--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 產(chǎn)地 美國
- 品牌 美國 Gel-Pak
- 型號 APV 系列
- 標(biāo)準(zhǔn)膠盒的尺寸 1" x 1" 到 7" x 5" 可選
--- 產(chǎn)品詳情 ---
價格貨期電議
Gel-Box? 芯片包裝盒 APV 系列
上海伯東美國 Gel-Pak 芯片包裝盒 Gel-Box? APV 系列與 AD 系列產(chǎn)品的外觀和功能相同, 但區(qū)別之一在于 APV 膠盒使用專利防靜電非硅聚氨酯彈性體制造, 而不是使用傳統(tǒng)的凝膠. 作為一種無格凝膠盒, 完全規(guī)避了芯片在運輸過程中撒料的風(fēng)險.
Gel-Box? 芯片包裝盒 APV 系列產(chǎn)品特點:
芯片包裝盒方便在運輸, 處理和加工的過程中固定器件
提供各種尺寸和配置的盒子
適用于手動操作的情況下, 芯片或器件用真空吸筆, 鑷子或手指放到盒子中, 拾取方式同樣也是用吸筆, 鑷子或者手指.
塑料鉸鏈盒
標(biāo)準(zhǔn)膠盒的尺寸從 1" x 1" 到 7" x 5" 可選
Gel-Box? 芯片包裝盒 APV 系列產(chǎn)品參數(shù):
材料特性 | 指標(biāo) |
彈性體 | 專利熱固性聚氨酯 |
表面粘性 | EH 02(低粘性) |
表面電阻 | < 109 ohms |
硬度 | 60-68 |
剪切模量(G) | 200kPa |
工作溫度 | +10 到 +35°C |
運輸 / 儲存溫度 | -10 至+75°C(請參閱注釋2) |
特點 | 防靜電, 非硅聚氨酯 |
1. 以上值僅供參考
2. 可以擴(kuò)展溫度范圍
APV 系列凝膠盒已經(jīng)廣泛應(yīng)用于國內(nèi)光學(xué)廠家, 滿足光學(xué)產(chǎn)品的包裝運輸要求, 與同類型膠盒比較, Gel-Pak APV 產(chǎn)品體
現(xiàn)了良好的膠黏性能和極低的殘留, 并且在保持潔凈度的前提下, 支持重復(fù)使用, 從而降低了企業(yè)使用成本.
美國 Gel-Pak 成立于1980年, 主要生產(chǎn)一系列專有的基于凝膠和彈性體的設(shè)備載體和薄膜, 為在操作過程中必須避免損壞的應(yīng)用提供解決方案. 獨特的彈性體技術(shù)是其 Gel-Box?, Gel-Tray?, Gel-Slide?, E-Film? 和獲得專利的 Vacuum Release (VR) 產(chǎn)品的基礎(chǔ). 這些產(chǎn)品可在運輸和過程中有效地固定器件. 美國 Gel-Pak 晶圓包裝盒廣泛應(yīng)用于儲存和運輸半導(dǎo)體精密器件, 光電器件和其他精密器件等. 上海伯東是美國 Gel-Pak 芯片包裝膠盒中國總代理.
若您需要進(jìn)一步的了解 Gel-Pak 詳細(xì)信息或討論, 請聯(lián)絡(luò)上海伯東葉女士
現(xiàn)部分品牌誠招合作代理商, 有意向者歡迎聯(lián)絡(luò)上海伯東 葉女士
上海伯東版權(quán)所有, 翻拷必究!
