--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 溫度范圍 -70℃ ~ +150℃
- 溫度波動度 ≤±0.5℃
- 溫度均勻度 ≤±2℃
- 溫度偏差 ≤±2℃
- 壓力范圍 常壓 ~ 0.5 KPa
--- 產(chǎn)品詳情 ---
產(chǎn)品應(yīng)用:
本產(chǎn)品根據(jù)用戶需求,參照GB10590《低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件》、GB 10589《低溫試驗箱技術(shù)條件》、GB 11158《高溫試驗箱技術(shù)條件》制造。它主要為航天、航空、石油、化工、汽車、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位,提供溫度變化環(huán)境,模擬試品在溫度變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試,從而進行可靠性試驗和產(chǎn)品篩選。
設(shè)備可用于各種半導(dǎo)體芯片、汽車零部件、電機等的高溫試驗、低溫試驗,以及溫度-低氣壓試驗功能,確保產(chǎn)品在極端環(huán)境條件下的性能和安全性。
設(shè)備參數(shù):
工作室尺寸:1000 ×1000 × 1000 mm(深 × 寬 × 高)
外形尺寸(約):1520 × 1720 × 2280 mm(寬 × 深 × 高)
溫度范圍:-70℃ ~ +150℃
溫度波動度:≤±0.5℃
溫度均勻度:≤±2℃
溫度偏差:≤±2℃
升降溫速率:
- 升溫:+20℃ ~ +150℃ ≤ 60分鐘
- 降溫:+20℃ ~ -70℃ ≤ 90分鐘
壓力范圍:常壓 ~ 0.5 KPa
壓力變化率:≥ 15 KPa/分鐘
壓力偏差:
- 壓力 ≥ 40 KPa時:≤±2 KPa
- 壓力 2 KPa ~ 40 KPa時:≤±5%
- 壓力 ≤ 2 KPa時:≤±0.1 KPa
制冷方式:風(fēng)冷

產(chǎn)品優(yōu)勢:
1. 先進合理的試驗系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計:本產(chǎn)品制造工藝規(guī)范,外觀美觀、大方。
2. 高品質(zhì)的功能元器件:采用世界名牌配置(含金量高)、技術(shù)原理先進可靠,噪音與節(jié)能得到最佳控制——其性能可與國外同類產(chǎn)品媲美。
3. 高匹配性的零部件配套與組裝:主要功能元器件均采用國際先進水平的原裝進口件,提高了產(chǎn)品的安全性和可靠性,能保證用戶長時間、高頻率的使用要求。
4. 良好的操作性和維護性:設(shè)備具備良好的溫度穩(wěn)定性及持久性,具有優(yōu)良的安全性能,不污染環(huán)境,且對人身健康無危害。
測試方法:
1. GB/T 2423.1-2008 試驗A:低溫試驗方法
2. GB/T 2423.2-2008 試驗B:高溫試驗方法
3. GB/T 2423.21-2008 低氣壓試驗方法
4. GB/T 2423.22-2008 試驗Nb:溫度變化試驗
5. GB/T 2423.25-2008 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
6. GB/T 2423.26-2008 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
7. GJB 150.2A-2009 低氣壓(高度)試驗
8. GJB 150.3A-2009 高溫試驗
9. GJB 150.4A-2009 低溫試驗
10. GJB 150.6A-2009設(shè)備環(huán)境試驗方法-溫度-高度試驗
如需了解高低溫低氣壓試驗箱等環(huán)境試驗設(shè)備的相關(guān)參數(shù)、規(guī)格型號以及具體的設(shè)備方案書等信息,可以訪問“廣東貝爾”官網(wǎng)進行咨詢。
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