精密低阻測(cè)量 
 在低電流電路中，機(jī)電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問(wèn)題。HP 4338B提供可選擇的低交流測(cè)試信號(hào)(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來(lái)表征機(jī)電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來(lái)確定繼電器、開(kāi)關(guān)、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測(cè)試中的微小差別。1kHz測(cè)試信號(hào)消除了由熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測(cè)試信號(hào)是檢查電池內(nèi)阻的最好方法，因?yàn)樗苊饬酥绷髂芰康南摹?/p>

 高速測(cè)量 
 高速(34ms)內(nèi)設(shè)比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動(dòng)處理器和外部計(jì)算機(jī)構(gòu)成一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)，使生產(chǎn)測(cè)試時(shí)間縮短到最低限度。

 自動(dòng)測(cè)量方式 
 在進(jìn)行大量連續(xù)的測(cè)試、而測(cè)試信號(hào)電平又不是很主要的因素時(shí)，自動(dòng)測(cè)量功能會(huì)使儀器選擇合適的測(cè)試信號(hào)并設(shè)定測(cè)量范圍。

技術(shù)指標(biāo)

 (全面的技術(shù)指標(biāo)請(qǐng)參閱技術(shù)資料)

測(cè)量功能 
測(cè)量參數(shù)：R(交流電阻)，X(電抗)，L(電感)，|Z|(阻抗)，θ(相位[°]) 
組合參數(shù)：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ(只適用于串聯(lián)模式) 
數(shù)學(xué)功能：偏差和相對(duì)偏差(以百分比表示) 
顯示數(shù)字：3.4或5位(可選擇) 
測(cè)試信號(hào)特性 
測(cè)試頻率：1kHz 
頻率精度：±0.1% 
測(cè)試信號(hào)電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms 
電平精度：±(10%＋0.2μA) 
樣品兩端的最大電壓：在任何情況下最大為20mV峰值 

我們的優(yōu)勢(shì)：
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