為你推薦
-
inTEST 芯片高低溫沖擊熱流儀2024-10-18 13:59
產(chǎn)品型號:ATS-535 產(chǎn)地:美國 溫度范圍:-60 至+ 225°C 特點:集成空壓機(jī) -
inTEST BT28 桌面型高低溫沖擊熱流儀2024-09-12 13:56
產(chǎn)品型號:inTEST BT28 溫度范圍:-28° 至 +225°C 溫度顯示和分辨率:+/- 0.1°C -
離子束刻蝕機(jī) 20 IBE-J2024-09-12 13:51
產(chǎn)品型號:20 IBE-J 特點:干法物理納米級刻蝕 射頻角度:可以任意調(diào)整 -
inTEST Sigma M256 高低溫試驗箱2023-12-01 10:58
產(chǎn)品型號:Sigma M256 產(chǎn)地:美國 腔室體積:255 L -
inTEST Sigma M170 高低溫試驗箱2023-12-01 10:55
產(chǎn)品型號:Sigma M170 產(chǎn)地:美國 溫度范圍:-185°C 至 400°C 腔室體積:165 L -
inTEST Sigma M58 高低溫試驗箱2023-12-01 10:19
產(chǎn)品型號:Sigma M58 產(chǎn)地:美國 寬溫度范圍:-185 °C 至 500°C 腔室體積:59 L -
inTEST Sigma M10 高低溫試驗箱2023-12-01 10:06
產(chǎn)品型號:Sigma M10 產(chǎn)地:美國 寬溫度范圍:-185°C 至 500°C 腔室體積:10 L -
inTEST Sigma 高低溫試驗箱, 溫度環(huán)境試驗箱2023-12-01 09:39
產(chǎn)品型號:Sigma 品牌:inTEST 產(chǎn)地:美國 溫度范圍:-185°至 +500°C -
普發(fā)分流式分子泵 SplitFlow2023-07-11 10:13
產(chǎn)品型號:SplitFlow 產(chǎn)地:德國 -
普發(fā)分子泵 HiPace 80 Neo2023-07-11 10:09
產(chǎn)品型號:HiPace 80 Neo 產(chǎn)地:德國
-
Gel-Pak VRP 可變黏度防靜電真空釋放盒2024-10-18 14:19
-
氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340W 鋰電池蓋帽(蓋板)檢漏系統(tǒng)2024-09-13 10:53
-
KRi 霍爾離子源 EH 2000 望遠(yuǎn)鏡鏡片光學(xué)鍍膜應(yīng)用2024-09-13 10:38
-
美國 inTEST 高低溫沖擊熱流儀助力半導(dǎo)體芯片研發(fā)2024-09-13 10:19
上海伯東代理美國 inTEST 高低溫沖擊熱流儀兼容各品牌半導(dǎo)體測試機(jī), 可正確評估與參數(shù)標(biāo)定芯片開發(fā), 器件或模塊研發(fā), 品質(zhì)檢查, 第三方認(rèn)證, 失效分析, FAE 等幾乎所有流程, 高低溫沖擊測試作為一種常見的測試手段, 適用于 IGBT, MOSFET, 三極管, 二極管等各類半導(dǎo)體特性測試.832瀏覽量 -
離子束刻蝕機(jī)物理量傳感器 MEMS 刻蝕應(yīng)用2024-09-12 13:31
-
氦質(zhì)譜檢漏儀應(yīng)用于半導(dǎo)體新材料和設(shè)備管道檢漏2023-11-09 15:31
-
氦質(zhì)譜檢漏儀應(yīng)用于真空鍍膜生產(chǎn)線2023-08-07 14:35
-
Gel-Pak VR真空釋放盒應(yīng)用于50V GaN HEMT 芯片2023-08-07 14:28
-
inTEST熱流儀邏輯芯片 FPGA高低溫沖擊測試2023-08-07 14:21
FPGA 芯片需要按照 JED22-A104 標(biāo)準(zhǔn)做溫度循環(huán) TC 測試, 讓其經(jīng)受極端高溫和低溫之間的快速轉(zhuǎn)換. 一般在?-55℃~150℃ 進(jìn)行測試, 傳統(tǒng)的環(huán)境箱因為升降溫速度受限, 無法滿足研發(fā)的快速循環(huán)測試需求. 上海伯東美國 inTEST 熱流儀 ATS-710E 變溫速率約 10 s, 實現(xiàn) FPGA 芯片極端高溫和低溫之間的快速轉(zhuǎn)換測1278瀏覽量 -
上海伯東分子泵應(yīng)用于 LED 芯片退火合金爐2023-08-07 14:14
-
Aston Impact 高靈敏度質(zhì)譜分析儀 CVD 清洗終點優(yōu)化2024-10-18 13:42
-
Aston 質(zhì)譜儀等離子體刻蝕過程及終點監(jiān)測2024-10-18 13:33
-
Aston 質(zhì)譜分析儀搭配 Scrubber 半導(dǎo)體尾氣處理設(shè)備進(jìn)行氣體檢測2024-10-18 13:24
-
鈮酸鋰 LiNbO3 薄膜 IBE 離子束刻蝕2024-09-13 10:59
-
美國 Gel-Pak 應(yīng)用于 VCSEL 芯片生產(chǎn)2024-09-13 10:28
-
美國進(jìn)口 KRi 考夫曼離子源 KDC 160 硅片刻蝕清潔案例2024-09-13 10:10
-
inTEST 熱流儀車載顯示器高低溫光學(xué)測量應(yīng)用2024-09-12 14:17
通過美國 inTEST ATS-545 熱流儀給車載顯示器升溫或降溫, 測量其在不同溫度下任意點的光學(xué)特性, 實現(xiàn)高低溫環(huán)境 -40 至 100℃ 下產(chǎn)品的亮度, 色度, 響應(yīng)時間和可視角度測試.295瀏覽量 -
HiCube 80 Eco 分子泵組搭配低溫阻抗測試儀應(yīng)用2023-12-08 14:29
-
SF6 密度繼電器氦質(zhì)譜檢漏法2023-12-08 14:21
-
新能源汽車 IGBT 功率器件高低溫沖擊測試2023-12-01 15:48