Agilent 4291B RF阻抗/材料分析儀為表面貼裝元件和介電/磁性材料的高精度測量提供總體解決方案。描述 射頻阻抗/材料分析儀是針對表面封裝元器件和介電/磁性材料的高精度測量的完整解決方案。與反射測量技術(shù)不同，使用直接的電流－電壓測量技術(shù)，可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測量結(jié)果。
射頻阻抗特點
基本精度:±0.8%
·先進的校準和誤差補償技術(shù)
·四種元件用的測試夾具(被測件尺寸:0.5mm~20mm)
·在兩上通道內(nèi)獨立選擇參數(shù)
·直接讀出介電常數(shù),導磁率
·兩種材料用的夾具(工作溫度范圍:-55℃~-200℃)
·能進行多種分析(溫度、科爾圖、弛豫時間)
·多種掃描參數(shù)(頻率、交流電平、直流偏置、溫度)
Agilent 4291B還提供自動電平精度控制和用IBASIC程序功能監(jiān)視測試信號；可在恒壓或恒流下測量器件。用可選的直流偏置(達40V和100mA)使測量偏置獨立于阻抗特性。只要按一個按鈕，內(nèi)裝的等效電路分析功能就自動計算5種電路模型的電路常數(shù)值。
Agilent 4291B有2個測量通道；每一個通道都可設置為測量1個(即Z)或2個(即Z-theta)阻抗參數(shù)。具有分割顯示的彩色TFT可顯示有效示蹤和存儲器示蹤(保存在RAM中)。內(nèi)部軟盤驅(qū)動器以LIF或MS-DOS格式保存程序和測試數(shù)據(jù)。有了內(nèi)裝IBASIC，您就能從Agilent 4291B直接控制恒溫箱或園片探測器這類外部測試設備，而不需要單獨的儀器控制器。
