特性
· 4156C提供4個內(nèi)置的高分辨率的源/監(jiān)控單元（HPSMUs），兩個電壓源單元（VSUs）和兩個電壓監(jiān)控單元（VMUs）

· 1 fA 和0.2?UV的測試精度可滿足開發(fā)新工技術和評價材料

· 全Kelvin，每個HRSMU有激勵源、感應和接地端

· 完成準靜態(tài)的電容對電壓測試

· 自動提取處理參數(shù)而不需要人工操作屏幕光標

· 用極低泄漏的SMUs測量特有泄露特性

· 用集成的脈沖發(fā)生器和選擇開關自動完成器件表征

· 用內(nèi)置的應力模式完成晶片的可靠性測試

· 用圖形用戶界面完成“點擊”測試

· 基于Windows環(huán)境的圖形數(shù)據(jù)分析能力

· 旋鈕掃描功能可以快速檢驗探針是否接觸正常

· 待機模式不需要外部電源

· 觸發(fā)模式可以同步AC/DC測試。

· IBASIC 用戶功能可以繪圖和分析數(shù)據(jù)。

Agilent4156C精密半導體參數(shù)測試儀

Agilent4156C精密半導體參數(shù)測試儀是Agilent下一代的精密半導體參數(shù)測試儀，4156C為高級器件表征提供了高精
頂級參數(shù)分析的實驗室平臺。

較高的低電流、低電壓分辨率和內(nèi)置準靜態(tài)CV測量能力，4156C還為以后和其他的測量儀器的擴展使用提供了堅實基礎。
41501B擴展測量能力到1A/200V，并給Agilent4156C增加一個低的噪聲接地單元和雙脈沖發(fā)生器。