• 在一個(gè)盒式磁帶提供雙獨(dú)立來源
• 單模（SM）/多模（MM）輸出
• 內(nèi)部調(diào)制
• 與MAP-200符合LXI標(biāo)準(zhǔn)的接口和IVI驅(qū)動(dòng)程序使用時(shí)，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化

JDSU多應(yīng)用平臺(tái)（MAP-200）是一個(gè)光學(xué)測(cè)試和測(cè)量平臺(tái)，是光傳輸網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的研發(fā)和生產(chǎn)測(cè)試的工具。當(dāng)今瞬息萬變的光通訊產(chǎn)品市場(chǎng)，需要在能夠提高生產(chǎn)率的技術(shù)和工具上進(jìn)行投資，而即使在嚴(yán)格的環(huán)境下，MAP-200可擴(kuò)展測(cè)試平臺(tái)也是合適之選。

基于上一代多應(yīng)用平臺(tái)（MAP），新MAP-200的不同之處在于將更多的模塊組合放在了這個(gè)密集和ju有可配置性的平臺(tái)上。無論是對(duì)于研發(fā)實(shí)驗(yàn)室，還是產(chǎn)品生產(chǎn)線，MAP-200都是測(cè)試工具的you選擇，功能涵蓋從插入損耗測(cè)試到色散代價(jià)測(cè)試。

應(yīng)用

• 能夠?qū)饫w收發(fā)器和光纖收發(fā)組件進(jìn)行測(cè)試
• 允許全面的無源/有源器件，激光以及放大器測(cè)試
• 便于10G和40G系統(tǒng)和子系統(tǒng)測(cè)試