--- 產(chǎn)品詳情 ---
羅德與施瓦茨SMU200A信號(hào)發(fā)生器
針對(duì)TD-SCDMA。R&S分別推出了用于信號(hào)產(chǎn)生(K50、K51)和信號(hào)分析的(K76、K77)選件,下面簡(jiǎn)單介紹這兩個(gè)選件:
?。?)TD-SCDMA信號(hào)產(chǎn)生選件K50和K51
K50軟件是內(nèi)置在SMU200A或者SMJ100A儀表內(nèi)部的固件,用來(lái)產(chǎn)生TD-SCDMA射頻信號(hào),目前可以支持同時(shí)設(shè)置四個(gè)TD-SCDMA小區(qū)來(lái)模擬實(shí)際的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境。每個(gè)小區(qū)都可以設(shè)置擾碼、同步碼、下行導(dǎo)頻時(shí)隙的功率和上下行轉(zhuǎn)換點(diǎn)等參數(shù)。它還可以靈活設(shè)置每一個(gè)時(shí)隙內(nèi)信道的類型、信道的數(shù)據(jù)率、信道的擴(kuò)頻碼、Midamble偏移、每個(gè)信道的數(shù)據(jù)源格式等參數(shù)(見(jiàn)圖2)。設(shè)置完成后可預(yù)覽每個(gè)時(shí)隙內(nèi)的信道圖和碼域分布圖,以此來(lái)驗(yàn)證設(shè)置的正確性,防止碼域沖突。

SMU-K50中TD-SCDMA的各個(gè)時(shí)隙配置
K51軟件是用來(lái)產(chǎn)生具有TD-SCDMA信道編碼等擴(kuò)展功能的固件,它也是內(nèi)置在儀表內(nèi)部。從而可以模擬實(shí)際環(huán)境中的PCCPCH和DPCH信道,PCCPCH可以映射為具有信道編碼的BCH廣播信道,DPCH可以映射為從12.2kbit/s到2048kbit/s的各種具有信道編碼的參考測(cè)量信道,而且也可以在數(shù)據(jù)中插入比特和數(shù)據(jù)塊錯(cuò)誤,從而方便地進(jìn)行接收機(jī)和性能測(cè)試中的BER和BLER測(cè)試。而且K51也支持的HSDPA參考測(cè)量信道的信道編碼功能。
?。?)TD-SCDMA信號(hào)分析測(cè)試固件FS-K76與FS-K77
基站測(cè)試固件FS-K76和終端測(cè)試固件FS-K77是針對(duì)TD-SCDMA的測(cè)試解決方案。它們可以安裝在FSQ,F(xiàn)SU或者FSP儀器內(nèi)部,可通過(guò)GPIB和LAN接口進(jìn)行遠(yuǎn)程控制,而且測(cè)量速度極快,可以高達(dá)每秒五次。能自動(dòng)檢測(cè)信道數(shù)據(jù)率,選擇捕獲到的TD-SCDMA信號(hào)時(shí)隙數(shù)。圖3為FSQ中對(duì)TD-SCDMA信號(hào)的測(cè)量結(jié)果。

FSQ中對(duì)TD-SCDMA信號(hào)的測(cè)量結(jié)果
在儀器內(nèi)部安裝K76或K77后,我們就可以通過(guò)儀器面板上的快捷鍵測(cè)量出TD-SCDMA信號(hào)調(diào)制域的誤差矢量幅度EVM、頻率誤差和波形系數(shù)等調(diào)制精度參數(shù),頻域的鄰信道功率泄漏比ACLR、頻譜雜散模板、功率時(shí)間圖等指標(biāo),碼域的碼域功率、峰值碼域誤差等參數(shù)。操作非常方便,而且測(cè)量結(jié)果也更加快速準(zhǔn)確。

4、生產(chǎn)解決方案
R&S公司的TD-SCMDA生產(chǎn)方案,是綜合考慮了測(cè)試項(xiàng)目、測(cè)試速度、可靠性、數(shù)據(jù)*性和成本節(jié)約的解決方案,適合基站、移動(dòng)臺(tái)以及包括直放站在內(nèi)的一系列網(wǎng)絡(luò)設(shè)備在內(nèi)的測(cè)試需求。幫助客戶迅速地建立滿足要求的生產(chǎn)線。
TD-SCDMA無(wú)線設(shè)備大體分為兩個(gè)大類,一類是手持終端設(shè)備,一類是網(wǎng)絡(luò)端設(shè)備。不同的設(shè)備類型,需要不同的測(cè)試方案來(lái)解決。手持終端設(shè)備,產(chǎn)量大,測(cè)試條目繁雜,不但需要考慮射頻指標(biāo),還需要考慮終端不同的測(cè)試條件和組裝條件。對(duì)于測(cè)試的實(shí)現(xiàn)復(fù)雜度上要求很高。網(wǎng)絡(luò)端設(shè)備,相對(duì)而言技術(shù)指標(biāo)要求高而測(cè)試條件相對(duì)簡(jiǎn)單,不用考慮繁瑣的測(cè)試條件,但是需要測(cè)試儀表具有*的測(cè)試指標(biāo)和良好的數(shù)據(jù)可靠性。

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