT器件的封裝結(jié)構(gòu)及特性

絕緣柵雙極型晶體管(Insulated Gate Bipolar Transistor,IGBT)是一種復(fù)合全控型電壓驅(qū)動(dòng)式功率半導(dǎo)體器件,具有高輸入阻抗和低導(dǎo)通壓降的優(yōu)點(diǎn)。
2023-04-15 14:23:581287

一文詳解IGBT的過(guò)流和短路保護(hù)

 IGBT是高頻開(kāi)關(guān)器件,芯片內(nèi)部的電流密度大。當(dāng)發(fā)生過(guò)流或短路故障時(shí),器件中流過(guò)的大于額定值的電流時(shí),極易使器件管芯結(jié)溫升高,導(dǎo)致器件燒壞。今天我們就來(lái)聊聊IGBT的過(guò)流和短路保護(hù)。
2023-04-06 17:31:175478

電機(jī)驅(qū)動(dòng)器MCU拆解之IGBT分析

與驅(qū)動(dòng)板進(jìn)行連接,組合成為一個(gè)完整的整體。  在運(yùn)行過(guò)程中有開(kāi)損耗、關(guān)損耗等,會(huì)造成IGBT會(huì)發(fā)熱,溫度升高,影響性能,因此,需要散熱系統(tǒng)為IGBT模塊提供散熱,IGBT模塊配備用于冷卻液的針狀散熱翅片
2023-03-23 16:01:54

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