產(chǎn)品簡介
——
普密斯光譜對(duì)焦測厚系統(tǒng)，雙光譜相比單向測量精度更高，穩(wěn)定量測各類材質(zhì)，測頭結(jié)構(gòu)輕巧，易整合于各行業(yè)之自動(dòng)化測量應(yīng)用
產(chǎn)品優(yōu)勢
——
1、穩(wěn)定量測各類材質(zhì),例如金屬/陶瓷/鏡面/玻璃等；
2、適用于各種工件形貌（包含深孔/斜面/弧面）之特征尺寸量測，例如高度/段差/厚度/平面度/輪廓度等；
3、高溫高壓等嚴(yán)苛操作條件下亦能正常使用；
4、測頭結(jié)構(gòu)輕巧，易整合于各行業(yè)之自動(dòng)化測量應(yīng)用。
應(yīng)用領(lǐng)域
——
◆ 手機(jī)，平板，電腦等金屬機(jī)殼機(jī)加制造業(yè)
◆ PCB板，連接器，IC芯片等電子業(yè)
◆ 面板，玻璃，鋼化膜等行業(yè)
◆ 半導(dǎo)體晶圓，綠能，光伏等行業(yè)
