--- 產品詳情 ---
適用于數(shù)字 X 射線平板檢測器的 256 通道模擬前端 (AFE)
Number of input channels | 256 |
Resolution (Bits) | 16 |
Features | Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray |
Interface type | SPI/LVDS |
Operating temperature range (C) | 0 to 85 |
| |
Rating | Catalog |
- 256 通道
- 片上,16 位模數(shù)轉換器 (ADC)
- 光電二極管抗短路
- 高性能:
- 噪聲:750 個電子 RMS
(1.2pC 輸入電荷范圍) - 低相關噪聲
- 積分非線性:
內部 16 位模數(shù)轉換器 (ADC) 的 ±2 最低有效位 (LSB) - 掃描時間:
- < 20μs 至 204.8μs
- 噪聲:750 個電子 RMS
- 集成:
- 六個可選滿量程輸入范圍:
0.6pC(最小值)至 9.6pC(最大值) - 內部定時發(fā)生器 (TG)
- 內置相關雙采樣器
- 流水線式積分與讀取提高了吞吐量:允許在積分過程中讀取數(shù)據(jù)
- 串行低壓差分信令 (LVDS) 輸出
- 六個可選滿量程輸入范圍:
- 簡單電源方案:
- AVDD1 = 1.85V
- AVDD2 = 3.3V
- 低功耗
- 打盹模式和完全掉電模式
- 定制薄膜覆晶 (COF) 封裝
應用
- X 射線平板探測器
- 電荷探測器
- 電容測量
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AFE2256 是一款 256 通道模擬前端 (AFE),旨在滿足基于平板探測器 (FPD) 的數(shù)字 X 射線系統(tǒng)要求。該器件包含 256 個積分器、1 個選擇滿量程電荷量的可編程增益放大器 (PGA)、1 個帶有雙存儲區(qū)的相關雙采樣器 (CDS) 以及 256:4 模擬多路復用器。
此外,該器件還 具備 四個 16 位逐次逼近寄存器 (SAR) 模數(shù)轉換器 (ADC)。來自 ADC 的串行數(shù)據(jù)采用低壓差分信令 (LVDS) 格式。
打盹模式和掉電模式能夠大幅降低功耗,這在由電池供電的系統(tǒng)中特別有用。
如需完整數(shù)據(jù)表或其他設計資源,請點擊:請求獲取 AFE2256
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